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360°全周測定 5軸ステージ付き3D測定顕微鏡 S neox Five Axis
<p>Sensofarの3D測定顕微鏡に、高精度5軸ステージシステムを組み合わせ、360度全周測定を実現しました。機械工具や医療器具など厳しい精度が要求される分野の表面形状解析に最適なソリューションです。</p>
ビデオレート IRイメージング顕微鏡 Spero
ビデオレートIRイメージング。広視野(□2mm)、超高速。わずか40秒以下でIRハイパースペクトルイメージング像取得。広帯域波長可変中赤外量子カスケードレーザー使用。
インライン用組込型3D測定センサー “S mart & S onix”
<p>インラインの組み込み用に開発された高性能3D測定センサー</p>
窒化シリコン SPMプローブ
窒化カンチレバー＆シリコンチップ構成のハイブリッドプローブ(Hydraシリーズ)と、カンチレバーとチップ両方とも窒化シリコン製のSPMプローブ(Nitraシリーズ)
SPMシリコンプローブ
最高品質の低抵抗(0.01〜0.025Ω-cm) n型アンチモンドープ単結晶シリコン製。実績の高いシリコン技術と新しい微細加工プロセスにより、シャープなチップを具備した高品質モノリシックプローブを実現。ほとんどの市販AF...
分子間相互作用解析装置 “QCM-D”
<p>リアルタイムで質量変化と粘弾性、膜厚を分析<br />
高性能で低価格</p>
金属単結晶・酸化物単結晶・合金単結晶
<p>金属単結晶・酸化物単結晶・合金単結晶試料の高品質品を高精度加工</p>
3D測定顕微鏡＆センサーシリーズ
<p>非接触・非破壊で表面の微細な3D形状、および粗さを測定・解析することができる形状計測装置です。</p>
HART 高アスペクト比チップ SPMプローブ
<p>高アスペクト比チップ SPMプローブ。スパイク高さ 1, 2, 4, 6µm。0°, 傾き角度補正 3°, 12°。</p>
AFM（原子間力顕微鏡）取り扱い製品一覧
日本レーザーでは用途に応じて様々なAFM（原子間力顕微鏡）を取り揃えております。
3D測定顕微鏡 高速・多機能モデル ”S neox”
新しい S neox は、性能、機能、効率、デザインの全ての面で既存の光学3Dプロファイリング顕微鏡を凌駕する、クラス最高の面形状計測システムです。
Nano-Observer ナノオブザーバーAFM
多種の測定モード・環境制御に優れた高性能の原子間力顕微鏡
定量的フォーススペクトロスコピー SPMプローブ
ナノインデンテーション、フォーススペクトロスコピー、機能化研究、トレンチ深さ計測など。アプリケーションに最適な複数の種類のSPMプローブをラインナップ。特注についてもご相談ください。
Nanoview 1000 AFM
従来のAFMの半分以下の低価格ながら、高いイメージング品質を発揮します。日本初上陸の高コストパフォーマンスAFMです。
非接触型厚さ測定装置 “VarioMetric”
<p>レーザー干渉を利用した厚さ測定装置。厚膜(1～500μm)測定用。小型・高速・高精度</p>
AFMコントローラー “Galaxy Dual”
<p>Pico STM / 5100 / 5500 / Mulimodeに新しい測定機能を追加し、進化させるAFMコントローラーです。</p>
静電吐出方式高精細ディスペンサ Q-Jet
エアー式ディスペンサでは実現不可能な細線描画、ピエゾ式インクジェットでは不可能な高粘度吐出を可能にする従来の常識を覆した高機能パターニング技術。
走査型熱顕微鏡(SThM)用 アンプ VertiSenseユニット/プローブ VTPシリーズ
走査型熱顕微鏡(SThM)用アンプ "VertiSenseユニット" を既存のAFMと組み合わせることで、走査型熱顕微鏡測定が可能。ほとんどの市販AFM装置と互換。VertiSenseユニット専用 "VTPプローブ" は...
ZentriForm(ゼントリフォーム) マイクロ遠心成型機
<p>高品質なマイクロ構造を高速かつ安定的に作製できます。</p>
コンパクト・低価格原子間力顕微鏡 AFM “CrabiAFMシリーズ”
CrabiAFMは業界最低価格原子間力顕微鏡（AFM）です。リサーチ用途の入門機、すでにAFM経験をお持ちの方のサブ機として、ナノ教育向けに最適です。
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レジスコープ “ResiscopeII”
AFM 超高感度電流増幅器
ソフトウェアパッケージ
<p>3D形状や表面粗さを測定、解析するための直感的で使いやすいソフトウェアパッケージを装置とセットで提供しています。</p>
光ファイバ式温度センサ 【Photon Control】
高い精度と信頼性、素早いカスタム・プロトタイプ対応で半導体/OLED製造装置の温度計測に貢献します。
電磁波による影響を受けずに幅広い温度範囲で計測が可能です。
ACCESS チップビュー・SPMプローブ
<p>シャープなシリコンプローブでAFM探針の試料表面接触時に直接視覚化可能。高い再現性、堅牢性、シャープさをもつナノ加工 高ドープ単結晶シリコンで高解像度イメージングを実現</p>
