Nano-Observer ナノオブザーバーAFM

CSInstruments

KFMや導電性AFMで非常に高いパフォーマンスを発揮するAFMです。環境制御に対応。高分解能原子間力顕微鏡

多種の測定モード・環境制御に優れた高性能の原子間力顕微鏡

 

  • HD-KFM 高精細ケルビンフォース顕微鏡等の特殊測定モード
  • 一般的なAFM測定モードを網羅
  • ダイナミックレンジ10桁の電流増幅器 ResiScope レジスコープ
  • サイドビューとトップビューカメラによる容易な位置決め
  • 簡単な操作性とソフトウェア
  • 三軸独立の高精度スキャナー<100µm
  • 温度制御と環境制御
  • TERS / SNOM等 光学アクセス仕様あり

 
Nano Observer (AFM; 原子間力顕微鏡)は、多用途・高性能AFMです。使いやすさを追求した汎用機なため、AFM初心者の方であっても、最先端のAFM測定技術を、まるで10年以上のAFM経験者のような素晴らしいデータを取得できるでしょう。
スキャナ一体型のAFMヘッドは、コンパクトで高分解能です。スキャナはフレクチャーステージを採用し、XYZ軸のクロストークがありません。特に、高性能ロックインアンプを搭載したコントローラーは、位相モード、ピエゾレスポンスモードで比類ないイメージング品質の向上をもたらします。
 

ユニークな機能

Nano Observerには特徴的な測定モードがございます。各機能については下記リンクから個別ページでご紹介しています。

  • HD-KFM(High Definition Kelvin Force Microscopy)
    従来のダブルパスKFMにくらべ、圧倒的な感度と高空間分解能で表面ポテンシャル像を取得する、CSI社だけのシングルパスKFM機能です。パラメータの設定が不要なオートチューニング仕様です。
  • ResiscopeⅡ(C-AFM用高性能アンプ)
    10桁を超えるダイナミックレンジを持つC-AFM(SSRM)用アンプです。1ピクセルごとに最適な測定レンジを選択し、幅広いレンジと高感度を維持しています。傷つきやすいサンプルを測定できるソフトレジスコープオプションもございます。
  • sMIM(走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡)
    PrimeNano社の走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡オプション、ScanWaveと組み合わせにより、電気特性測定AFMの機能の幅が大きく広がります。
  • AFMモード
    汎用AFMとして多彩な機能を備えております。高性能ロックインアンプにより様々な表面特性測定において高品質な像を取得できます。
  • AFM環境コントロール
    電気特性測定の品質向上を目的とした雰囲気制御や、液中測定、サンプルの加熱または冷却ステージに対応しています。

 

AFMの紹介

最高の測定データのためのデザイン

C36, オシレーションモード, 250nm

Nano Observer AFMは、フレクチャーステージにより、フラットスキャンを採用しています。従来のAFMで採用されているピエゾチューブスキャナについてまわる欠点の、湾曲効果(例えば、X-Yのクロストークなど)は一切ありません。特許取得のフレクチャーステージと、3軸の独立した低電圧ピエゾを駆動源としたステージを安定したプラットホームに搭載し、低ノイズレーザ・コントローラーと組み合わせることで、高分解能スキャンを実現しています。

測定品質

DNA, オシレーションモード, 800nm

エレクトロニクスの面では、アナログ・デジタル処理を最適化し、各信号のノイズ除去と高速フィードバックに貢献します。スキャナーは24ビットD/A変換制御で、高精度スキャンを実現しています。組み込みのロックインアンプはトポグラフィ、フェーズ(位相)、MFM(磁気力)/EFM(電気力)/KFM(ケルビンフォース)、およびPFM(ピエゾフォース)測定で、低ノイズ、高感度、高分解能イメージングを可能にします。

トップ&サイドビューカメラ チップ・サンプル観察用

付属のカラービデオカメラで、トップ・サイドビュー観察を行うことができます。トップビューは測定位置探し、サイドビューはチップサンプルアプローチに使用できます。

  • サンプル/チップの可視化
  • 使いやすい
  • サンプル/チップの衝突回避
  • カメラに装備された照明でコントラスト強化

高解像度カメラ (オプション)

High resolution video on 10μm grid

高解像度カメラも利用可能です。

直感的なソフトウェア

主要なパラメータのみ表示された、シンプルですっきりとしたインターフェースが特徴です。

  • AFMモード ワンクリックで選択
  • コントローラーのオート検出
  • プレ設定ありのソフトウェア(主要なパラメータはオート入力機能あり)
  • ステップバイステップでAFM測定の設定を進めることができ、人的ミスの防止や、時短に貢献します。
  • 物性・マテリアルサイエンス
  • ポリマー
  • 電気的特性
  • 半導体
  • ソフトサンプル
  • バイオロジー
モデル Nano-Observer AFM microscope
XY走査範囲 100 μm(製造寸法公差 ±10%)
Z走査範囲 9 μm(製造寸法公差 ±10%)
XY走査分解能 24ビット制御 0.006 nm
Z走査分解能 24ビット制御 0.0006 nm
Z軸ノイズレベル 0.05 nm (RMS)
6 DAC出力 24ビット 6チャンネル
8 ADC入力 16ビット 8チャンネル
データ点数 最大 4096 × 4096 点
ロックインアンプ 最大 6 MHz ※2ndロックイン 6 MHz (オプション) < 100 nm
インターフェース USB2.0 または 3.0
電源 AC 100-240 V 47-63 Hz
OS WindowsXP, 7, 8, 10

 

測定モード
標準モード
  • コンタクトモード
  • オシレーションモード
  • スペクトロスコピー
  • フォースモジュレーションモード
追加モジュール
  • 高感度電流増幅器
  • Resiscope
  • ソフト-Resiscope
  • SThM熱分析AFM
  • sMIM
特殊測定モード
  • 電気力顕微鏡
  • 磁気力顕微鏡
  • ケルビンフォース顕微鏡
  • ピエゾフォース顕微鏡
  • 導電性AFM
  • 走査トンネル顕微鏡
測定環境
  • 液中測定
  • 温度制御
  • 環境制御

光学アクセス仕様

Nano Observerのヘッド周りのアクセシビリティを向上させた光学アクセス仕様がございます。SNOMやTERSのAFM部として実績あり。詳しくはお問い合わせください。
光源についてもご相談ください。

 
量子カスケードレーザー(Daylight Solutions社)
スーパーコンティニューム白色光源(NKT Photonics社)
テラヘルツ分光・テラヘルツイメージング&OPOレーザー(HÜBNER社)

TOPに戻る