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【応用例】CANLAS社レーザー・マーキング
CANLAS社のQスイッチ半導体励起固体レーザーを用いたマーキング加工の例をご紹介します。
ディスプレイ製造工程 TFT LCD OLED 寸法測定 特性評価
TFT液晶やOLEDなどFPD（フラットパネルディスプレイ）の製造の各段階で、TFTアレイ、スペーサー、UVフィルタ、コーティングなど様々な特性の評価、測定することができます。
レーザー誘起蛍光 LIF 放出蛍光光子検出
レーザー誘起蛍光（LIF） レーザーを用いて粒子を高エネルギーの量子状態に励起し、その遷移中に粒子から放出される蛍光光子を検出する。測定法材料特性を検出するための高感度技術
真核細胞の解糖振動に続くNADHイメージング
代謝物NADHを解糖の固有マーカーとして用いることで、個々の細胞の動態をモニターし、その相互作用を研究することが可能です。
レーザー誘起蛍光法(CryLas社アプリケーションノート）
CryLaS社小型＆低ノイズレーザーシステムによるレーザー誘起蛍光法の例をご紹介します。
プロセスフォトメータ 適用例
Kemtrak社のプロセスフォトメータ（濁度、濃度、色計測）の適用例を紹介します。
フォトニクス・アプリケーション
データ伝送の高速化、通信ネットワークの拡大、家電製品の普及により、フォトニクス業界ではさらなる小型化が求められています。そのため、非常に小さくて複雑な部品を作り、組み立てる必要があります。個々の部品はナノメートル単位の微細な構造で構成されており、高度な光学システムによって作成または検査されます。フォトニクスやオプティクスのアプリケーションにおいて、高精度な位置決めを達成することが重要です。attocube社のモジュール式ナノ位置決めステージは、複雑な多軸アプリケーションにも優れた精度と信頼性を提供します。
レーザー 超音波 非接触厚み測定 材料特性評価 欠陥検出
レーザーで発生させた超音波により、材料の特性評価・非接触での厚み測定、欠陥検出などが可能です。産業用途でのオンライン監視などで活用されています。
【応用例】ハイエンド サーモグラフィ“ImageIR”
測定・検査向けハイエンドカメラ“ImageIR”の応用例をご紹介します。
【アプリケーション】TEA CO2 レーザー応用例
9～11 μm 中赤外領域の特性と、短パルス、高エネルギー、高繰返し周波数で多彩な用途で高速・高効率なプロセスが可能
先進的な測定・観察方式
SENSOFAR社の3D測定顕微鏡は、共焦点・光干渉・焦点移動（フォーカスバリエーション）方式の標準的な原理だけでなく、それらの技術をさらに革新させた共焦点技術や膜厚測定などの先進的な測定、観察方式を有しています。
AFM-IR PiFM ナノスケール赤外分光イメージング装置 [光誘起力顕微鏡] の仕組みと応用例
世界最高レベルの空間分解能 AFM-IR 装置 空間分解能<10nm 本ページではその仕組みと応用例について紹介していきます。
蛍光寿命イメージング (FLIM)
蛍光寿命イメージング（FLIM）は、蛍光体の異なる蛍光減衰時間を分離することで、従来のイメージングにおける強度とは異なる画像コントラストを作り出す技術です。
白色干渉計・共焦点顕微鏡による検査・解析の自動化
高精度な3D表面形状・粗さ測定が可能な白色干渉計・共焦点顕微鏡を、品質管理で用いるための自動化ソリューションを紹介します。測定の自動化のための自動アライメント機能や装置組込み用顕微鏡ヘッド、解析の自動化のためのSensoPRO自動解析ソフトウェア。
【加工例】コンパクト レーザー微細加工装置 “Aシリーズ”
Aシリーズ ナノ秒レーザーを使用したレーザー微細加工例をご紹介します。
Ti:Sapphire レーザー 励起用CPAシステム
Ti:Sapphireレーザー 近赤外光を発光する波長可変光源です。Ti:Sapphireレーザー の励起用レーザーを多数ラインナップしております。
【量子・ナノテク】ダイヤモンド中のNVセンター
ダイヤモンドの窒素-空孔（NV）中心は、室温の量子ビットプラットフォームへの応用が可能です。NVセンターを励起するには、波長 450～650 nm の光が必要です。NKT Photonics社のSuperK スーパーコンティニューム白色光レーザーは、調整可能で広範なスペクトルと非常に高いビーム品質により、世界の多くの研究者に利用されています。
ラマン分光（CryLas社アプリケーションノート）
CryLaS社小型＆低ノイズレーザーシステムによるラマン分光法の例をご紹介。
【材料・ナノ構造】ナノ粒子および量子ドットの特性評価
ナノ粒子や量子ドットの特性評価では、高解像度検査、材料の局所的変更、高密度場、強度強化など、目的に適応できる光源が必要です。NKT Photonics社のSuperK スーパーコンティニューム白色光レーザーは、非常に柔軟性に優れ、ナノ粒子や量子ドット研究で求められる多様なパラメータを提供します。
時間分解分光による半導体材料評価
半導体の電荷キャリアダイナミクスはウェハ材料の性質と品質を直接反映します。この特性を明らかにするため、光励起された電子と正孔の拡散長の正確かつ効率的な測定することが不可欠です。これには時間分解フォトルミネッセンス消光実験、すなわち時間相関単一光子計数（TCSPC）による時間分解フォトルミネッセンス（TRPL）が有効です。PicoQuant社の分光計 FluoTime 300や、励起光源としてTaiko PDL M1 レーザードライバ駆動のピコ秒パルスレーザーにより、電荷キャリアダイナミクスに影響を与える現象を最短サブナノ秒の時間スケールで直接分析できます。
スピニングディスクユニット付き共焦点超解像FLIM顕微鏡検査
回転するディスクユニットを備えた共焦点で超解像度のFLIM 顕微鏡による検査の事例紹介
PIV 粒子画像流速測定法
PIV は流体の可視化する光学的手法です。流体内トレーサー粒子がレーザーにより照らされ、方向速度を測定することが可能です。二次元/三次元 PIV、トモグラフィ PIV、時間分解 PIVに向けたレーザーをラインナップいたしております。
レーザー顕微鏡と白色干渉計の違い
光学顕微鏡を用いた共焦点と光干渉方式による3次元形状測定技術
高解像度＆リアルタイム テラヘルツイメージング技術
Lytid社とボルドー大学 IMS Nanoelectronicグループ（Patrick Mounaix教授）との共同研究による、テラヘルツ技術を駆使したイメージングアプリケーションの研究開発成果をご紹介します。
