測定装置 一覧

レーザー回折式 粒度分布測定装置 HELOS

Sympatec

乾式測定における試料分散性能と測定再現性に優れており、凝集しやすい試料でも安定して測定できます。世界各国に多数の納入実績があり、製薬、化学、磁性体、食品などの様々な業界で採用されています。(測定範囲: 0.1~3500 µm)

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PIV CWレーザー(流れの可視化レーザー)“DPSS Green Laser”

Oxford Lasers,日本レーザー

流れの可視化光源に適した非常にコンパクトな筐体のレーザー

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クリーンルーム対応 装置組込み用白色干渉計・共焦点顕微鏡 S neox Cleanroom sensor

SENSOFAR Metrology
[新商品]

クリーンルーム対応。高い柔軟性を持つ組込み3D測定センサ。さまざまなアプリケーションに適合します。ISO Class 1及びESDの規格に対応。

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超高出力LEDモジュール LEDMOD HP シリーズ

Omicron Laserage Laserprodukte

365nm~660nmの波長+白色のLEDモジュール。LEDチップのTEC温度制御による高い波長および出力安定性。マルチモードファイバーとリキッドライトガイドのカップリング対応可能。アナログ/デジタル変調最大500kH、スイッチング時間<2μs、プログマブルPWM周波数(最大200kHz)発生器を内蔵。SYNC出力。

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TCSPC(時間相関単一光子検出)と 時間タグ付け電子機器

PicoQuant

時間相関単一光子計数 (TCSPC)、一致相関、マルチチャネルでのスケーリング 、イベント・タイミング(ピコ秒~ミリ秒の時間分解能)用のモジュールです。シングルチャンネルおよびマルチチャンネル。USBまたはPCIeインターフェイスを装備。※HydraHarp 400 デモ機あり

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配管据え置き型 インライン濁度計 “TC007”

KEMTRAK

長寿命LEDを搭載した光散乱原理の濁度計。過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザインです。

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白色干渉計 高速・多機能モデル ”S neox”

SENSOFAR Metrology

S neox は、性能、機能、効率、デザインの全ての面で既存の光学3Dプロファイリング顕微鏡を凌駕する、クラス最高の面形状計測システムです。

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ファイバ・マルチチャンネル分光器

Yixi Intelligent Technology

超小型ファイバー分光器。手のひらサイズで低価格・高コストパフォーマンス。高性能、高感度の新シリーズ発売(YSM-8103シリーズ / YSM-8104シリーズ / YSM-8105シリーズ)

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広帯域 波長可変レーザー 400-1000nm SuperK CHROMATUNE

NKT Photonics

新製品先行紹介(発売時期等はお問い合わせください)
SuperK CHROMATUNE は超広帯域な波長可変レーザーです。400-1000 nm もの広い波長域をギャップフリーでカバーし、1mW の光パワーを一定に出力します。寿命は数千時間で、信頼性の高い製品です。メンテナンスフリーで、アライメントや調整も不要です。

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簡易・小型 原子間力顕微鏡 AFM “CrabiAFM”

OME Technology

CrabiAFMは、コンパクトで低価格な簡易原子間力顕微鏡(AFM)です。リサーチ用途、ナノ教育、またはすでにAFM経験をお持ちの方のサブ機として最適です。

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超高安定性・二次元分光干渉計 “GEMINI 2D”

NIREOS

イタリアのNIREOS社のGEMINI-2Dは、過渡吸収分光測定を最先端の2次元分光装置に変換します。
GEMINI 2Dはコンパクトで非常に安定的に使用できる干渉計であり、フェムト秒レーザーパルスの2つの同一線上で位相ロックされたレプリカを生成し、比類なき安定性と堅牢性を備えています。

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PXIプラットフォーム (コントローラ・通信用レーザー・パワーメータ・可変減衰器・コンバータ等)

Quantifi Photonics
[オススメ]

