AOディフレクタ(音響光学ディフレクタ)
レーザービームスキャン(ランダム位置、ラインスキャン、連続スポットディフレクション)に最適なRF周波数制御ディフレクタ。高効率。スキャンレート 最高 250 kHz
レーザービームスキャン用に最適なRF周波数制御ディフレクタ
- スキャンレート 最高 250 kHz
- 高効率: スキャン掃引時にもブラッグ角整合を保持
- ランダム位置、ラインスキャン、連続スポットディフレクション
製品一覧
AOディフレクタは、レーザービームのスキャンに利用できます。RF周波数を変化させることで、ランダムな位置、連続的なラインスキャン、一連のスポット・ディフレクションを行うことができます。スキャンレートは、結晶、波長、ビームサイズに応じて最大 250KHz まで可能です。
最大の効率を得るには、入力レーザービームを駆動周波数の関数であるブラッグ角に合わせます。レーザービームをスキャン掃引する際、1つの駆動周波数でしか光学調整ができないため、ブラッグ角との整合がずれる場合があります。一般的にこれはスキャンレンジに応じた効率の低下を引き起こします。Isomet社ではこの現象を最小化する以下のようないくつかの方法を採用しています。
- 軸外し AOディフレクタ “OAD”: 複屈折結晶の非線形性による周波数応答を利用しており、ブラッグ角を最小化できます。
- ビームステアリング AOディフレクタ “BS”: 結晶内部の音響波列を、RF駆動周波数に応じて電気的に制御します。これには2つまたは4つのRF入力を備えた、電極を位相配列したトランスデューサが必要です。
音響光学製品について
Isomet社のAO製品は全て、結晶素材の1面に圧電変換器が取り付けられています。RF駆動信号がこのトランスデューサーに印加されると、結晶内に音響進行波が発生します。光弾性効果により、音響列が屈折率に回折格子のスリット効果によく似た周期的変化をもたらします。実用的なAO製品は、入射レーザー光が高い割合で1次回折光に回折されるよう設計されており、これらデバイスはブラッグ領域内で作動します。
ブラッグセルやスコホニー変調器、大開口径デバイスなど特殊用途向けにも対応いたします。お問合せください。
*モデル番号をクリックするとPDFファイルをダウンロードします。(ISOMETサイト http://www.isomet.com/ 内です)
UV ~Blue AOディフレクタ
モデル | A/Rコーティング | 結晶 | レイリー分解能1, 2 | 開口(mm) | 掃引バンド幅(MHz) | 中心周波数(MHz) | 特記 |
---|---|---|---|---|---|---|---|
D1393-T75S-8 | 400-500nm | TeO2 (S) | 110 | 8 | 14 | 75 | |
D1319-T220L-1p5 | 390-440nm | TeO2 | 70 | 1.5 x 3 | 100 | 220 | |
D1340-aQ120-5 | 343/355nm | Quartz | 25 | 5 | 30 | 120 | |
D1384-aQ120-9 | 343/355nm | Quartz | 50 | 9 x 12 | 40 | 120 | |
D1340-aQ130-5 | 280nm | Quartz | 25 | 5 | 30 | 130 | |
D1384-aQ170-7 | 343/355nm | Quartz | 100 | 7 x 12 | 70 | 170 | |
D1365-aQ180-4 | 266nm | Quartz | 35 | 4 | 60 | 180 | |
D1319-XY-T220L-2 | 405nm | TeO2 | 35 x 35 | 1.5 x 1.5 | 100 | 220 | 二軸 |
M1340-XY-aQ120-5 | 343/355nm | Quartz | 8 x 8 | 5 x 5 | 10 | 120 | 低分解能XY |
M1340-XY-aQ120-5 | 343/355nm | Quartz | 25 x 25 | 5 x 5 | 30 | 120 | 二軸 |
D1384-XY-aQ120-9 | 343/355nm | Quartz | 50 x 50 | 9 x 9 | 40 | 120 | 二軸 |
D1384-XY-aQ170-9 | 248nm | Quartz | 80 x 80 | 9 x 9 | 70 | 170 | 二軸 |
1 レイリー分解能は、単独で光学的に解像可能なスポット (角度) の最大数。
