測定装置 一覧

動的光散乱法 粒度分布測定装置 NANOPHOX

Sympatec

一般的な動的光散乱法とは異なり、光源とセンサを2つずつ用いる「クロスコリレーション法」を採用しています。そのため、高濃度な試料でも多重散乱の影響を排除した正確な測定が可能です。(測定範囲 0.5 nm~10 μm)

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テラヘルツ分光解析装置“T-COGNITION”

HÜBNER

テラヘルツ分光により、封書や小包の中に隠された有害物質を正確に、わずか数秒以内で同定

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配管据え置き型 インライン濁度計 “TC007”

KEMTRAK

長寿命LEDを搭載した光散乱原理の濁度計
過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザイン

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MicroSense 5800 シリーズ 静電容量変位センサ

MicroSense

高分解能・高速応答
動的変位測定のスタンダードモデル

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蛍光式光ファイバ温度計 Photon Control

Photon Control

高い精度と信頼性、素早いカスタム・プロトタイプ対応で半導体/OLED製造装置の温度計測に貢献します。電磁波による影響を受けずに幅広い温度範囲で計測が可能です。

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ユーザー様限定オンラインセミナー(レーザー回折式粒度分布測定装置 HELOS)

Sympatec社製 レーザー回折式粒度分布測定装置 HELOSを効果的にご使用いただくため、日本レーザーではユーザー様向けのセミナーを定期的に開催しております。
初心者から熟練者まで、さらに測定結果を評価する方などの、基礎知識・操作方法の習得・復習の機会としてご活用ください。

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ハイスループット・マルチチャンネル TCSPC装置 “MultiHarp 150”

PicoQuant

4ch. または 8ch. 独立のマルチ入力チャンネル。共通Syncチャンネル (最高1.2GHz)。比類のない短いデッドタイム(650 ps /1ch.)で最高のスループットを実現。

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ガス・溶液 赤外分析ユニット ChemDetect

DRS Daylight Solutions

中赤外量子カスケードレーザー(QCL)を用いて化学物質を分析・同定する小型の高性能スペクトロメータ。高速、広帯域波長、高度な非冷却検出機能、高い化学同定機能。

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超高安定性 干渉計 “GEMINI”

NIREOS
[新商品]

GEMINIは、入力光を2つのレプリカ間の時間遅延を制御することにより、比類のない精度と再現性を提供する究極の干渉計です。
FTIR分光計と同様に、同梱のドライバーおよびソフトウェアと組み合わせて使用して、フーリエ変換アプローチに基づいて入力光(コヒーレントまたはインコヒーレント光源)のスペクトルを測定できます。

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AT1 ガラス基板欠陥検査装置

Lumina Instruments
[新商品]

Lumina Instruments社のAT1は、他に類を見ない水準の、高速・高感度レーザスキャニング欠陥検査装置です。

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OEMセンサ・ソリューション

attocube systems

最高精度を求めるアプリケーションに、サブナノメートル・レーザー干渉式変位センサをベースに、機能性と多様性を備えた最良のカスタマイズ・ソリューションを提供。

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PIV CWレーザー(流れの可視化レーザー)“DPSS Green and Red Laser”

Oxford Lasers,日本レーザー

流れの可視化光源に適した非常にコンパクトな筐体のレーザー

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スタンドアローン TCSPCモジュール“PicoHarp300”

PicoQuant

最大2チャンネルのデスクトップ型モジュール。
電気的分解能 <12ps rms。
測定時間幅 260ns~33μs。
カウントレート 最大12.5M count/s。

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Nanoview 1000 AFM

FSM Precision
[新商品]

従来のAFMの半分以下の低価格ながら、高いイメージング品質を発揮します。日本初上陸の高コストパフォーマンスAFMです。

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画像解析式 粒度/速度分布 測定ソフトウエアー“VisiSizer SOLO”

Oxford Lasers

実際の粒子映像を使用して、粒子サイズや速度とその分布を正確に自動測定

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組込型放射温度計“Thermalert 4.0”

Fluke Process Instruments

堅牢で信頼性の高い汎用なソリューション。時間とコストの節約に。

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MicroSense 6800 シリーズ 静電容量変位センサ

MicroSense

シリーズ最高分解能・高速応答モデル
高速変位を高精度で測定

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ワンショット 3D形状測定機 S wide

SENSOFAR Metrology
[新商品]

最大300×300mmまでの大きなサンプルでも素早く計測。デジタルマイクロスコープと高分解能形状測定装置両方の長所を提供。ボタンを1回押すだけで測定を開始できる非常に使い易いデザイン。

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AFMプローブ 校正用構造体 測定用標準基板 MikroMasch

MikroMasch

MikroMasch®はAFMプローブ 校正用構造体・測定用標準基板を提供するブルガリアのナノテク企業です。同社は、定番のプローブ/カンチレバー等を低価格・短納期でご提供いたします。

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高性能蛍光寿命スペクトロメーター“FluoTime 300”

PicoQuant

高性能TCSPCモジュール搭載のフルオートマチックの高性能蛍光寿命スペクトロメータ。
蛍光減衰をピコ秒分解能で測定。定常状態の蛍光異方性やりん光の測定も可能。

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レーザ干渉式変位センサ IDS3010

attocube systems

サブナノメートル精度のレーザー干渉式 小型リニア変位センサ。モジュール式で3軸構成可能

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粒度分布測定装置 “VisiSize” PDIA式(新画像解析式)

Oxford Lasers

最新解析アルゴリズムと新特許光学系により、在来型や他方式を超える安定性と精度を実現。測定レンジ。サイズ:1μm ~15,600μm。速度:~1,000m/s@100μm

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ポータブル型 粒度分布測定装置 “VisiSize Portable V” (新画像解析式)

Oxford Lasers

キャリーケースで運搬のでき、取り扱いの簡単な小型軽量タイプ。粒径10μm~3,900μm。速度同時測定モデル

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attocube レーザー干渉式センサ概要

attocube systems

ピコオーダ、超高速(10MHz)、長作動距離(最大5m)、多様な材質に対応

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