異物検査、成分分析
日本レーザーでは、ティラミック対応の400〜1700 nmハイパースペクトルカメラ「HERA VIS-SWIR」などを取り揃え、可視から短波長赤外までの帯域で材料の成分や異物を高精度に検出・解析できる機器群をご提供しています。製造現場や研究開発において、非破壊かつ迅速な異物検査や化学成分マッピングを実現することで、品質保証や材料特性評価を強力に支援します。

異物検査、成分分析 製品一覧
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Elemental Scientific Lasers (ESL)レーザーアブレーション装置(LA-ICP-MS/LA-IRMS)ICP-MSや同位体比質量分析計(IRMS)と組み合わせて、固体試料を直接分析するESL社のレーザーアブレーション装置です。193nmエキシマ、213nm/266nm固体、フェムト秒、CO2レーザーの各モデルがあり、元素分析、同位体比分析、バイオ・地球化学イメージングまで用途に合わせて選べます。
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Elemental Scientific Lasers (ESL)元素イメージングシステム(LA-ICP-MS/LIBS)固体試料の元素分布を高速・高分解能でマッピングする、ESL社の元素イメージングシステムです。LA-ICP-MS用のimageBIO266/imageGEO193と、LIBS(レーザー誘起ブレークダウン分光)による大型試料のイメージングシステムやLIBS拡張モジュールをラインアップしています。
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Elemental Scientific Lasers (ESL)マイクロミリング装置 MicroMill2(同位体分析用マイクロサンプリング)固体試料をサブミクロン精度でミリング(切削)し、化学分析・同位体分析用の粉末試料を回収するESL社のマイクロサンプリング装置です。貝殻、鍾乳石、耳石、骨などの成長縞や結晶の累帯構造を、リアルタイム映像を見ながら高分解能でサンプリングできます。
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Elemental Scientific Lasers (ESL)固体試料自動分析システム(LA-ICP-MS オートメーション)固体試料を酸分解せずに直接ICP-MSで分析し、試料の搬送から分析、データ出力までを自動化するシステムです。1日最大1,000試料の処理、24時間連続の自動運転、バーコードによる試料管理に対応しています。
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Elemental Scientific Lasers (ESL)LA-ICP-MSソフトウェア(装置制御・データ処理)レーザーアブレーションICP-MS(LA-ICP-MS)の実験計画から装置制御、データ処理までをつなぐ、ESL社のソフトウェア群です。装置制御のActiveView2、データ処理のiolite 4、粒子の自動認識で実験を設計するiolite Targeting、イメージング結果を事前に予測するPrecognitionをラインアップしています。
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Elemental Scientific Lasers (ESL)LA-ICP-MSアクセサリー(アブレーションセル・試料導入・校正)ESL社のレーザーアブレーション装置用アクセサリーです。高速イメージング用アブレーションセルのTwoVol3/TwoVol2、試料を冷やすCryoCell、超高真空セル、試料輸送を高速化するDCI、シグナルスムーザー、エアロゾルを分流するECHO、自動エネルギー校正のAutoCalなどがあります。
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新商品PicoQuant時間分解フォトルミネッセンス(TRPL)顕微鏡 SoliraSoliraは、複数の測定手法を1台に統合したフレキシブルな時間分解フォトルミネッセンス(TRPL)顕微鏡です。特に半導体・ナノ材料・太陽電池・LEDなどの材料の評価に最適です。TRPLイメージング、キャリア拡散、単一エミッター測定を1台に統合し、材料特性評価をシンプルにします。355 nmから1064 nmまでの波長域をカバー。最大12検出チャネル。
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NIREOS可視光-短波長赤外線 ハイパースペクトルカメラ HERA VIS-SWIRHERA VIS-SWIRは、超広帯域スペクトル範囲(400-1700nm)で130万画素のハイパースペクトル画像を撮影可能。可視光域と短波長赤外線の近赤外域の情報を同時に測定し、組み合わせることができます。
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PicoQuantマルチモーダルイメージング マイクロフォトルミネッセンス アップグレード特定の領域や関心点の高分解能定常発光スペクトルと時間分解発光スペクトルの両方を取得することが可能。空間、スペクトル、寿命測定を一体化した時間分解マイクロフォトルミネッセンス分光のイメージング装置です。
