製品情報

製品一覧

可視光-中赤外 CW用 レーザー・スペクトラム・アナライザ(LSA) “771シリーズ”

Bristol Instruments

CWレーザー測定対応。波長精度 最高±0.0001nm。1台で波長測定&スペクトル分析が可能。可視光(VIS)から中赤外(MIR)領域まで (375nm to 12μm) の波長域をカバー。マイケルソン干渉計ベース。パルスレーザー(>50kHz)の測定が可能。

Detail

超小型 高分解能 リニアアクチュエータ “M3-L”

New Scale Technologies

M3-Lは小型の高分解能位置決めシステムです。アクチュエータにドライバーとクローズドループコントローラを内蔵。3.3V 駆動、I2C、SPIなどシリアル制御可能。コンパクトで組み込みし易くOEM機器への使用に最適です。開発キットもご用意いたしております。

Detail

マイクロドリリングシステム“ProbeDrill 355”

Oxford Lasers

高速・微細な多穴加工(円および四角形状)

Detail

ペタワット出力フェムト秒レーザー PULSAR PW

Amplitude Technologies

世界最高クラスの1PW級ピーク出力を実現。信頼性の高い超高強度フェムト秒レーザー。最大25J。パルス幅 20fs以下。繰返し周波数 最高5Hz

Detail

光学特性評価サービス

ASE Optics Europe

様々な光学システムに対応した計測・特性評価サービスを提供、カスタム設計も対応。お客様の光学システム全体の性能評価を行い最適化をご提案が可能です。特定の光学特性評価や計測目的で最先端かつカスタムの装置やベンチを構築も可能です。

Detail

AFMプローブ HQシリーズ

MikroMasch

位相イメージングは、異種材料や特性の不均一性を持つサンプルにおいて、ナノスケールの違いをイメージングするために用いられるAFM技術の一つです。位相コントラストは、チップとサンプル間の相互作用に基づきますが、これらの相互作用は、スキャンパラメーターや、イメージングの測定モード(原子間力の引力領域か斥力領域で捜査しているかなど)に依存します。O’DeaとBurratoは、位相イメージングを使用して、Nafion膜のプロトン伝導ドメインをマッピングしました。彼らは、先端とサンプルの間の特定の相互作用力がプロトン伝導ドメインの分解能に大きく影響することを発見しました。斥力レジームでのイメージングにより、ドメインの面積が大きめに表示され、ドメインの数が少なめに表示されました。引力領域でのイメージングにより、水やフルオロカーボンのドメインが最も正確に測定できました。AFMのフィードバックループが最適化されていない場合、またはカンチレバーが共振周波数を超えて駆動していた時、位相イメージングは組成の違いではなく、形状の変化に対応するイメージになりました。

Detail

偏波スクランブラ “PCD-104”

General Photonics

全てファイバーで構成することで、挿入損失と後方反射を抑えた、偏波スクランブラーです。偏波依存利得(PDG)、偏波感受性の低減やPDL測定等向けに、偏光状態をランダム化することが可能です。

Detail

高性能 蛍光寿命分光装置 FluoTime 300

PicoQuant

蛍光寿命と定常状態の両分光計測が可能な、高性能な完全自動化 分光装置です。時間相関単一光子計数(TCSPC)またはマルチチャネルスケーリング(MCS)により、ピコ秒からミリ秒までの蛍光寿命をカバーします。定常状態と時間分解の両方の分光計測が可能です。

Detail

266nm CW, 超小型UV DPSSレーザー“FQCW266シリーズ”

CryLaS

266nm, CW(連続波)レーザー, 出力 10~550mW 空冷式。縦モードシングル 300kHz

Detail

中赤外MCTディテクタ

DRS Daylight Solutions

4~12 μm 中赤外パルスレーザーの検出に最適な室温動作ディテクタ

Detail

最大250μJ出力 高機能フェムト秒/ピコ秒レーザー Tangerine

Amplitude Systemes

革新的なファイバアンプ技術によるコンパクト、ハイパワー、高エネルギー、高繰り返しのフェムト秒/ピコ秒ファイバレーザー。パルス幅 <350 fs to >10 ps または最短 150 fs まで、繰返し周波数 single shot to 40MHz、最大平均出力 50W、最大パルスエネルギー 250 µJ。

