ハイエンド リーズナブル価格 AFM Nano-Observer ナノオブザーバー1

CSInstruments

高いスキャナー性能を持つハイエンドAFMです。老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質ながらリーズナブルな価格に抑え、非常にコストパフォーマンスの高いAFMになっています。通常のAFMとしての機能のほか、電気特性測定(KFM、C-AFM)などに強みがあります。

多種の測定モード・環境制御に優れた高性能の原子間力顕微鏡

 

  • HD-KFM 高精細ケルビンフォース顕微鏡(CSIだけのKFMモード)
  • 一般的なAFM測定モードを網羅
  • ダイナミックレンジ10桁の電流増幅器 ResiScope レジスコープ(CSI社だけの高感度C-AFM)
  • サイドビューとトップビューカメラによる容易な位置決め
  • 簡単な操作性とソフトウェア
  • 三軸独立の高精度スキャナー<100µm
  • 温度制御と環境制御
  • TERS / SNOM等 光学アクセス仕様あり
  • リーズナブル価格を実現した高コストパフォーマンスAFM

 

 
Nano Observer (AFM; 原子間力顕微鏡)は、多用途・高性能AFMです。使いやすさを追求した汎用機なため、AFM初心者の方であっても、最先端のAFM測定技術を、まるで10年以上のAFM経験者のような素晴らしいデータを取得できるでしょう。
スキャナ一体型のAFMヘッドは、コンパクトで高分解能です。スキャナはフレクチャーステージを採用し、XYZ軸のクロストークがありません。特に、高性能ロックインアンプを搭載したコントローラーは、位相モード、ピエゾレスポンスモードで比類ないイメージング品質の向上をもたらします。

ユニークな機能

Nano Observerには特徴的な測定モードがございます。各機能については下記リンクから個別ページでご紹介しています。

  • HD-KFM(High Definition Kelvin Force Microscopy)
    従来のダブルパスKFMにくらべ、圧倒的な感度と高空間分解能で表面ポテンシャル像を取得する、CSI社だけのシングルパスKFM機能です。分子分解能を達成しています。パラメータの設定が不要なオートチューニング仕様です。
  • ResiscopeⅡ(C-AFM用高性能アンプ)
    10桁を超えるダイナミックレンジを持つC-AFM(SSRM)用アンプです。1ピクセルごとに最適な測定レンジを選択し、幅広いレンジと高感度を維持しています。傷つきやすいサンプルを測定できるソフトレジスコープオプションもございます。
  • sMIM(走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡)
    PrimeNano社の走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡オプション、ScanWaveと組み合わせにより、電気特性測定AFMの機能の幅が大きく広がります。
  • AFMモード
    汎用AFMとして多彩な機能を備えております。高性能ロックインアンプにより様々な表面特性測定において高品質な像を取得できます。
  • AFM環境コントロール
    電気特性測定の品質向上を目的とした雰囲気制御や、液中測定、サンプルの加熱または冷却ステージに対応しています。

 

AFMの紹介

最高の測定データのためのデザイン

C36, オシレーションモード, 250nm

Nano Observer AFMは、フレクチャーステージにより、フラットスキャンを採用しています。従来のAFMで採用されているピエゾチューブスキャナについてまわる欠点の、湾曲効果(例えば、X-Yのクロストークなど)は一切ありません。特許取得のフレクチャーステージと、3軸の独立した低電圧ピエゾを駆動源としたステージを安定したプラットホームに搭載し、低ノイズレーザ・コントローラーと組み合わせることで、高分解能スキャンを実現しています。

測定品質

ナノオブザーバー測定品質
DNA, オシレーションモード, 800nm

エレクトロニクスの面では、アナログ・デジタル処理を最適化し、各信号のノイズ除去と高速フィードバックに貢献します。スキャナーは24ビットD/A変換制御で、高精度スキャンを実現しています。組み込みのロックインアンプはトポグラフィ、フェーズ(位相)、MFM(磁気力)/EFM(電気力)/KFM(ケルビンフォース)、およびPFM(ピエゾフォース)測定で、低ノイズ、高感度、高分解能イメージングを可能にします。

