その他の製品 一覧

配管据え置き型 インライン濁度計 “TC007”

KEMTRAK

長寿命LEDを搭載した光散乱原理の濁度計。過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザインです。

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超小型 高分解能 ロータリーステージ “M3-RS”

New Scale Technologies

小型ロータリー位置決めステージ。高分解能 0.022 °を超える精度で位置決めが可能です。クローズドループ制御で帯域幅100Hzまで対応。駆動部や位置センサなど一体型のモジュールで外部コントローラが不要。UART, SPI, I2C ,アナログサーボのインターフェイスで制御が可能です。組込み用途でご使用いただけます。また開発キットもご用意いたしております。

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AFM-IR装置 Vista One, IR-PiFM / PiF-IR 

Molecular Vista
[新商品]

ナノスケールIR化学分析用のオリジナルPiFM用AFM。 Vista One は、FTIR やナノ FTIR よりも詳細なナノスケールのケミカルマッピングと点スペクトルを取得します。

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PIV アクセサリ

Oxford Lasers

VisiVector PIVシステムには、PIV計測を行うための様々なアクセサリーがあります

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LIBSオンライン元素分析システム

SECOPTA

オンライン・インラインLIBS元素分析システム。製造ラインにおけるリアルタイム元素分析。代表的応用例は異材混入の防止(鉄鋼製造)PMI、製造プロセスにおけるオンライン元素モニター、ベルトコンベヤ上の各種原材料(石炭、鉱石、焼結体、塩、スラグなど)のオンライン分析等が可能です。

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装置組込み用白色干渉計・共焦点顕微鏡 S neox sensor

SENSOFAR Metrology

S neoxは多機能かつ高性能な機能をもつ組込み可能な3D測定センサです。共焦点・白色干渉計・焦点移動による3D表面形状測定加えて、膜厚測定ができ、幅広いアプリケーションに対応。自動3D測定が可能。

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レーザークリーニング装置

[オススメ]

100Wと200Wモデルがございます。200Wモデルは錆取りや塗装膜除去に最適なレーザーを搭載しております。

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噴霧解析システム (画像解析式) “Envision Patternate”

Oxford Lasers

噴霧映像をから広がり角度や拡散パターンを解析

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レーザパワーメータ, エネルギーメータ(ディスプレイ)

Ophir

オフィール社の豊富なセンサに対応するディスプレイまたはコンピュータインターフェース。業界最高の校正精度、高性能、優れた操作性。使い勝手抜群のユーザーフレンドリーなレーザパワー/エネルギ測定用ソフトウェア。サンプルコマンド公開により、COMオブジェクトやLabVIEWなどユーザーが自由かつ容易にプログラミング可能。

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差分フォトディテクタ “BPD-003”

General Photonics

OCTやセンシングのSN比を改善するためには、高性能なバランスフォトレシーバが必要です。BPD-003は最大300MHzまでの帯域に対応します。OEM用に特別設計された低価格、小型、高性能な製品です。

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高性能 蛍光寿命分光装置 FluoTime 300

PicoQuant

蛍光寿命と定常状態の両分光計測が可能な、高性能な完全自動化 分光装置です。時間相関単一光子計数(TCSPC)またはマルチチャネルスケーリング(MCS)により、ピコ秒からミリ秒までの蛍光寿命をカバーします。定常状態と時間分解の両方の分光計測が可能です。

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AFMプローブ Tipless チップレスカンチレバー

MikroMasch

チップレスシリーズは、チップの片側に異なるばね定数と共振周波数を持つ3つのチップレスカンチレバーを備えています。 本シリーズは以前の12シリーズに代わるものです。
チップレスカンチレバーは材料特性と相互作用の測定に使用できます。 ガラス球やポリスチレン粒子などをチップレスカンチレバーに取り付け、AFMのような実験に適用することができます。

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簡易型レーザークリーニング装置

TRUMPF (旧SPI Lasers)

ナノ秒パルスファイバーレーザー使用 高速&高品質 表面クリーニング。100W or 200W出力モデル

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ビームアライメント装置一覧

Duma Optronics

長時間・長距離アライメントも高精度モニタ

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光コネクタ端面3D測定干渉計

SUMIX
[新商品]

光コネクタの端面を3Dで測定可能な干渉計です。マイケルソン干渉計使用、幅広いタイプのファイバコネクタに対応した高分解能・広範囲で測定が可能。IEC(国際規格)に準拠した研磨品質の確認・コネクタ端面の形状の検査が可能です。

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プロセスフォトメータ(濃度・色モニタ)”DCP007″

KEMTRAK

インライン用の吸光光度計。プロセスの濃度・色測定に最適。
過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザイン。

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ピエゾ駆動光学マウント

piezosystem jena

種々のコンポーネントやアプリケーションに柔軟に対応できる製品を多数ラインナップ

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OEMレーザーマーカー

Photon Energy

レーザーマーキングシステムへの搭載用レーザーマーカー。独立型&コンプリートシステムで他のアセンブリラインや特殊マシンへの組み込みにも最適。

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PXIプラットフォーム (コントローラ・通信用レーザー・パワーメータ・可変減衰器・コンバータ等)

Quantifi Photonics
[オススメ]

PXI(PCI Extensions for Instrumentation)に対応。通信用レーザー・パワーメータ・コンバータ・減衰器・光/電気コンバータ等を1つのプラットフォームに一体化することが可能です。高い拡張性から計測モジュールの交換が可能。用途に合わせて複数のレーザーやパワーメータなど組み合わせカスタマイズが出来ます。使い易いソフトウェアでプラットフォームの全ての機能にアクセス頂けます。

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フォーカスチューナブルレンズ(焦点可変レンズ)EL, ELMシリーズ

Optotune

電動チューナブルレンズ、手動チューナブルレンズ、ELM(電気式レンズモジュール)の3つの製品ランナップ。高速応答、堅牢性、高信頼性を備えレーザー加工から研究分野、3Dプリント等まで幅広いアプリケーションでご使用いただけます。

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蛍光分光計(コンパクト卓上タイプ・完全自動化計測システム・データ分析ソフトウェア)

PicoQuant

日常業務用、教育用のコンパクトな卓上分光計から、数ピコ秒単位で測定可能な高性能の分光計まで多彩な蛍光分光計をラインナップ。サンプルは液体(キュベット)、固体、ウェファーに対応。 ソフトウェアでデータフィッティング、減衰分析に対応。

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PMD & PDL 校正標準器“CSシリーズ”

General Photonics

DGD, 2次 PMD, PDL の校正標準器。使用材料固有の光学及び複屈折特性により、高い精度を保証。

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266nm 355nm 532nm 1064nm 単一周波数固体レーザー “EXCITE シリーズ”

Xiton Photonics
[新商品]

単一周波数固体レーザーシステムのEXCITEシリーズは、UV領域のアプリケーションに対応します。ウエハ検査、分光器の校正、干渉計のアプリケーションに使用いただけます。理論的なフーリエ限界に近い値である50MHz以下のスペクトル帯域幅を実現しています。

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厚膜ポジティブ/ネガティブ・トーン・フォトレジスト

micro resist technology

400nm近傍の波長に感度を有する厚膜フォトレジスト。マスクレス・リソグラフィのアプリケーションを拡げます

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