検査・解析装置 一覧

テラヘルツ分光解析装置“T-COGNITION”

HÜBNER

テラヘルツ分光により、封書や小包の中に隠された有害物質を正確に、わずか数秒以内で同定

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プロセスフォトメータ(濃度・色モニタ) ”DCP007″

KEMTRAK

インライン用の吸光光度計。プロセスの濃度・色測定に最適。
過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザイン。

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PiFM ナノスケール赤外分光イメージング装置 [光誘起力顕微鏡]

Molecular Vista

世界最高の空間分解能 AFM-IR 装置 [空間分解能<10nm]

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液体ケミカルアナライザ ChemDetect

DRS Daylight Solutions

中赤外量子カスケードレーザー(QCL)を用いて化学物質を分析・同定する小型の高性能スペクトロメータ。高速、広帯域波長、高度な非冷却検出機能、高い化学同定機能。

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高解像度ダイアモンド・AFMプローブ(ダイヤモンドカンチレバー)

CSInstruments

最高の耐摩耗性と電気的性能を提供する高導電性ダイヤモンドプローブ(ダイヤモンドAFMカンチレバー)

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LIBSシステム(インライン向け)

SECOPTA

全ファイバーデリバリ型のLIBSシステム
インライン・オンサイト・in situでの多元素定量分析

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AFMコントローラー “Galaxy Dual”

CSInstruments

<p>Pico STM / 5100 / 5500 / Mulimodeに対応する、AFM / STM用コントローラーです。</p>

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金属単結晶・酸化物単結晶・合金単結晶

Surface Preparation Laboratory (SPL)

金属単結晶・酸化物単結晶・合金単結晶試料の高品質品を高精度加工

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NanoTest Vantage 多機能ナノインデンター

Micro Materials

押圧試験、硬度試験、ヤング率評価等、薄膜の機械的特性を高分解能で評価。850℃までの高温に対応

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NanoTest Xtreme 高温対応ナノインデンター

Micro Materials

-100~1000℃の温度範囲で薄膜の機械特性(硬度、ヤング率等)を測定できる唯一の装置

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イオン化ポテンシャル測定装置“PYS”

日本レーザー

有機膜のイオン化ポテンシャルと仕事関数を測定するPYS光電子収量分光装置

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LEDソーラーシミュレーター“VERASOL”

Oriel (Newport Brand)

LED光源を用いたクラスAAAの長寿命ソーラーシミュレータ

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キセノン/ハロゲン・イルミネータ“APEX 2”

Oriel (Newport Brand)

簡単操作、アライメント不要、小型、ターンキー操作の完全一体型システム

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光ファイバ式センサ 侵入検知/設備モニタリング “DVS-1000”

General Photonics

DVS-1000 は多用途に使用可能な分布型振動センシングシステムです。最長100kmまでの長さに渡って、光ファイバーケーブルを音響センサ、振動センサとして利用することが可能です。

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LIBSシステム(ラボ用卓上タイプ)

SECOPTA

ラボ用の卓上LIBSスキャンシステム
2次元・3次元の組成マッピングが可能

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光ファイバジャイロ(FOG)コイル品質管理 / 構造ヘルスモニタリング “PXA-1000” 【General Photonics】

General Photonics

橋、トンネル、ダム、建物などのヘルスモニタリングに使用できます。
インプロセスで、光ファイバジャイロ(FOG)用の偏波保持ファイバコイルの品質検査に使用できます。
偏波保持ファイバ (PMF) の長さ方向に沿って偏波...

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超音波顕微鏡/超音波映像装置 “V シリーズ”

KSI (Kraemer Sonic Industries)

超音波で物体内部を高精細/高感度に検査・観察

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配管据え置き型 インライン濁度計 “TC007”

KEMTRAK

長寿命LEDを搭載した光散乱原理の濁度計
過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザイン

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レーザーアブレーション装置

Elemental Scientific Lasers (ESL)

高速&高精度分析。目的に最適なレーザーアブレーションを最高の性能で提供。

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分子間相互作用解析装置 “QCM-D”

3T analytik

<p>リアルタイムで質量変化と粘弾性、膜厚を分析<br />
高性能で低価格</p>

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AT1 大型基板欠陥検査装置

Lumina Instruments

Lumina Instruments社のAT1は、様々な特徴を有する、高速測定レーザスキャニング欠陥検査装置です。

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量子効率測定装置“IQE-200”

Oriel (Newport Brand)

外部・内部量子効率を同時測定できる経済的なソリューションです

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Nanoview 1000 AFM

FSM Precision

従来のAFMの半分以下の低価格ながら、高いイメージング品質を発揮します。日本初上陸の高コストパフォーマンスAFMです。

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Core シリーズ 機械物性試験装置

Micro Materials

ナノインデンテーション試験、マイクロインデンテーション試験、ナノスクラッチ試験、マイクロスクラッチ試験、ナノインパクト試験機能がそれぞれ独立したコンパクトな機械特性測定装置

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