レーザー・スペクトラム・アナライザ(LSA) “771シリーズ”

Bristol Instruments

高繰り返しパルスとCWの両レーザー対応。波長精度 最高±0.0001nm。1台で波長測定&スペクトル分析可能。可視光(VIS)から中赤外(MIR)領域まで (375nm to 12μm) の波長域をカバー。

高繰り返しパルスとCWの両レーザー対応。波長精度 最高±0.0001nm。1台で波長測定&スペクトル分析可能。可視光(VIS)から中赤外(MIR)領域まで (375nm to 12μm) の波長域をカバー。
  • 1台でスペアナと波長計の機能を提供
  • 高いスペクトル分解能
  • 高い波長測定精度:±2ppm(モデルにより異なる)
  • 連続校正
  • 高い光除去比:> 40dB
  • 可視~中赤外(375 nm to 12 μm)
  • 高感度:最小入力光パワー 3μW
  • 高速スペクトル測定:2秒 (VIS, NIR) or 1秒 (IR, MIR)
  • CW, パルス両用
  • プリアライメント済みファイバ入力コネクタ付き(VIS, NIRバージョン)
  • フリースペース入力を補助するアライメントビーム出力(IR, MIRバージョン)
  • オンボード・デジタルシグナルプロセッサでレーザースペクトルを素早く生成
  • USB or Ethernetインタフェース:データの自動計算&PC転送
  • Windows ベースPC用ソフトウェア:測定パラメータ制御、スペクトル表示、種々のフォーマットでのデータレポート

ブリストル・インスツルメンツ社の771シリーズ スペクトラムアナライザは、実績の高いマイケルソン干渉計の技術と高速フーリエ変換解析を組み合わせた、高分解能スペアナと高精度波長計を兼ねる独自の装置です。CWと高繰り返しパルスレーザー (繰返し周波数 50kHz以上、パルス幅 50ns以上) の両方に適用できます。測定波長域は VIS 375~1100 nm / NIR 520~1700 nm / IR 1~5μm / MIR 1.5~12 μm の4バージョンがございます。スペクトル分解能 最高 2 GHz、波長精度 最高 ±0.2 ppm、光除去率 >40 dB です。最小光パワーは 3μW (S/N比 1dB相当)ですが、良好な光除去率を得るにはより高い光パワーを入力してください。771シリーズはレーザーのスペクトル特性について最も詳細な情報を提供できます。測定ごとに内蔵の参照用He-Neレーザーで連続校正しますので、実験結果の信頼性を向上できます。

 

レーザー波長は波長(nm)、波数(cm-1)、周波数(GHz)で定義され、スペクトルはこれら対する相関強度として、リニアスケール(μW)またはlogスケール(dB)で表示されます。便利なズーム及びスクロール機能で表示スペクトルを最適化できます。スペクトル測定ではアプリケーションに合わせて3つ(標準、高分解能、低分解能)の測定アルゴリズムを選択できます。低分解能アルゴリズムは広帯域レーザーの測定に好適です。

 

771シリーズには2つのモデルがあり、高精度モデル771Aは測定確度±2ppm(±0.0002nm @ 1000nm)、低価格モデル771Bは測定確度±0.75ppm(±0.0008nm @ 1000nm)です。

モデル 771A 771B
レーザータイプ ※1,2 CW, QCW (繰返し周波数 > 10 MHz),
パルス (繰返し周波数 > 50 kHz, パルス幅 > 50 ns)
波長域 VIS: 375 – 1100 nm
NIR: 520 – 1700 nm
IR: 1 – 5 μm
VIS: 375 – 1100 nm
NIR: 520 – 1700 nm
IR: 1 – 5 μm
MIR: 1.5 – 12 μm
波長精度 ※2,3,4 ±0.2 ppm

±0.0002 nm @ 1000 nm
±0.002 cm-1 @ 10,000 cm-1
±60 MHz @ 300,000 GHz
±0.75 ppm (±1 ppm for MIR)

±0.0008 nm @ 1000 nm
±0.008 cm-1 @ 10,000 cm-1
±225 MHz @ 300,000 GHz
スペクトル分解能 ※5 Standard: 4 GHz (8 GHz for IR)
High: 2 GHz (4 GHz for IR)
Low: 33 GHz (64 GHz for IR)
校正 安定化単一周波数HeNeレーザーによる連続校正 内蔵の標準HeNeレーザーによる連続校正
単位 ※6 nm, μm, cm-1, GHz, THz
光除去比 ※7,8,9 > 40 dB (> 30 dB for MIR)
最小入力パワー ※9,10,11 VIS: 0.009 – 2.0 μW, NIR: 0.003 – 0.08 μW
IR: 0.005 – 0.22 μW, MIR: 0.005 – 0.02 μW
測定レート ※12 VIS / NIR: < 2 s, IR / MIR: 1 s
光入力 ※13 VIS / NIR: プリアライメント FC/UPC or FC/APC 光ファイバコネクタ (9 μm コア径)
IR / MIR: コリメートビーム, 2-3 mm 開口径, 可視アライメントビーム出力付き
装置インタフェース USB & Ethernetインタフェース, Bristol社製 WEBベース ディスプレイ・プログラム
カスタマイズ用コマンドライブラリ&LabVIEWプログラム

※1 Operation with pulsed lasers may result in modulation artifacts in the form of false spectral features. These modulation artifacts are reduced with averaging.
※2 Defined as measurement uncertainty, or maximum wavelength error, using a coverage factor of 3 providing a confidence level of ≥ 99.7%.
※3 Wavelength Meter Mode: 771A – for laser spectral bandwidth less than 1 GHz (FWHM). 771B – for laser spectral bandwidth less than 10 GHz (FWHM). When bandwidth is greater, wavelength accuracy is reduced.
※4 Spectrum Analyzer Mode: wavelength axis is calibrated to system’s accuracy.
※5 Wavelength accuracy and optical rejection ratio may be reduced with High-Resolution mode and Low-Resolution mode.
※6 Data in units of nm, μm, and cm-1 are given as vacuum values.
※7 For single measurement with CW lasers, FWHM < 10 GHz, and 10,000 times (1,000 times for MIR) minimum input power. A reduced optical rejection ratio may result with pulsed lasers, lasers with larger bandwidth, and/or lasers with lower power.
※8 A co-add averaging feature can be used to reduce the noise level and therefore improve the optical rejection ratio. Optical rejection ratio can be improved by about 5 dB and 10 dB by averaging 25 and 100 samples, respectively.
※9 Characteristic performance, but non-warranted.
※10 Optical power required to achieve a signal-to-noise ratio of approximately 1 dB.
※11 Sensitivity at specific wavelengths can be determined from graphs that are provided in the 771 Series Product Details brochure.
※12 Time to generate a spectrum over the system’s entire operational wavelength range. Smaller measurement ranges are available for the VIS and NIR versions to reduce measurement time to 1 s.
※13 IR and MIR required beam height is 5.4 ± 0.25”.