Detail

1342 nm 671 nm 447 nm LD励起固体 Qスイッチ レーザー“IDOLシリーズ”

Xiton Photonics
[新商品]

1342 nm 671 nm 447 nmでのQスイッチレーザー。平均出力1.5~4W。レーザー微細加工、シリコン加工、ステルスダイシング、ディスプレイ修理などにご利用いただけるレーザーです。

Detail

フォーカスチューナブルレンズ(焦点可変レンズ)EL, ELMシリーズ

Optotune

電動チューナブルレンズ、手動チューナブルレンズ、ELM(電気式レンズモジュール)の3つの製品ランナップ。高速応答、堅牢性、高信頼性を備えレーザー加工から研究分野、3Dプリント等まで幅広いアプリケーションでご使用いただけます。

Detail

独自の単一分子感度 時間分解型共焦点蛍光顕微鏡 MicroTime 200

PicoQuant

独自の単一感度を持つ時間分蛍光顕微鏡。最大で6つの個別チャンネル検出が可能。蛍光寿命イメージング(FLIM)、FLIM/FRET、深部組織FLIM、PIE、FCS/FCCS、FLCS/FLCCS、二重焦点FCS、スキャニングFCS、異方性、バースト解析等が可能。2DおよびDイメージング用のピエゾスキャンに対応。

Detail

光アイソレータ/ファラデーローテータ

Coherent (旧 Electro-Optics Technology)

多彩な光アイソレータ/ファラデーローテータをラインナップ。波長範囲、開口径(アパーチャ)、出力を選択いただけます。高透過率の優れたアイソレーションを実現した製品です。

Detail

AO周波数シフタ(音響光学周波数シフタ)

Isomet

光ヘテロダイン計測等に便利な小型の周波数シフタ。複数のデバイスのカスケード接続も可能

Detail

MicroSense 8800 シリーズ 静電容量変位センサ

MicroSense

優れた温度特性と高分解能を実現。制御用途でのフィードバックセンサに最適。

Detail

テラヘルツ分光解析装置“T-COGNITION”

HÜBNER

テラヘルツ分光により、封書や小包の中に隠された有害物質を正確に、わずか数秒以内で同定

Detail

Soft ResiScope(ソフトレジスコープ)

CSInstruments

ソフトレジスコープを使用すると、壊れやすい導電性サンプルの抵抗と電流を測定できます。 ソフトレジスコープモードでチップに適用される特定の垂直方向の動きは、接触時の電気的測定を最適化し、チップとサンプルを保持します。 市場で入手可能な他の振動技術とは異なり、ソフト抵抗器はサイクル中一定の力で電流/抵抗を測定します。 電気的測定は、AFM接触モードで行われた測定と同等ですが、より壊れやすいサンプルを測定が可能です。

Detail

最大150μJ出力 高機能フェムト秒/ピコ秒レーザー Satsuma

Amplitude Systemes

革新的なファイバアンプ技術によるコンパクト、ハイパワー、高エネルギー、高繰り返しのフェムト秒/ピコ秒ファイバレーザー。パルス幅は最短 350 fs – 10 ps、繰返し周波数 single shot to 40MHz、最大平均出力 50W、最大パルスエネルギー 150 µJ

Detail

ハイパワービーム分析装置一覧

Duma Optronics

50kW/cm2超のパワー密度でも歪みのない正確なビームサンプリングを実現

Detail

高温測定用 超小型非接触温度計“MI3シリーズ MI1M/2M”

Fluke Process Instruments

超小型温度センサーヘッド、冷却なしで120℃までの温度環境で使用可能。IP65準拠で工業用アプリ ケーションに最適

Detail

超短光パルス抽出用レーザースイッチングシステム

Conoptics

ピコ秒及びフェムト秒の高速パルスの間引き用に開発

Detail

70W出力 Qスイッチ半導体励起固体レーザー“CL240シリーズ”

Canlas

波長1064nmで70W出力、 532 nmで20W出力。パルス毎にパルスエネルギー変調可能。繰返し周波数 1-400kHz。ショートパルスタイプをご用意。

Detail
TOPに戻る