測定装置 一覧

AFMプローブ 校正用構造体 測定用標準基板 MikroMasch

MikroMasch

MikroMasch®はAFMプローブ 校正用構造体・測定用標準基板を提供するブルガリアのナノテク企業です。同社は、定番のプローブ/カンチレバー等を低価格・短納期でご提供いたします。

Detail

3D測定顕微鏡 高速・多機能モデル ”S neox”

SENSOFAR Metrology

新しい S neox は、性能、機能、効率、デザインの全ての面で既存の光学3Dプロファイリング顕微鏡を凌駕する、クラス最高の面形状計測システムです。

Detail

マルチチャンネル TCSPCモジュール“HydraHarp400”

PicoQuant

最大8チャンネルのデスクトップ型モジュール。電気的分解能 <12ps rms。測定時間幅 65ns~2.19s。カウントレート 最大12.5M count/s。

Detail

LSMアップグレード・キット

PicoQuant

各社の多光子レーザー顕微鏡に取り付けて、TCSPC(時間相関単一光子測定法)を用いた高感度・低ノイズのイメージングを可能にするTCSPCイメージング拡張キット

Detail

超高安定性・二次元分光干渉計 “GEMINI 2D”

NIREOS
[新商品]

イタリアのNIREOS社のGEMINI-2Dは、過渡吸収分光測定を最先端の2次元分光装置に変換します。
GEMINI 2Dはコンパクトで非常に安定的に使用できる干渉計であり、フェムト秒レーザーパルスの2つの同一線上で位相ロックされたレプリカを生成し、比類なき安定性と堅牢性を備えています。

Detail

画像解析式 粒度/速度分布 測定ソフトウエアー“VisiSizer SOLO”

Oxford Lasers

実際の粒子映像を使用して、粒子サイズや速度とその分布を正確に自動測定

Detail

ワンショット 3D形状測定機 S wide

SENSOFAR Metrology
[新商品]

最大300×300mmまでの大きなサンプルでも素早く計測。デジタルマイクロスコープと高分解能形状測定装置両方の長所を提供。ボタンを1回押すだけで測定を開始できる非常に使い易いデザイン。

Detail

透明ペレット等 異物/異色粒子分析装置“CALPAS”

Scigentec

サイズ, 形状分析により汚染物や混入物をリアルタイム検出・診断

Detail

超高安定性 干渉計 “GEMINI”

NIREOS
[新商品]

GEMINIは、入力光を2つのレプリカ間の時間遅延を制御することにより、比類のない精度と再現性を提供する究極の干渉計です。
FTIR分光計と同様に、同梱のドライバーおよびソフトウェアと組み合わせて使用して、フーリエ変換アプローチに基づいて入力光(コヒーレントまたはインコヒーレント光源)のスペクトルを測定できます。

Detail

受託粒度分布測定・各種サービス

Sympatec

粒度分布測定に関する受託測定やコンサルティングなど、様々なサービスをご提供いたします。

Detail

ハイスループット・マルチチャンネル TCSPC装置 “MultiHarp 150”

PicoQuant

4ch. または 8ch. 独立のマルチ入力チャンネル。共通Syncチャンネル (最高1.2GHz)。比類のない短いデッドタイム(650 ps /1ch.)で最高のスループットを実現。

Detail

プロセスフォトメータ(濃度・色モニタ) ”DCP007″

KEMTRAK

インライン用の吸光光度計。プロセスの濃度・色測定に最適。
過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザイン。

Detail

5軸ステージ付き3D測定顕微鏡 S neox Five Axis

SENSOFAR Metrology

S neox Five Axis 光学式3次元測定装置は、高精度回転ステージモジュールと、S neox 3D測定顕微鏡の高度な検査および解析機能を組み合わせています。これにより、指定された位置・角度で自動的に3D表面形状測定を行い、完全な3D形状計測が可能になります。

Detail

QuCoa 量子相関分析ソフトウェア

PicoQuant

PicoQuant社の TCSPC エレクトロニクスを用いたデータ収集・分析を統合的に実行。量子通信分野などにおける単一光子源、量子鍵配送 (QKD)、量子もつれなどのコインシデンス計測に最適

Detail

PIV 非コヒーレント・マルチ・パルス・レーザー“FireFly300W”

Oxford Lasers

境界層や壁面流、噴霧の可視化 / PIVに適した非コリーレント光特性のレーザーです。鏡面やメタルの反射が低く、金属面などの照明に最適です。
最大50 kHzの繰り返しが出来るパルス発振により、ハイスピードカメラの撮影コマ数に関係なく一定の明るさで撮影が可能です。

Detail

半導体製造装置向け FBG センサー

Photon Control

㈱日本レーザーは、Photon Control社の日本総代理店として、半導体業界におけるファイバーブラッググレーティング(FBG)センサソリューションの独占販売を行います。

Detail

プロセスフォトメータ(濁度・SS濃度計) ”NBP007″

KEMTRAK

高濃度対応 インラインSS(浮遊物質測定)・濁度 計測
後方光散乱方式採用
過酷な環境下でもメンテフリーで使用可能な堅牢デザイン

Detail

MicroSense 静電容量変位センサ一覧

MicroSense

本ページからMicroSense LLCの静電容量センサ全カタログをまとめてダウンロードできます。

Detail

超音波減衰式 粒度分布測定装置 OPUS

Sympatec

一般的な光学的手法では測定が困難な高濃度・高粘度の試料を、希釈することなく、インラインまたはオンラインで測定できます。ミリング、結晶化、重合、沈降、乳化などのプロセスを、リアルタイムに管理する用途に最適です。(測定粒子サイズ 1~3000 µm)

Detail

スタンドアローン TCSPCモジュール“PicoHarp300”

PicoQuant

最大2チャンネルのデスクトップ型モジュール。
電気的分解能 <12ps rms。
測定時間幅 260ns~33μs。
カウントレート 最大12.5M count/s。

Detail

高性能蛍光寿命スペクトロメーター“FluoTime 300”

PicoQuant

高性能TCSPCモジュール搭載のフルオートマチックの高性能蛍光寿命スペクトロメータ。
蛍光減衰をピコ秒分解能で測定。定常状態の蛍光異方性やりん光の測定も可能。

Detail

3D測定顕微鏡 R&D向けコンパクトモデル ”S lynx”

SENSOFAR Metrology

コンパクトなサイズにSensofarの3-in-1テクノロジーを搭載した卓上型の3D形状測定装置

Detail

テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER”

HÜBNER

テラヘルツ分光を用いた日々のルーチン測定向けの簡単・使い易い非接触・非破壊分析装置。周波数範囲 0.1~4.0 THz、最大ダイナミックレンジ 70 dB。

Detail

AFM(原子間力顕微鏡)取り扱い製品一覧

[オススメ]

日本レーザーでは用途に応じて様々なAFM(原子間力顕微鏡)を取り揃えております。

Detail
TOPに戻る