レーザ専門商社の草分けとして1968年から 研究・開発者のニーズにお応えしてきた日本レーザー
ENGLISH
日本語
会社概要
製品情報
技術情報
展示会情報
ニュース
総合カタログ
お問合せ
トップページ
製品一覧
検査・測定・イメージング機器
検査・解析装置
非破壊検査、欠陥検査
非破壊検査、欠陥検査
超音波顕微鏡/超音波映像装置 “V シリーズ”
KSI (Kraemer Sonic Industries)
超音波で物体内部を高精細／高感度に検査・観察
Detail
非破壊検査、欠陥検査 一覧
1
レーザー超音波非破壊検査装置
Intelligent Optical Systems
レーザー超音波による非接触非破壊検査／非接触厚さ測定
Detail
超音波顕微鏡/超音波映像装置 “V シリーズ”
KSI (Kraemer Sonic Industries)
超音波で物体内部を高精細／高感度に検査・観察
Detail
1
レーザー・光源製品
Laser & Light source
仕様で絞り込む
その他の製品
Other Product
レーザー関連製品
光学部品
光学素子
ファイバオプティクス
オプティクス(空間ビーム)
光学マウント
アクセサリ
レーザーセーフティー
光学除振台
関連機器
干渉
ビーム計測・評価
制御
偏波計測・制御
位置決め機器
光源電源
ディテクタ・センサ
フォトディテクタ
変位センサ
検査・測定・イメージング機器
検査・解析装置
速度・加速度測定
非破壊検査、欠陥検査
異物検査、成分分析
PV関連
表面・薄膜物性
機械・電気物性
測定装置
分光計測
変位測定
表面粗さ・形状測定
PIV
粒度分布
蛍光寿命・単一光子検出
温度計・熱放射率
イメージング装置
IRカメラ
溶接可視化
流体可視化
分光イメージング
テラヘルツイメージング
電子線イメージング
バイオイメージング
加工装置
ナノインプリント
ディスペンサ
レーザー・リソグラフィ
レーザー微細加工
レーザークリーニング
加工用ソフトウェア
アプリケーション
Application
物質の分析・同定
元素分析・質量分析
機械物性
赤外分析
粒子・粉体
形状・変位計測
表面形状・粗さ
変位
厚み
表面・薄膜
イメージング
AFM, SPM
表面物性分析
成膜、エッチング、パターニング
品質検査・品質保証
濃度測定
表面欠陥
半導体製造
成膜、エッチング、パターニング
加工・製造
微細造形
溶接、切断、加工中の可視化
レーザー加工
レーザークリーニング
センサー・オートメーション
ポジションセンシング
シグナリング
モーションコントロール
メディカル
バイオ、ライフサイエンス
オプトジェネティクス
バイオイメージング
生化学計測
理科学
干渉実験
ウルトラファースト分光・光源・計測器
可視化・計測
通信
航空・宇宙
機器性能評価
メーカー
Maker
3T analytik
AMPHOS
Amplitude Systemes
Amplitude Technologies
AppNano
attocube systems
Bristol Instruments
Brolight Technology
Cambridge Lasers Laboratories (Lexel Laser)
Canlas
CMS (Crystalline Mirror Solutions)
Conoptics
Corning Tropel
CryLaS
CrystaLaser
CSInstruments
CTR
DRS Daylight Solutions
Duma Optronics
Electro-Optics Technology
Elemental Scientific Lasers (ESL)
Fluke Process Instruments
FSM Precision
General Photonics
HÜBNER
II-VI DIRECTPHOTONICS
ILX Lightwave (Newport Brand)
InfraTec
Intelligent Optical Systems
Insight Photonic Solutions
Iradion Laser
Irisiome Solutions
Isomet
KEMTRAK
KSI (Kraemer Sonic Industries)
Laser-Mikrotechnologie Dr. Kieburg
LASOS
LUMENTUM (旧Time-Bandwidth Products)
Lumina Instruments
Lytid
Maxphotonics
Micro Materials
Micronor
micro resist technology
MicroSense
MikroMasch
Molecular Vista
Nanoscribe
neoLASE
New Focus (Newport Brand)
Newport
Next Scan Technology
NIREOS
NKT Photonics
NPI Lasers
OME Technology
Omicron Laserage Laserprodukte
Ophir
Opotek
Oriel (Newport Brand)
Oxford Lasers
PaR Systems
Photon Control
Photon Energy
Photonscore
PicoLAS
PicoQuant
piezosystem jena
Power Technology
RAYLASE
Scigentec
SECOPTA
SENSOFAR Metrology
Single Quantum
Sirah Lasertechnik
SourceLAB
Space Optics Research Labs
SPI Lasers
Surface Preparation Laboratory (SPL)
Sympatec
TCK
ULO Optics
Varioscale
Xiton Photonics
エンジニアリング・システム
金門光波
スペクトロニクス
日本レーザー
浜松ナノテクノロジー
藤アイデック
山本光学
レーザックス
✕
詳細検索
詳細検索
レーザー・光源
波長
nm ～
nm
波長可変
多波長
広域帯
平均出力
＜100mW
100mW～1W
1W～10W
10W～100W
＞100W
発振方式
CW
Q-CW
ナノ秒パルス
ピコ秒パルス
フェムト秒パルス
ロングパルス
繰り返し周波数
kHz
MHz
Hz
媒体
ガス
固体
色素
ファイバ
半導体
LED
この条件で検索する
▲
TOPに戻る
ENGLISH
日本語