トップ&サイドビューカメラ チップ・サンプル観察用

nanoobserver sample picture

付属のカラービデオカメラで、トップ・サイドビュー観察を行うことができます。トップビューは測定位置探し、サイドビューはチップサンプルアプローチに使用できます。

  • サンプル/チップの可視化
  • 使いやすい
  • サンプル/チップの衝突回避
  • カメラに装備された照明でコントラスト強化

高解像度カメラ (オプション)

ナノオブザーバー オプション 高解像度カメラ
High resolution video on 10μm grid

高解像度カメラも利用可能です。

直感的なソフトウェア

主要なパラメータのみ表示された、シンプルですっきりとしたインターフェースが特徴です。

  • AFMモード ワンクリックで選択
  • コントローラーのオート検出
  • プレ設定ありのソフトウェア(主要なパラメータはオート入力機能あり)
  • ステップバイステップでAFM測定の設定を進めることができ、人的ミスの防止や、時短に貢献します。

光学アクセス仕様

Nano Observerのヘッド周りのアクセシビリティを向上させた光学アクセス仕様のヘッドがございます。これにより光学系との組み合わせが可能です。SNOM、TERSなどのAFM部として実績があります。詳しくはお問い合わせください。

 

実際の光学系組み合わせの採用例
SPring-8 – 赤外近接場分光装置 ※Spring-8サイトへリンクします
 

光源の一例

量子カスケードレーザー(Daylight Solutions社)
スーパーコンティニューム白色光源(NKT Photonics社)
テラヘルツ分光・テラヘルツイメージング&OPOレーザー(HÜBNER社)

  • 材料特性評価
  • 高分子科学
  • 電気特性評価
  • 半導体研究
  • ソフトサンプル分析
  • 生物学的研究

スキャナ仕様

  • XYスキャン範囲 100 μm × 100 μm (±10%)
  • Zレンジ 15 μm (±10%)
  • XY分解能 < 0.2 nm
  • Z分解能 < 0.1 nm

光学検出システム

  • レーザータイプ 低ノイズレーザーダイオード
  • 検出器 4象限フォトダイオード
  • レーザースポット径 < 50 μm

力の測定

  • 最小検出力 < 20 pN
  • 力の分解能 < 2 pN

画像モード

  • 接触モード
  • 横力顕微鏡 (LFM)
  • タッピングモード(振幅変調)
  • 位相イメージング
  • 非接触モード
  • HD-KFM II (高精細ケルビン力顕微鏡)
  • レジスコープII (抵抗マッピング)
  • 電界顕微鏡 (EFM)
  • 磁気力顕微鏡 (MFM)
  • 導電性AFM (C-AFM)
  • 力変調顕微鏡
  • ピエゾ応答力顕微鏡 (PFM)

電気測定

  • レジスコープ II レンジ 10²~10¹²オーム
  • 電圧範囲:±10 V(調整可能)

コントローラーとデータ収集

  • コントローラ分解能:24-bit
  • 内蔵ロックインアンプ 最大5MHz
  • 最大データポイント数 4096 × 4096
  • スキャン速度:最大8ライン/秒(256×256ピクセル時)

サンプルステージ

  • サンプルサイズ 最大直径40mm
  • サンプル重量 最大80 g
  • モーター駆動サンプルアプローチ 5 mmレンジ、2 μm分解能

環境制御(オプション)

  • 温度範囲:-40℃~300℃(オプションの加熱/冷却ステージ使用時)
  • 湿度制御: オプション、範囲はモジュールにより異なる
  • 液体セル:液体環境でのイメージングに使用可能

ソフトウェア

  • オペレーティングシステムの互換性: Windows 10
  • リアルタイムデータ処理と表示
  • 複数チャンネルのデータ収集
  • フォースカーブ解析ツール

アクセサリ

  • 各種モード用カンチレバーとプローブ
  • 液体セルホルダー
  • 温度制御モジュール(オプション)
  • 環境制御チャンバー(オプション)

注:仕様は変更されることがあります。最新情報、またはdC/dZ測定、PFM機能の強化、IV測定の高速化などの高度な機能については、Nano-Observer IIモデルについてお問い合わせいただくか、CSInstruments社に直接お問い合わせください。

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