検査・解析装置 一覧

レーザー超音波非破壊検査装置

Intelligent Optical Systems

レーザー超音波による非接触非破壊検査/非接触厚さ測定

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AFM(原子間力顕微鏡)取り扱い製品一覧

[オススメ]

日本レーザーでは用途に応じて様々なAFM(原子間力顕微鏡)を取り揃えております。

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レーザーアブレーション装置

Elemental Scientific Lasers (ESL)

高速&高精度分析。目的に最適なレーザーアブレーションを最高の性能で提供。

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溶液用 QCL-IR 赤外分析装置 Culpeo

DRS Daylight Solutions

従来のFT-IRに代わる、次世代の赤外分析技術、QCL-IRを採用した小型の溶液用赤外分析装置です。QCL-IRは最大10HzでIRスペクトルを取得することができ、従来技術に比べはるかに高速で安定しています。その測定速度を活かし、リアルタイムでの濃度モニタリングが可能です。また、輝度が高く、少量の溶液サンプルでも分析可能です。Culpeo® QCL-IR液体分析器 バイオプロセス分析・液体クロマトグラフィー・ワクチン関連の分析に最適です。

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LEDソーラーシミュレーター“VERASOL”

Oriel (Newport Brand)

LED光源を用いたクラスAAAの長寿命ソーラーシミュレータ

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LIBSシステム(超高速インライン向け)

SECOPTA

完全インライン向けLIBSシステム
20kHzの超高繰返し測定(カスタムで100kHzまで可)

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ファイバカップル・テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER F”

HÜBNER

非破壊・非接触検査ができるプラグ&プレイのテラヘルツ・スペクトロメータ。周波数範囲 0.1~2.5 THz、最大ダイナミックレンジ 54 dB

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配管据え置き型 インライン濁度計 “TC007”

KEMTRAK

長寿命LEDを搭載した光散乱原理の濁度計
過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザイン

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AFMコントローラー “Galaxy Dual”

CSInstruments
[新商品]

Pico STM / 5100 / 5500 / Mulimodeに新しい測定機能を追加し、進化させるAFMコントローラーです。

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NanoTest Xtreme 高温対応ナノインデンター

Micro Materials

-100~1000℃の温度範囲で薄膜の機械特性(硬度、ヤング率等)を測定できる唯一の装置

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光ファイバ式加速度計 MR660

Micronor

高電圧など危険な環境での振動や動きを測定することが可能な、光ファイバ式のシステム。電磁波/高電圧環境下の振動解析に最適。代表的なアプリケーション:パンタグラフ監視、風力タービンブレード、MRI、変圧器、発電機、鉱業、石油・ガスなど

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Nanoview 1000 AFM

FSM Precision

従来のAFMの半分以下の低価格ながら、高いイメージング品質を発揮します。日本初上陸の高コストパフォーマンスAFMです。

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LED光エンジン“SOLA II シリーズ”

Oriel (Newport Brand)

アークランプに代わる長寿命 白色光源。紫外・赤外領域の発光が少なく、生体サンプルに与える影響を抑制

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ガス・溶液用 QCL-IR 赤外分析装置 ChemDetect

DRS Daylight Solutions

従来のFT-IRに代わる、次世代の赤外分析技術、QCL-IRを採用した小型のガス・溶液用赤外分析装置です。QCL-IRは最大10HzでIRスペクトルを取得することができ、従来技術に比べはるかに高速で安定しています。その測定速度を活かし、リアルタイムでの濃度モニタリングが可能です。また、輝度が高く、少量サンプルでも分析可能です。Culpeo® QCL-IR液体分析器 バイオプロセス分析・液体クロマトグラフィー・ワクチン関連の分析に最適です。

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超音波顕微鏡/超音波映像装置 “V シリーズ”

Kraemer Sonic Industries (KSI)

超音波で物体内部を高精細/高感度に検査・観察

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バブルフリー シリコーンマイクロ成型機

3T analytik

高品質なマイクロ構造を高速かつ安定的に作製できます。シリコーン樹脂製のマイクロ流路、スタンプ、光学部品の試作に最適です。

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Core シリーズ 機械物性試験装置

Micro Materials

ナノインデンテーション試験、マイクロインデンテーション試験、ナノスクラッチ試験、マイクロスクラッチ試験、ナノインパクト試験機能がそれぞれ独立したコンパクトな機械特性測定装置

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Nano-Observer ナノオブザーバーAFM

CSInstruments

高いスキャナー性能を持つハイエンドAFMです。老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を持ちながら価格は1000万円を切り、非常にコストパフォーマンスの高いAFMとして注目されています。通常のAFMとしての機能のほか、電気特性測定(KFM、C-AFM)などに強みがあります。

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キセノン/ハロゲン・イルミネータ“APEX 2”

Oriel (Newport Brand)

簡単操作、アライメント不要、小型、ターンキー操作の完全一体型システム

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4インチ対応 原子間力顕微鏡 Nano Observer AFM XL

CSInstruments

CSInstrumentsのフラグシップモデルであるNano Observer AFMの、4インチサンプル対応のモデルが発売されました。もともとCSInstrumentsの得意とする導電性AFM(Resiscope Ⅱ)、ケルビンプローブフォース顕微鏡法(KFM)、走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡法(sMIM)などの機能に加え、4インチまでのサンプルに対応したため、半導体サンプルの評価に応用しやすくなりました。

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プロセスフォトメータ(濁度・SS濃度計)”NBP007″

KEMTRAK

高濃度対応 インラインSS(浮遊物質測定)・濁度 計測
後方光散乱方式採用
過酷な環境下でもメンテフリーで使用可能な堅牢デザイン

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LIBS元素分析システム(ラボ向けモデル)

SECOPTA

生産ライン近くの分析室や分析ラボ向けのスタンドアローンLIBS元素分析装置
スラグ、コンクリート、金属などの迅速分析や元素マッピング分析に最適

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テラヘルツ分光解析装置“T-COGNITION”

HÜBNER

テラヘルツ分光により、封書や小包の中に隠された有害物質を正確に、わずか数秒以内で同定

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量子効率測定装置“IQE-200”

Oriel (Newport Brand)

外部・内部量子効率を同時測定できる経済的なソリューションです

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