技術情報 一覧

原子のレーザー冷却&トラッピング

NKT Photonics

NKT Photonics社のKoherasシリーズ 単一周波数ファイバレーザーは、超低ノイズ、狭線幅、高い周波数安定性、さらには堅牢で信頼性の高いファイバー出力レーザーで、原子トラッピング/原子冷却に最適です。

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レーザー顕微鏡と白色干渉計の違い

SENSOFAR Metrology

光学顕微鏡を用いた共焦点と光干渉方式による3次元形状測定技術

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光活性化ポリマーのPiFMイメージング

Molecular Vista

光活性化ポリマーに光を照射により表面に変化を与えながら、低速hyPIRイメージングをした結果、表面の形態変化と、変化のステップごとのピーク強度の変化を観察しています。

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アブレーション(CryLaS社レーザーアプリケーションノート)

CryLaS

CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによるアブレーション・アプリケーションの例をご紹介。

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フォトルミネッセンス(CryLas社アプリケーションノート)

CryLaS

CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによるフォトルミネッセンスの例をご紹介します。

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工作機械(QA,QC)・アプリケーション

attocube systems

ワークピースのサイズのバリエーションや複雑さが増しており、このような高品質な部品への要求が高まるにつれ、超精密な製造装置や検査装置へのニーズが高まっています。attocube社の超小型レーザー干渉式変位センサIDS3010は、認定された精度と最高の柔軟性を備えており、精密加工アプリケーションに最適です。

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原子のレーザーマニピュレーションによる量子慣性センサの製作

NKT Photonics

NKT Photonics社のKoherasシリーズ 単一周波数ファイバレーザーは、バーミンガム大学で開発された世界で最もポータブルな量子重力偏差計において重要な要素です。原子操作の要件である、高速周波数変調、狭線幅、低ノイズを高いレベルで提供します。

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ナノインデンター:ナノインパクト試験(ナノスケール衝撃試験)

Micro Materials

ナノインパクトは、高ひずみ速度によりナノ・マイクロスケールの衝撃試験を実現します。コーティングの耐久試験やナノスケールでの材料の動的挙動を明らかにします。

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PiFMによるポリマー界面研究

Molecular Vista

PiFM測定により、ポリマーの界面における各成分の混合状態を10nmスケールで検証できます。

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ナノインデンター:1000℃でのナノ機械特性試験

Micro Materials

NanoTest Xtremeは、業界で唯一、最高1000°Cの温度環境での機械特性評価試験を実行することができるナノインデンターです。

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Photon Energy レーザー微細加工&レーザー・ストラクチャリング

Photon Energy

フォトンエナジー社 レーザーマーキング・レーザープロセス製品によるアプリケーション例:レーザー微細加工、レーザー・ストラクチャリング

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PerovskiteのPiFMイメージング

Molecular Vista

hyPIRイメージング機能により走査範囲中全点のスペクトルを含んだデータを取得できます。いくつかの波数で異なった化学相を示していることが調査できます。

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従来FT-IRの次世代技術 ”QCL-IR”

DRS Daylight Solutions

QCL-IRは、約1000cm-1の波数範囲を10Hzで掃引し、スペクトルの取得が可能です。IRケミカルイメージング(2次元マッピング)、リアルタイム赤外イメージング、溶液・ガスのリアルタイム分析の時間短縮を実現し、高速で結果をご提供します。

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MoS2のPiFMイメージング

Molecular Vista

可視光を用いたPiFMにより、MoS2の層の数に対応したPiFMイメージングを高い分解能で実現します。

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【応用例】CANLAS社レーザー・マーキング

Canlas

CANLAS社のQスイッチ半導体励起固体レーザーを用いたマーキング加工の例をご紹介します。

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Photon Energy レーザー・プラスチック加工

Photon Energy

フォトンエナジー社 レーザーマーキング・レーザープロセス製品によるアプリケーション例:プラスチック加工(炭化、彫刻、発泡成形、素材除去)

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レーザー誘起蛍光法(CryLas社アプリケーションノート)

CryLaS

CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによるレーザー誘起蛍光法の例をご紹介します。

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半導体材料のPiFMイメージング

Molecular Vista

PiFMは、エリア選択的堆積(ASD)、局所歪み、トレンチの断面、多層スタックの断面、化学機械研磨(CMP)の可視化と分析を含む、多くの半導体アプリケーションに有用なツールです。

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質量分析(CryLas社アプリケーションノート)

CryLaS

CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによる質量分析の例をご紹介します。

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超音波顕微鏡(超音波映像装置)とは

Kraemer Sonic Industries (KSI)

超音波顕微鏡は、物質内部を非破壊で検査/観察するツールです。原理・応用などについて解説します。

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先進的な測定・観察方式

SENSOFAR Metrology

SENSOFAR社の3D測定顕微鏡は、共焦点・光干渉・焦点移動(フォーカスバリエーション)方式の標準的な原理だけでなく、それらの技術をさらに革新させた共焦点技術や膜厚測定などの先進的な測定、観察方式を有しています。

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OCT向けコンポーネント

General Photonics

OCT(光干渉断層撮影法)は高解像度で生体やサンプル内部を画像化します。General PhotonicsはOCT用コンポーネントを広くサポートしています。

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【応用例】ハイエンド サーモグラフィ“ImageIR”

InfraTec

測定・検査向けハイエンドカメラ“ImageIR”の応用例をご紹介します。

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蛍光式光ファイバ温度センシング・テクニカルノート

Photon Control

光ファイバ温度センサは、高周波・高電圧環境下で正確な温度計測を実現します。このページでは、Photon Control 光ファイバ温度センサの技術や他の方式との比較をご紹介します。

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