シリコンフォトニクス・光デバイス向けの高精度光計測装置シリーズ。光ベクトル解析による損失・分散・偏波測定から、μm精度の光リンク診断・断点検出まで、研究開発から製造検査までを高速・高精度にサポートします。

フォトニックデバイスやフォトニック集積回路（PIC）の評価に対応する自動チップテストシステム。自動光学アライメントとプローブカード位置合わせにより、フォトニックチップの高精度かつ高効率な自動検査を実現します。

連続波（CW）・単一周波数のTi:sapphireレーザー。700～980 nmで波長可変、ワットクラスの高出力と狭線幅を実現。自動波長調整により共鳴ラマン分光や量子材料研究に最適です。

Soliraは、複数の測定手法を1台に統合したフレキシブルな時間分解フォトルミネッセンス（TRPL）顕微鏡です。特に半導体・ナノ材料・太陽電池・LEDなどの材料の評価に最適です。TRPLイメージング、キャリア拡散、単一エミッター測定を1台に統合し、材料特性評価をシンプルにします。355 nmから1064 nmまでの波長域をカバー。最大12検出チャネル。