AFM-IR装置 Vista One, IR-PiFM / PiF-IR 

Molecular Vista

新商品

ナノスケールIR化学分析用のオリジナルPiFM用AFM。 Vista One は、FTIR やナノ FTIR よりも詳細なナノスケールのケミカルマッピングと点スペクトルを取得します。

PiFM用AFM Vista One 特徴

PiFM方式を採用することにより、従来のAFM-IRの欠点を克服した最も先進的なAFM-IR機器です。半導体ポリマー無機物ナノフォトニクス等の各種用途で使用いただいています。
 

最高解像度での特性評価

PS-b-PMMA_AlOx_layers-1518x1536
 
サブ 10 nm PiF IR 分光法
 

  • ナノスケール IR 実験用に広帯域波長可変レーザーを使用。
    スペクトル分解能1cm-1
  • 単分子層レベルの表面感度

サブ 10 nm PiFMケミカルマッピング
 

  • 単分子層レベルの表面感度
  • 有機材料と無機材料の両方に対応します。
右上のPiFM画像は、酸化アルミニウムが浸透したPS-b-PMMA
ブロック共重合体を示しています。ラメラのフルピッチは
41 nmですが、PSの幅はわずか約 9 nm です。

適切な光学系の搭載を実現

VistaScope_One-head_with_cantileaver-1536x1024
あらゆる光源に対応できるように設計されています。
 
3D駆動の放物面ミラーは、使用される光の波長に関係なく、励起光をチップの側面に集束させます。
 
カンチレバーの高速アライメント
 
装置に搭載のカンチレバー アライメント チップにより、カンチレバーを交換したとしても、AFMフィードバック用のレーザと近接場用レーザの両方の光学的アライメントが維持されます。

Vista One のヘッドは、光学的なアライメントを
失うことなく、サンプルやチップを交換するため
に取り外すことができます。

短時間で測定可能

PiFM_chemical_analysis_across_polymer_interface-1536x1174

  • 最速 100 ミリ秒 / 1点でPiF IR スペクトルを掃引できます。
  • 既存の FTIR スペクトルを使用して材料を識別します。
  • 固定波長のPiFM像(ケミカルマッピング)は、X および Y 方向に最大 80 µm の範囲で数分で取得できます。
  • サンプルを交換しても光学的アライメントは維持されます。
  • hyPIR ™ イメージングと当社の自動主成分分析ツールは、最小限の労力で完全な画像およびスペクトル データセットを提供します。
10 nm 間隔のPiF -IR スペクトルは、
3つのポリマー(エポキシ、pDEGDA、SDIB)
の界面にわたる材料の変化を示しています。

精度を重視した設計

静電容量センサー + 光学式エンコーダー
 
装置に搭載の電動ステージの移動範囲は6 mmです。精密制御のための光学式エンコーダを備えています。AFM スキャナーの静電容量センサーは、~100 pm RMS 精度のリニアスキャンを実現しています。
Dual-Z-Piezo-AFM-Topography
デュアルZスキャン機構
 
アーティファクトを発生させることなく、画像のサンプリングを高速化します。本装置のデュアルZピエゾスキャナシステムは、12 µmの大きな垂直範囲で正確なスキャンを実現します。
デュアルZピエゾシステムを使用するとで、
微細なトポグラフィがより鮮明になります。

アクセスしやすく安定したAFMヘッド

Vista-One-Low-Profile-Head-Scanner-1536x1024
薄型で安定したAFMヘッド
 
薄型のAFMヘッドにより、高い開口数の対物レンズを使用が可能です。これにより、サンプルのはっきりとした光学的観察が行えます。ヘッドは、低ドリフトと音響安定性を実現する最も安定したマウント構造です。
薄型のヘッドは安定性が高く、上面から
の作業距離は13mmと小さくなっています。

多彩な光路

Vista_One_optical_views-1536x1051
倒立光学系
 
ナノ精度の独立したスキャンにより、3D空間で励起用光源の焦点スポットを移動できます。
 
多くの光学的観察が可能
 

  • ヘッド上部の対物レンズ、筐体内部の下方向からの光学系、および放物面ミラーを介して、AFMチップの上部、下部、または側面にアクセスします。
  • PiFMおよびPiF -IR用に最大6つのレーザーを搭載可能です。
AFMチップは光学的に励起したり、
上面、底面、側面からの観察が可能です。

