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PDL/IL マルチメータ “PDL-201”
偏光依存損失 (PDL), 挿入損失 (IL), デバイスの光パワーをわずか30ミリ秒で同時測定。低/高の両PDL値を測定可能。
- 測定速度 30 ms
- 広い波長域
- 高い PDL精度
- OLEDディスプレイ
- アナログ出力
General Photonics社の PDL-201 は、特許取得済みの TIA/EIA-455-198 準拠 最大/最小サーチ技術により、偏光依存損失 (PDL), 挿入損失 (IL), デバイスの光パワーをわずか30ミリ秒で同時測定します。偏光スクランブリング法を用いるPDL計測器と異なり、低PDL、高PDLの両方を測定できる便利な装置です。またミュラー行列技術をベースとした装置と比べても、広い波長域を校正無しで計測できます。
リモートコントロール機能付きですので、自動またはセミオートのテストステーションでチューナブルレーザーと連動させることもできます。(システム統合用ソフトウェアも提供いたします。)
- PDL vs 波長測定
- DWDMデバイス評価
- センサコンポーネント評価
| 波長範囲 | 1260～1620 nm |
|---|---|
| 分解能 | 0.01 dB |
| PDL精度 ※1,2,3 | ± (0.01 + 5% of PDL) (dB) |
| PDL再現性 ※1 | ± (0.005 +2% of PDL) (dB) |
| PDLダイナミックレンジ ※4 | 0 to 45 dB |
| IL精度 ※1,5 | ± (0.01 +5% of IL) (dB) |
| IL再現性 ※1 | ± (0.005 dB +2% of IL) (dB) |
| ILダイナミックレンジ ※4 | 0 to 45 dB |
| 光出力範囲 (＠DUT出力ポート) | -40 to +6 dBm |
| 光出力精度 | ±0.25 dB |
| パワー測定の校正波長 | 1260～1360 nm 及び 1440～1620 nm |
| 測定速度 | 30 ms, 1測定当り, 入力 >-30 dBm |
| 使用温度範囲 | 0～50 ℃ |
| 保管温度範囲 | -20℃ to 70℃ |
| フロントパネルディスプレイ | OLEDグラフィック・ディスプレイ |
| 光コネクタタイプ | 光源＆ DUT入力: APC DUT出力: 自由空間ビームアダプタ |
| アナログ出力 | 0 to 4V PDLモニタ電圧 (0 to 3.5V PDLに対してリニア, 4V 低パワー表示) ユーザー設定 PDL範囲 |
| 電源 | 100～240 VAC, 50～60 Hz |
| 接続インタフェース | USB, GPIB, Ethernet, RS-232 |
| 寸法 | 2U 19インチ・ハーフラック幅, 3.5″ (H) ×8.5″ (W) ×14″ (L) |
※1 10サンプルの平均
※2 23 ± 5°C での値
※3 正確なPDL測定にはテストセットアップも影響します。詳細はご相談ください。
※4 入力パワー ≥0 dBm
※5 ユーザー定義のリファレンスによるパワーメータ測定モードにおける値
※2 23 ± 5°C での値
※3 正確なPDL測定にはテストセットアップも影響します。詳細はご相談ください。
※4 入力パワー ≥0 dBm
※5 ユーザー定義のリファレンスによるパワーメータ測定モードにおける値
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