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白色干渉計シリーズ一覧
非接触・非破壊で表面の微細な3D形状、および粗さを測定・解析することができる形状計測装置です。装置組込み用顕微鏡ヘッドモデル、テーブルトップモデル、大型ステージ付きモデルまで、用途に応じた幅広いラインナップを提供。
AFMプローブ HQシリーズ
位相イメージングは、異種材料や特性の不均一性を持つサンプルにおいて、ナノスケールの違いをイメージングするために用いられるAFM技術の一つです。位相コントラストは、チップとサンプル間の相互作用に基づきますが、これらの相互作用は、スキャンパラメーターや、イメージングの測定モード（原子間力の引力領域か斥力領域で捜査しているかなど）に依存します。O’DeaとBurratoは、位相イメージングを使用して、Nafion膜のプロトン伝導ドメインをマッピングしました。彼らは、先端とサンプルの間の特定の相互作用力がプロトン伝導ドメインの分解能に大きく影響することを発見しました。斥力レジームでのイメージングにより、ドメインの面積が大きめに表示され、ドメインの数が少なめに表示されました。引力領域でのイメージングにより、水やフルオロカーボンのドメインが最も正確に測定できました。AFMのフィードバックループが最適化されていない場合、またはカンチレバーが共振周波数を超えて駆動していた時、位相イメージングは組成の違いではなく、形状の変化に対応するイメージになりました。
高出力・高繰返し Qスイッチ半導体励起固体レーザー“CL210シリーズ”
レーザー加工に適した短パルスレーザー。3波長ラインナップ（1064, 532, 355 nm）。最高20W出力。繰返し周波数 1-100kHz。最小パルス幅 20ns
AFM（原子間力顕微鏡）取り扱い製品一覧
日本レーザーでは用途に応じて様々なAFM（原子間力顕微鏡）を取り揃えております。
装置組込み用白色干渉計・共焦点顕微鏡 S neox sensor
S neoxは多機能かつ高性能な機能をもつ組込み可能な3D測定センサです。共焦点・白色干渉計・焦点移動による3D表面形状測定加えて、膜厚測定ができ、幅広いアプリケーションに対応。自動3D測定が可能。
高精度 光波長計（CW専用／CW＆パルス両用）
高い波長分解能 (±0.0001 nm) で可視域から中赤外(MIR) 375 nm to 12 μm をカバーする671シリーズと、パルスとCWの両レーザー対応、高速（1kHz）, 高い測定確度 (±0.2 ppm)をもつ871シリーズがございます。Bristol Insturments社では信頼性の高い供給ラインの構築に努めており、ご注文から約3か月の安定した納期でお納めできます。
1.5μm ポンプレーザーモジュール“PUMP-1560”
発振波長1550-1570 nm からご指定, 平均出力パワー1 W / 1.5 W。ツリウムファイバレーザーのポンプ用 高安定性 CW レーザー光源に最適
オプトジェネティクス用多波長レーザー光源“LightHUB Optogenetics”
オプトジェネティクス（光遺伝学）用途に特化。473nm、561nm/594nmレーザーをワンパッケージ化。最大出力150mW＠561nm。変調機能付き。
2軸ガルバノスキャナ
レーザービームを2次元で偏向・集光するXY偏向ユニットです。小～中規模程度の加工エリアで、高速処理が必要なさまざまなアプリケーションに好適です。
スタンドアローン型OPOモジュール”Magic PRISM”
355 nm, 532nm, 420～1700nm, 繰り返し周波数 10, 20 Hz。様々なナノ秒Nd：YAGポンプレーザーと組み合わせ可能。OPOTEK社独自のコンパクトなスタンドアローン型OPOモジュール。
可視光-中赤外 CW用 レーザー･スペクトラム･アナライザ(LSA) “771シリーズ”
CWレーザー測定対応。波長精度 最高±0.0001nm。1台で波長測定＆スペクトル分析が可能。可視光(VIS)から中赤外(MIR)領域まで (375nm to 12μm) の波長域をカバー。マイケルソン干渉計ベース。パルスレーザー(>50kHz)の測定が可能。
高ピークパワー Qスイッチ半導体励起固体レーザー“CP600シリーズ”
高ピークパワー 750μJ @10kHz(1064nm)、300μJ @10kHz(532nm)。パルス幅 約4ns
レジスコープ “ResiscopeII”
AFM 超高感度電流増幅器
パワーセンサ、エネルギーセンサ
測定パワーμW～数十kW、エネルギーpJ～数十J、対応波長UV～IR、CW＆パルス等様々な光源に対応
ハイエンド リーズナブル価格 AFM Nano-Observer ナノオブザーバー
高いスキャナー性能を持つハイエンドAFMです。老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質ながらリーズナブルな価格に抑え、非常にコストパフォーマンスの高いAFMになっています。通常のAFMとしての機能のほか、電気特性測定（KFM、C-AFM)などに強みがあります。
MicroSense 8800 シリーズ 静電容量変位センサ
優れた温度特性と高分解能を実現。制御用途でのフィードバックセンサに最適。
MicroSense 4800 シリーズ 静電容量変位センサ
優れた直線性と温度特性。静的な変位測定のスタンダードモデル。
広帯域 波長可変レーザー 400-1000nm SuperK CHROMATUNE
SuperK CHROMATUNE は超広帯域な波長可変レーザーです。400-1000 nm もの広い波長域をギャップフリーでカバーし、1mW の光パワーを一定に出力します。寿命は数千時間で、信頼性の高い製品です。メンテナンスフリーで、アライメントや調整も不要です。
高エネルギー OPO 波長可変レーザー“RADIANTシリーズ”
オールインワンデザインの高エネルギー120mJ 波長チューニング出力システム。210～3450nm。繰り返し周波数10 or 20 Hz。パルス幅 5-7ns。
8インチ（200 mm）ウエハ対応 AFM-IR装置 Vista 200 PiFM / PiF-IR
8インチ（200mm）ウエハをそのままサンプルステージに乗せてAFM-IR測定を実施できる大型サンプル対応モデルです。8インチウエハだけでなく、152mmのフォトマスクサンプルにも対応します。高空間分解能のケミカルイメージングのほか、ナノスケールIR分光により、ナノ異物分析にも対応します。IRライブラリにも対応します。
LIBSシステム（超高速インライン向け）
完全インライン向けLIBSシステム。20kHzの超高繰返し測定（カスタムで100kHzまで可）
量子相関 蛍光測定用 ソフトウェア
量子相関と蛍光測定に特化したソフトウェアを提供。FLIM、FLIM-FRET、FCS、FCCS、FLCS、同時計測、蛍光タイムトレース分析等に対応しています。QuCoa、SymPhoTime 64 、EasyTau 2のすべてのデモ機ご用意しております。
プロセスフォトメータ（濃度・色モニタ）”DCP007″
インライン用の吸光光度計。プロセスの濃度・色測定に最適。
過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザイン。
パルスファイバレーザー “TruPulse”
高い柔軟性＆高速。種々のマーキングやパルス微細加工に最適なナノ秒パルスファイバレーザー