2 分解能の最小単位は無限で、 RFドライバの周波数分解能でのみ制限されます。
Blue ~Red AOディフレクタ
モデル | A/Rコーティング(mm) | 結晶 | レイリー分解能1, 2 | 開口(mm) | 掃引バンド幅(MHz) | 中心周波数(MHz) | 特記 |
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D55-T80S-2 | VIS | TeO2 (S) | 450 | 2 x 7 | 40 | 80 | |
D110-T120S-4 | 442-476 | TeO2 (S) | 1100 | 4 x 14 | 50 | 100 | 高分解能 |
D110-T120S-9 | 442-476 | TeO2 (S) | 750 | 9 x 9 | 50 | 100 | 大口径 |
D110-T100S-4 | VIS | TeO2 (S) | 1100 | 4 x 14 | 50 | 100 | 高分解能 |
D110-T100S-9 | VIS | TeO2 (S) | 750 | 9 | 50 | 100 | 大口径 |
OAD948-T100S-3 | 488 | TeO2 (S) | 600 | 3 x 8 | 50 | 100 | |
OAD1020-T100S-2 | 532 | TeO2 (S) | 600 | 2 x 8 | 50 | 100 | |
D1319-T180L-1p5 | 532 | TeO2 | 50 | 1.5 x 3 | 75 | 180 | 高速 |
D1340-aQ110-5 | 515/532 | Quartz | 40 | 5 x 7 | 35 | 110 | 高速 |
D1365-aQ180-4 | 515/532 | Quartz | 40 | 4 x 6 | 60 | 180 | 高出力 |
D1384-aQ110-7 | 515/532 | Quartz | 25 | 7 | 30 | 110 | 高出力 |
DXY110-T100S-9 | VIS | TeO2 (S) | 750×750 | 9 x 9 | 50 | 100 | 二軸 |
D1384-XY-aQ110-7 | 515/532 | Quartz | 25 x 25 | 7 x 7 | 30 | 110 | 二軸 |
1 レイリー分解能は、単独で光学的に解像可能なスポット (角度) の最大数。
2 分解能の最小単位は無限で、 RFドライバの周波数分解能でのみ制限されます。
NIR AOディフレクタ
モデル | A/Rコーティング | 結晶 | レイリー分解能1, 2 | 開口(mm) | 掃引バンド幅(MHz) | 中心周波数(MHz) | 特記 |
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D110-T50S-4 | NIR | TeO2 (S) | 550 | 4 x 14 | 25 | 50 | |
D110-T50S-9 | NIR | TeO2 (S) | 375 | 4 x 14 | 25 | 50 | |
D110-T70S-6 | 1um | TeO2 (S) | 350 | 6.3 | 35 | 70 | |
OAD1343-T70S-9 | 0.7-0.9um | TeO2 (S) | 395 | 9 | 30 | 70 | |
OAD1344-T70S-9 | 0.8-1.0um | TeO2 (S) | 395 | 9 | 30 | 70 | |
D55-T80S-2 | NIR | TeO2 (S) | 450 | 2 x 7 | 40 | 80 | |
D804-P80L-2 | 0.7-0.9um | PbMoO4 | 66 | 2 x 6 | 40 | 80 | |
D926-P145L-0.5 | 1um | PbMoO4 | 60 | 0.5 x 3 | 70 | 145 | |
D943-P185L-2 | 0.7-0.9um | PbMoO4 | 190 | 2 x 6 | 120 | 185 | |
D1312-T80L-6 | NIR | TeO2 | 40 | 6 | 30 | 80 | 高出力 |
D1412-T80L-3 | NIR | TeO2 | 40 | 3 x 6 | 30 | 80 | 伝導冷却 |
D1422-T85L-4 | 1um | TeO2 | 40 | 4 x 8 | 30 | 85 | |
