Nanoview 1000 AFM

FSM Precision

従来のAFMの半分以下の低価格ながら、高いイメージング品質を発揮します。日本初上陸の高コストパフォーマンスAFMです。

従来のAFMの半分以下の低価格ながら、高いイメージング品質を発揮します。日本初上陸の高コストパフォーマンスAFMです。
 

  • 低価格で高分解能を実現
  • トポグラフィの他、位相、MFM, LFM, EFMに対応(一部オプション)。
  • 低ノイズ(ばね吊り下げ式でノイズ低減)
  • プローブ交換、レーザアライメント調整を簡単に行えます。
  • サンプルへのオートアプローチ機能によりクラッシュを防ぎます。
  • オートステップモータ駆動により狙った位置にアプローチを行えます。
  • 高精度のXYステージにより、走査エリアの選択が簡単に行えます。
  • 付属のCCDによりサンプルをリアルタイム観察することができ、測定位置調整に役立ちます。
  • モジュール設計により、メンテナンスや機能追加等が容易です。
  • 複数の走査モードコントロール回路の統合は、ソフトウェアオペレーティングシステムと連携します。
モデル Nanoview 1000 AFM
測定モード コンタクト-タッピングモード (オプション: コンタクト、フリクション、位相、磁気力、電気力)
最大サンプルサイズ Φ≤90mm、H≤20mm
走査範囲(XY) 20µm (オプション: 最大100µm)
走査範囲(Z) 2µm
走査分解能(XY) 0.2nm
走査分解能(Z) 0.05nm
サンプル位置調整距離 ±6.5mm
イメージ解像度 256 x 256, 512 x 512
光学像倍率 4x
光学分解能 2.5µm
走査速度 0.6Hz ~ 4.34Hz
走査制御(XY) 18bit D/A
走査制御(Z) 16bit D/A
データサンプリング 14bit A/D, double16-bit A/D multi synchronous sampling
フィードバック DSPデジタルフィードバック
フィードバックサンプリングレート 64.0 kHz
コンピュータインターフェース USB2.0
OS Windows XP/7/8/10