PXI(PCI Extensions for Instrumentation)に対応。通信用レーザー・パワーメータ・コンバータ・減衰器・光/電気コンバータ等を1つのプラットフォームに一体化することが可能です。高い拡張性から計測モジュールの交換が可能。用途に合わせて複数のレーザーやパワーメータなど組み合わせカスタマイズが出来ます。使い易いソフトウェアでプラットフォームの全ての機能にアクセス頂けます。

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動的画像式 粒度・形状分布測定装置 QICPIC

Sympatec

パルスレーザーによる高速撮像によって多数の粒子を測定するため、個々の粒子を測定しながらも、統計的に信頼性の高い解析が可能です。全ての粒子画像が生データとして保存されるため、形状も定量的に解析できます。乾式・湿式を問わず多様な試料に対応します。(測定範囲 0.55~34000µm)

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装置組込み用非接触面粗さ計 S onix sensor

SENSOFAR Metrology

S onixは高スループットな産業向け装置組込み用白色干渉計顕微鏡です。ハイスピードカメラと最適化された光学的・機械設計により、S onixは白色干渉計として最速のシステムとなっています。

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LIBSオンライン元素分析システム

SECOPTA

オンライン・インラインLIBS元素分析システム。製造ラインにおけるリアルタイム元素分析。代表的応用例は異材混入の防止(鉄鋼製造)PMI、製造プロセスにおけるオンライン元素モニター、ベルトコンベヤ上の各種原材料(石炭、鉱石、焼結体、塩、スラグなど)のオンライン分析等が可能です。

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産業用 サーモグラフィカメラ“ThermoView TV40”

Fluke Process Instruments

ファクトリ・オートメーション用途向け高性能サーマル・イメージング・システム。保護等級IP67 (NEMA 4)の堅牢なハウジング

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噴霧解析システム (画像解析式) “Envision Patternate”

Oxford Lasers

噴霧映像をから広がり角度や拡散パターンを解析

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蛍光寿命イメージング・相関解析ソフトウェア SymPhoTime 64

PicoQuant

強力な64ビットTTTRデータ取得と分析を行うソフトウェアです。時間分解共焦点顕微鏡MicroTime 200、MicroTime 200、LSMアップグレードキット、またはTCSPC機器でのデータ取得及び、分析のためのソリューションを提供。スクリプト言語「STUPSLANG」により、新しい分析手順を自由に追加、既存の分析手順をカスタマイズ可能。デモ機をご用意しております。

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顕微鏡用 高性能&高安定性 CWレーザー LaserNest シリーズ

Omicron Laserage Laserprodukte

高安定CW発振の高性能CWレーザーです。375nmと1550nmの間の30以上の異なる波長から選択可能。最大出力500mW。アナログ変調3MHz超。デジタル変調250MHz超。SM / PMファイバー、MMファイバー、リキッドライトガイドを使用したファイバーカップリング出力が可能。共焦点顕微鏡、広視野顕微鏡、ライトシート顕微鏡(SPIM)、オプトジェネティクスに好適。

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Nanoview 1000 AFM ローコスト 高イメージング品質

FSM Precision

従来のAFMの半分以下の低価格ながら、高いイメージング品質を発揮します。日本初上陸の高コストパフォーマンスAFMです。

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AFMコントローラー “Galaxy Dual”

CSInstruments
[オススメ]

24 bit AFMコントローラー。サポートの終了した Agilent Technology 製 AFM に対応します。シンプルに既存のコントローラーとの置き換えが可能。既存のAFMヘッドへプラグインの上、専用ソフトウェア使用して同様のAFM動作が行えます。

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ビットエラーテスター パルスパターン発生器 

Quantifi Photonics

高密度マルチチャンネルのパルスパターン発生器及びビットエラー検出器です。光トランシーバーや光学電子部品での設計、特性評価、製造用のテストで使用いただけます。

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画像解析式 粒度/速度分布 測定ソフトウエアー“VisiSizer SOLO”

Oxford Lasers

実際の粒子映像を使用して、粒子サイズや速度とその分布を正確に自動測定

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MicroSense 8800 シリーズ 静電容量変位センサ

MicroSense

優れた温度特性と高分解能を実現。制御用途でのフィードバックセンサに最適。

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