表面欠陥 一覧
AFMプローブ 校正用構造体 測定用標準基板 MikroMasch
MikroMasch
MikroMasch®はAFMプローブ 校正用構造体・測定用標準基板を提供するブルガリアのナノテク企業です。同社は、定番のプローブ/カンチレバー等を低価格・短納期でご提供いたします。
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非接触型厚さ測定装置 “VarioMetric”
Varioscale
レーザー干渉を利用した厚さ測定装置。厚膜(1~500μm)測定用。小型・高速・高精度
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基板用 高速欠陥検査イメージング装置 AT1
Lumina Instruments
Lumina Instruments社のAT1は、ガラス基板、半導体基板、FPD、フォトマスク、ハードディスク等の基板の欠陥を可視化する高速欠陥検査イメージング装置です。他に類を見ない水準の測定速度とサブナノメートルオーダーの感度が特徴です。
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