レーザー超音波による非接触非破壊検査／非接触厚さ測定

日本レーザーでは用途に応じて様々なAFM（原子間力顕微鏡）を取り揃えております。

高速＆高精度分析。目的に最適なレーザーアブレーションを最高の性能で提供。

従来のFT-IRに代わる、次世代の赤外分析技術、QCL-IRを採用した小型の溶液用赤外分析装置です。QCL-IRは最大10HzでIRスペクトルを取得することができ、従来技術に比べはるかに高速で安定しています。その測定速度を活かし、リアルタイムでの濃度モニタリングが可能です。また、輝度が高く、少量の溶液サンプルでも分析可能です。Culpeo® QCL-IR液体分析器　バイオプロセス分析・液体クロマトグラフィー・ワクチン関連の分析に最適です。

LED光源を用いたクラスAAAの長寿命ソーラーシミュレータ

完全インライン向けLIBSシステム
20kHzの超高繰返し測定（カスタムで100kHzまで可）

非破壊・非接触検査ができるプラグ＆プレイのテラヘルツ・スペクトロメータ。周波数範囲 0.1～2.5 THz、最大ダイナミックレンジ 54 dB

長寿命LEDを搭載した光散乱原理の濁度計
過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザイン

Pico STM / 5100 / 5500 / Mulimodeに新しい測定機能を追加し、進化させるAFMコントローラーです。

-100～1000℃の温度範囲で薄膜の機械特性（硬度、ヤング率等）を測定できる唯一の装置

高電圧など危険な環境での振動や動きを測定することが可能な、光ファイバ式のシステム。電磁波/高電圧環境下の振動解析に最適。代表的なアプリケーション：パンタグラフ監視、風力タービンブレード、MRI、変圧器、発電機、鉱業、石油・ガスなど

従来のAFMの半分以下の低価格ながら、高いイメージング品質を発揮します。日本初上陸の高コストパフォーマンスAFMです。

アークランプに代わる長寿命 白色光源。紫外・赤外領域の発光が少なく、生体サンプルに与える影響を抑制

従来のFT-IRに代わる、次世代の赤外分析技術、QCL-IRを採用した小型のガス・溶液用赤外分析装置です。QCL-IRは最大10HzでIRスペクトルを取得することができ、従来技術に比べはるかに高速で安定しています。その測定速度を活かし、リアルタイムでの濃度モニタリングが可能です。また、輝度が高く、少量サンプルでも分析可能です。Culpeo® QCL-IR液体分析器　バイオプロセス分析・液体クロマトグラフィー・ワクチン関連の分析に最適です。

超音波で物体内部を高精細／高感度に検査・観察

高品質なマイクロ構造を高速かつ安定的に作製できます。シリコーン樹脂製のマイクロ流路、スタンプ、光学部品の試作に最適です。

ナノインデンテーション試験、マイクロインデンテーション試験、ナノスクラッチ試験、マイクロスクラッチ試験、ナノインパクト試験機能がそれぞれ独立したコンパクトな機械特性測定装置

高いスキャナー性能を持つハイエンドAFMです。老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を持ちながら価格は1000万円を切り、非常にコストパフォーマンスの高いAFMとして注目されています。通常のAFMとしての機能のほか、電気特性測定（KFM、C-AFM)などに強みがあります。

簡単操作、アライメント不要、小型、ターンキー操作の完全一体型システム

CSInstrumentsのフラグシップモデルであるNano Observer AFMの、4インチサンプル対応のモデルが発売されました。もともとCSInstrumentsの得意とする導電性AFM（Resiscope Ⅱ）、ケルビンプローブフォース顕微鏡法（KFM）、走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡法（sMIM）などの機能に加え、4インチまでのサンプルに対応したため、半導体サンプルの評価に応用しやすくなりました。

高濃度対応 インラインSS（浮遊物質測定）・濁度　計測
後方光散乱方式採用
過酷な環境下でもメンテフリーで使用可能な堅牢デザイン

生産ライン近くの分析室や分析ラボ向けのスタンドアローンLIBS元素分析装置
スラグ、コンクリート、金属などの迅速分析や元素マッピング分析に最適

テラヘルツ分光により、封書や小包の中に隠された有害物質を正確に、わずか数秒以内で同定

外部・内部量子効率を同時測定できる経済的なソリューションです