カスタマイズ可能な環境

Vista_One_Environmental-Vacummn_Cover-1536x1408
オプションの環境カバー
 
オプションの環境/真空カバーを使用すると、顕微鏡環境全体をカスタマイズできます。具体的にはガスの分圧下で実験を行う、または湿度の制御が可能です。
測定室に環境制御用カバーを備えた Vista One

温度調節・ノイズ対策

 

Vista-One-Multiplexer-Enclosure-Envir
ノイズ対策
 
安定した場所である限り、Vista Oneをどこにでも設置でき、音響エンクロージャー、アクティブ除振台、外部ケーブル フレームの組み合わせにより、AFM測定へのノイズを最小限にします。
 
温度調節
 
装置搭載のアコースティックチャンバーは、システム全体を±0.1℃以内に安定に保つための温度制御ユニットを備えています。

多用途かつカスタマイズ可能

Vista-One-Microscope-Frame-1536x1024
あらゆる光学技術に対応
 
Vista One は、あらゆる光学実験に対応できるように設計されたMolecular Vista社のオリジナルのPiF顕微鏡です。また、sSNOM、共焦点ラマン、および多くのカスタム設計もサポートしています。
 
あらゆる光学部品をカスタマイズ
 
ThorLabsおよびその他のサプライヤーからの標準的な光学コンポーネントを使用しています。独自のシステムに縛られることがなく、Vista Oneは本質的にあらゆる構成が可能となっています。
 

  • これらの機能にはオプションのアクセサリが必要です。
  • 典型的な実験室環境を想定しています。AFM のパフォーマンスは安定した表面上の静かな部屋で最高のパフォーマンスを発揮します。そのため結果は状況によって異なります。

Vista Oneフレームは、sSNOM、KPFM、共焦点ラマンなど、ほぼすべての光学AFM実験が行えるようにカスタマイズ可能です。

製品構成の例

Vista One IR
AFM本体 Vista One フレーム
ノイズ対策アクティブ防振台、および
温度制御付き音響エンクロージャ
レーザー QCL の選択レーザー:
QCL (770 – 1850 cm -1 )
または
OPO/DFG (550 – 2050、2250 – 4400 cm -1 )
レーザーマルチプレクサー中型サイズ (最大 3 つのレーザー入力と偏光スイッチング)
または大型サイズ (最大 6 つのレーザー入力と偏光スイッチング)
オプション環境/湿度制御用カバー、加熱ステージ、偏光スイッチャー、
乾燥空気ろ過器、KPFM、cAFM 、PFM、フォースボリュームマッピング、
分光計、フォトンカウンター (SP-APD)、s-SNOMモジュール、倒立光学系
Vista One IR +s-SNOM
Vista One IR に含まれるものに加え、下記のものが含まれます。
マルチプレクサ大型
必要なオプション s-SNOMモジュール
Vista One IR +PL/ラマン
Vista One IR に含まれるものに加え、下記のものが含まれます。
レーザー QCL、可視ダイオードレーザーの選択
マルチプレクサ大型
必要なオプション分光計
Vista One DIY
AFM本体Vista One フレーム
ノイズ対策アクティブ防振台、および温度制御付き音響エンクロージャ
レーザー 自前の光源と組み合わせることが可能です
オプションレーザーマルチプレクサーをはじめ、そのほかオプションを選択可能

※リンクは外部英文サイトに遷移します。

半導体

Figure-5-1536x1150ナノ化学的特性評価により、単層表面機能化のコーティングの問題が明らかに
表面を変更して、その後の分子相互作用に影響を与えることは重要な技術です。

ポリマー

Featured Image:Twitter調理済みご飯パッケージのリバース エンジニアリング
多層フィルムは、長年にわたって食品や飲料の包装に利用されてきました。

無機物

AFM-IR-ラマン: より優れたナノ化学分析のための 3 つの技術の使用 Using-Raman-and-PL-with-PiFM-TwitAFM-IR-ラマン: より優れたナノ化学分析のための 3 つの技術の使用
ラマン顕微鏡の人気はますます高まっており、各社は分析をより効率的にするため他の技術と組み合わせた新製品を開発しています。

ナノフォトニクス

UV-vis-NIR PiFM を使用したプラズモニックナノ構造上の近接場光の分光法とイメージングUV-vis-NIR PiFM を使用したプラズモニックナノ構造上の近接場光の分光法とイメージング
プラズモニック ナノ構造内の電場のZ成分を局所的にマッピングします。

その他アプリケーション事例・論文リスト

各種アプリケーション事例
論文リスト

TOPに戻る