D1135-T110L-4 | 1um | TeO2 | 95 | 4 x 8 | 50 | 110 | |
OAD1550-XY-T40S-7 | 1.55um | TeO2 (S) | 200 x 200 | 7 x 7 | 20 | 40 | 二軸 |
DXY110-T50S-9 | NIR | TeO2 (S) | 240 x 240 | 6 x 6 | 25 | 50 | 二軸 |
OAD1343-XY-T70S-9 | 0.7-0.9um | TeO2 (S) | 400 X 400 | 9 X 9 | 30 | 70 | 二軸 |
OAD1344-XY-T70S-9 | 0.8-1.0um | TeO2 (S) | 400 X 400 | 9 X 9 | 30 | 70 | 二軸 |
D1422-XY-T85L-4 | 1um | TeO2 | 20 x 20 | 4 x 4 | 30 | 85 | 二軸 |
1 レイリー分解能は、単独で光学的に解像可能なスポット (角度) の最大数。
2 分解能の最小単位は無限で、 RFドライバの周波数分解能でのみ制限されます。
Mid-IR ~IR AOディフレクタ
モデル | A/Rコーティング | 結晶 | レイリー分解能1, 2 | 開口(mm) | 掃引バンド幅(MHz) | 中心周波数(MHz) | 特記 |
---|---|---|---|---|---|---|---|
D1153-G60S-4 | 2.05 | Ge | 100 | 4 x 14 | 25 | 60 | 剪断、non-pol |
D600-G40L-7, 8 ,9 | 9.4/10.6 | Ge | 80 | 7,8,9 x30 | 16 | 40 | |
D1315-G50-7. 8, 9 | 9.4/10.6 | Ge | 70 | 7,8,9 x20 | 20 | 50 | パルスレーザー |
D600-G50L-7, 8, 9 | 9.4/10.6 | Ge | 100 | 7,8,9 x30 | 20 | 50 | |
D1199-G50L-7, 8, 9 | 9.4/10.6 | Ge | 100 | 7,9 x30 | 20 | 50 | |
D1378-G50L-12 | 9.4/10.6 | Ge | 50 | 12 | 20 | 50 | |
D1011-G70L-10 | 9.4/10.6 | Ge | 436 | 10 x 60 | 40 | 70 | 高分解能 |
D1208-XY-G50L-3 | 9.4/10.6 | Ge | 10 x 10 | 3 x 3 | 20 | 50 | 二軸 |
1 レイリー分解能は、単独で光学的に解像可能なスポット (角度) の最大数。
2 分解能の最小単位は無限で、 RFドライバの周波数分解能でのみ制限されます。
標準ARコーティング
結晶\ARコーティング | NUV | VIS | NIR | MIR | IR |
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Quartz | 235-250nm 330-360nm | 488-532nm | 700-1000nm 1.06μm | ||
Fused Silica | 355nm | 532nm | 1.06μm | ||
TeO2 | 355nm 360-420nm | 488-633nm 532nm | 633-830nm 830-1064nm 1.1μm, 1.3μm, 1.55μm | ||
PbMoO4 | 442-488nm 488-633nm 532nm | 633-830nm 830-1064nm 1.1μm, 1.3μm, 1.55μm | |||
Glass | 450-700nm 532nm | 700-1000nm 1.06μm | |||
Germanium | 2.5-5.5μm 2.05μm | 9.4μm 10.6μm |
ドライバ
Isomet社では、音響光学ディフレクタ用にRFパワーレベルと周波数を生成するのに特別に設計された種々のドライバを製造しています。周波数固定モデルには全て、結晶制御オシレータ が含まれ、最高の安定性と長時間信頼性が得られるよう最適化されています。デジタル変調モデルは TTL入力信号を受容し、振幅のオン/オフ制御を行えます。アナログモデルでは比例関数的な振幅制御が可能です。
- 周波数可変 シングル出力タイプ
- 周波数可変 マルチ出力タイプ
- 水冷タイプ
※各デバイスのドライバ及びエレクトロニクスの選定・詳細については日本レーザーまでお問合せください。