製品情報

製品一覧

PDL/IL マルチメータ “PDL-201”

General Photonics

偏光依存損失 (PDL), 挿入損失 (IL), デバイスの光パワーをわずか30ミリ秒で同時測定。低/高の両PDL値を測定可能。

Detail

デポラライザ “DEP”

General Photonics

レーザー出力を無偏光化するデポラライザです。外部からの電源供給が不要なパッシブデバイスです。標準仕様ではコヒレンス長10mの光源まで使用可能です。数kmのコヒレンス長を持つレーザーのためにカスタムすることも可能です。

Detail

高ビーム品質 ハイブリッドピコ秒レーザー 電光シリーズ

スペクトロニクス

高ビーム品質(M²<1.2)のピコ秒レーザー。高精細・高品質の加工に最適。独自ハイブリッド方式で軽量かつ低価格。

Detail

ミリ波・サブテラヘルツ発振器 TeraSchottky

Lytid

パワフルな完全一体型サブ・テラヘルツ発振器。最先端のショットキーダイオード・マルチプライヤ利用。高出力 2~350mW。高いチューナビリティ <12%。周波数 > 75, 150, 300, 600 GHz。コンパクト(<1kg)で使い易い。

Detail

高出力テラヘルツ量子カスケードレーザー TeraCascade2000

Lytid

最先端の量子カスケードレーザー(QCL)技術ベースの次世代ハイパワー・テラヘルツ光源。最大光出力 7mW。マルチ周波数オプション 最高6周波数。極低温冷却不要の永久真空パッケージ。

Detail

8インチ(200 mm)ウエハ対応 AFM-IR装置 Vista 200 PiFM / PiF-IR

Molecular Vista
[新商品]

8インチ(200mm)ウエハをそのままサンプルステージに乗せてAFM-IR測定を実施できる大型サンプル対応モデルです。8インチウエハだけでなく、152mmのフォトマスクサンプルにも対応します。高空間分解能のケミカルイメージングのほか、ナノスケールIR分光により、ナノ異物分析にも対応します。IRライブラリにも対応します。

Detail

クラス最速・最高精度 3Dプリンタ 光造形装置 Quantum X Shape

Nanoscribe

Quantum X shapeは、2光子重合(2PP)をベースに独自のプリンティングテクノロジーを組み合わせた、多用途での活用が可能な3Dプリンタです。あらゆる2.5D/3D形状での、サブミクロン精度と高い正確性でのラピッドプロトタイピング可能。またウェハースケールのバッチ生産に最適なツールとなっています。

Detail

コンパクト フェムト秒レーザー Goji

Amplitude Systemes

医療・産業分野の厳しい要件を満たす高品質・超小型フェムト秒レーザ。パルス幅 <150 fs、繰返し周波数 最高40MHz、平均出力 >5W、最大パルスエネルギー >500nJ。

Detail

量子カスケードレーザー(QCL)用コントローラ“LDC-3736”

ILX Lightwave (Newport Brand)

レーザー駆動機能と温度コントロール機能を一つにした低ノイズ・高安定性QCLコントローラ

Detail

白色干渉計 高速・多機能モデル ”S neox”

SENSOFAR Metrology

S neox は、性能、機能、効率、デザインの全ての面で既存の光学3Dプロファイリング顕微鏡を凌駕する、クラス最高の面形状計測システムです。

Detail

高ピークパワー Qスイッチ半導体励起固体レーザー“CP600シリーズ”

Canlas

高ピークパワー 750μJ @10kHz(1064nm)、300μJ @10kHz(532nm)。パルス幅 約4ns

Detail

粒度分布測定装置 “VisiSize” PDIA式(新画像解析式)

Oxford Lasers

最新解析アルゴリズムと新特許光学系により、在来型や他方式を超える安定性と精度を実現。測定レンジ。サイズ:1μm ~15,600μm。速度:~1,000m/s@100μm

Detail

装置組込み用非接触面粗さ計 S mart sensor

SENSOFAR Metrology
[新商品]

S mart 2は、白色干渉計とエリア共焦点(コンフォーカル)の技術による3D表面形状測定が可能な装置組込み用顕微鏡ユニットです。3Dレーザー顕微鏡と同等の分解能と精度、再現性による表面形状・粗さ測定を実現可能です。

Detail

MicroSense 静電容量変位センサ一覧

MicroSense

MicroSense LLCの静電容量センサを紹介。全カタログをまとめてダウンロードできます。

Detail

ペレット・粉体用 異物検査装置 CALPAS

Scigentec

粉体やペレット・サンプル中の異物を検出 (サイズ, 形状分析による)。粒子のサイズ、色、形状を高速に評価。多彩なサンプル搬送ユニット (乾式, 湿式, ステージ 等)。オフライン、オンラインの両方に対応可能。

Detail

266nm CW, 超小型UV DPSSレーザー“FQCW266シリーズ”

CryLaS

266nm, CW(連続波)レーザー, 出力 10~550mW 空冷式。縦モードシングル 300kHz

Detail

2μm 広帯域チューナブルレーザー “SuperTune-2000”

NPI Lasers

発振波長1900-2050 nm, バンド幅 <1 nm, 平均出力パワー>30 W。2μm コンポーネント試験や産業センシング、分光、イメージングのための汎用光源に好適

Detail

Nanoview 1000 AFM ローコスト 高イメージング品質

FSM Precision

従来のAFMの半分以下の低価格ながら、高いイメージング品質を発揮します。日本初上陸の高コストパフォーマンスAFMです。

Detail

EO光偏向器

Conoptics

高速・高分解能・高精度な偏向器
深紫外、紫外、可視から近赤外域まで対応

Detail

蛍光顕微鏡 単一分子顕微鏡・時間分解アプリケーション・超分解能イメージング

PicoQuant

PicoQuantは、時間分解共焦点顕微鏡法のためのさまざまなソリューションを提供いたします。 利用可能なシステムには、ピコ秒の時間分解能と超分解能イメージング機能を備えた単一分子の高感度顕微鏡、また時間分解アプリケーションを可能にするすべての主要メーカーのレーザー走査顕微鏡用のアップグレードキットが含まれます。

Detail

超音波顕微鏡/超音波映像装置 “V シリーズ”

Kraemer Sonic Industries (KSI)

超音波で物体内部を高精細/高感度に検査・観察

Detail

AOディフレクタ(音響光学ディフレクタ)

Isomet

レーザービームスキャン(ランダム位置、ラインスキャン、連続スポットディフレクション)に最適なRF周波数制御ディフレクタ。高効率。スキャンレート 最高 250 kHz

Detail

量子カスケードレーザー・コントローラ“SideKick”

DRS Daylight Solutions

Daylight Solutions社のパルス、CW&パルス、CW-MHF 中赤外レーザー用の多機能コントローラ。業界トップクラスのノイズ性能を達成。

Detail

小型CWレーザー“Directシリーズ&Crystalシリーズ”

CrystaLaser

非常に多彩な波長ラインナップ・単一周波数モデル・低ノイズモデルなど幅広いタイプの半導体レーザー&DPSSレーザー。375~1444nm。最大出力2500mW。

Detail
TOPに戻る