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PicoQuant小型直立型広視野フォトルミネッセンス 蛍光発光 顕微鏡 FluoMic小型広視野のフォトルミネッセンス(蛍光発光)顕微鏡。psのタイミング分解能で数psから数msの寿命検出範囲。375~1060nmの励起波長を選択可能。半導体ウェハのテストと分析、太陽電池材料とペロブスカイトの研究、ディスプレイ、LEDの材料との特性評価に最適です。
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Molecular Vista12インチ 300 mm サンプル対応 AFM-IR装置 PiFM / PiF-IR Vista300サンプルは12インチ 300 mm × 300 mm まで対応のAFM。ナノ加工における研究開発および故障解析に最適な最先端の ナノ化学測定装置。業界トップクラスの自動化を実現したAFMです。
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Molecular Vista8インチ 200 mm ウエハ対応 AFM-IR装置 Vista 200 PiFM / PiF-IR8インチ(200mm)ウエハをそのままサンプルステージに乗せてAFM-IR測定を実施できる大型サンプル対応モデルです。8インチウエハだけでなく、152mmのフォトマスクサンプルにも対応します。高空間分解能のケミカルイメージングのほか、ナノスケールIR分光により、ナノ異物分析にも対応します。IRライブラリにも対応します。
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Molecular VistaAFM-IR装置 Vista One, IR-PiFM / PiF-IRナノスケールIR化学分析用のオリジナルPiFM用AFM。 Vista One は、FTIR やナノ FTIR よりも詳細なナノスケールのケミカルマッピングと点スペクトルを取得します。
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Spacetek Technology外付けタイプ 飛行時間型質量分析計 IonTamer PS差動排気システムを内蔵し、真空チャンバーに外付けするタイプの飛行時間型質量分析計/残留ガス分析器(TOF-MS/RGA)です。四重極型RGAを搭載している既存設備への組み込みを容易に実現でき、宇宙技術で培った知見を活かし更なるフットプリントの最小化を進めています。
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Spacetek Technology小型直付けタイプ 飛行時間型質量分析計 IonTamer FA真空チャンバーへ直接フランジ接続する小型直付けタイプの飛行時間型質量分析計/残留ガス分析器(TOF-MS/RGA)です。四重極型RGAを搭載している既存設備への組み込みを容易に実現できます。
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SECOPTALIBS元素分析システム(ラボ向けモデル)生産ライン近くの分析室や分析ラボ向けのスタンドアローンLIBS元素分析装置 スラグ、コンクリート、金属などの迅速分析や元素マッピング分析に最適
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SECOPTALIBSオンライン元素分析システムオンライン・インラインLIBS元素分析システム。製造ラインにおけるリアルタイム元素分析。代表的応用例は異材混入の防止(鉄鋼製造)PMI、製造プロセスにおけるオンライン元素モニター、ベルトコンベヤ上の各種原材料(石炭、鉱石、焼結体、塩、スラグなど)のオンライン分析等が可能です。
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SECOPTALIBSシステム(超高速インライン向け)完全インライン向けLIBSシステム。20kHzの超高繰返し測定(カスタムで100kHzまで可)
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KEMTRAKプロセスフォトメータ(濁度・SS濃度計)”NBP007″高濃度対応 インラインSS(浮遊物質測定)・濁度 計測 後方光散乱方式採用 過酷な環境下でもメンテフリーで使用可能な堅牢デザイン
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Scigentecペレット・粉体・フィルム・スラリー 異物検査装置 CALPAS ― 異物や異形粒子のサイズ・色・形状を高速評価CALPASシリーズは、粉体やペレット、フィルム、スラリーなどのサンプル中の異物を、サイズ・形状・色の分析によって検出する装置です。粒子のサイズ、色、形状を高速に評価でき、乾式・湿式・ステージなど多彩なサンプル搬送ユニットに対応します。オフライン・オンラインの両方の運用が可能で、微粒子粉体からペレット、フィルムまで幅広い検査対象をカバーします。



















