単一光子レベルの分光と光子相関計測を簡単・高い時間分可能・高い検出効率で実行

レーザー駆動機能と温度コントロール機能を一つにした低ノイズ・高安定性QCLコントローラ

PER (偏光消光比) 範囲 50dB。ブロードバンド光源のPERを直接計測可能。1ch. or 2 ch.

高いチューナビリティ（繰り返し周波数、パルス幅、波長）と複数のオプションで非常に高い柔軟性。
1μm, 1.55μm, SHG, 波長可変可。平均出力 最大30W。パルス幅 30ps to ms。繰り返し周波数 5MHz to 1GHz。

高解像度、高分解能、高精度のサーマルイメージを得ることができる高性能サーモグラフィ

スキャン不要の時間相関単一光子計数用のカメラ。手軽に個々の光子の到着時間とXY位置を計測

テラヘルツ実験スタートに最適
高出力モデルTC1000の廉価版
出力0.1mＷ以上 at 3.2THz
窒素冷却

広いチューニングレンジ、高いパルスエネルギー、狭線幅のコンパクト・ナノ秒パルス・チタンサファイアレーザー。波長域690～1010 nm、最大出力パワー2.5 W or 6.8 W (モデル依存。ピーク波長)、線幅30～50 ns、繰返し周波数１～3 kHz または １～10 kHz。

コンパクト・高い安定性・高繰返し。３波長ラインナップ（1064, 532, 355 nm）。最高12W出力。繰返し 1-100kHz。最小パルス幅 20ns

最高精度を求めるアプリケーションに、サブナノメートル・レーザー干渉式変位センサをベースに、機能性と多様性を備えた最良のカスタマイズ・ソリューションを提供。

CW＆パルス対応の高分解能CCDタイプと低コスト＆広帯域のナイフエッジ式

光源の偏光度 (DOP) をリアルタイムに計測。特許の最大/最小サーチ技術により、低DOPも高DOPも正確に測定

ナノインデンテーション試験、マイクロインデンテーション試験、ナノスクラッチ試験、マイクロスクラッチ試験、ナノインパクト試験機能がそれぞれ独立したコンパクトな機械特性測定装置

完全インライン向けLIBSシステム
20kHzの超高繰返し測定（カスタムで100kHzまで可）

極低温環境対応の非磁性ピエゾ駆動ナノポジショナー

3Dから高アスぺクト比形状まで対応

ピコ秒及びフェムト秒の高速パルスの間引き用に開発

LED光源を用いたクラスAAAの長寿命ソーラーシミュレータ

入力された偏光のSOPの高速変動を安定化して出力。2ポートまたは3ポート。

境界層や壁面流、噴霧の可視化 / PIVに適した非コリーレント光特性のレーザーです。鏡面やメタルの反射が低く、金属面などの照明に最適です。
最大50 kHzの繰り返しが出来るパルス発振により、ハイスピードカメラの撮影コマ数に関係なく一定の明るさで撮影が可能です。

乾式測定における試料分散性能と測定再現性に優れており、凝集しやすい試料でも安定して測定できます。世界各国に多数の納入実績があり、製薬、化学、磁性体、食品などの様々な業界で採用されています。（測定範囲: 0.1～3500 µm）

1342nm 1.8W / 671nm 0.7W / 447nm 0.5W。6ps未満の短パルス幅。長寿命の産業向けシステム。繰返し周波数143 MHz。最大パルスエネルギー12 nJ。

あらゆる偏光状態(SOP)を生成・保持するSOP発生器と偏光分析器の兼用装置

バイオ、産業用途に最適なコンパクトなCW LDモジュール。紫外375nm～赤外1550nm。最大300mW出力。