レーザースペックルリデューサー&ビームホモジナイザー LSR-4C
レーザースペックル低減とビームの均一化が可能.。可動式のディフューザー(拡散版)によるレーザースペックルリダクター。過酷な環境でも使用可能な堅牢設計。高q-factorで低消費電力。振幅範囲 800μm。
ツインエアー方式高精細ディスペンサ Twin-airⓇ
極微量滴下を可能にしたツインエアー方式。独自技術のセルフサックバックで液だれ、濡れ上がり無し
高精度・多層膜・非接触 厚み計 157/137シリーズ
※デモ機あり、サンプル測定可能 高精度 (±0.1 μm)、12μm から 80mmの広い範囲が測定可能な膜厚計(厚み計)です。独自の非接触光学技術を採用。硬質材料と軟質材料の両方を、損傷や変形なく厚さ測定をすることができます。最大31層の厚みを同時に測定することが可能です。
静電吐出方式高精細ディスペンサ Q-Jet
エアー式ディスペンサでは実現不可能な細線描画、ピエゾ式インクジェットでは不可能な高粘度吐出を可能にする従来の常識を覆した高機能パターニング技術。
OCT/センシング用 バランスフォトディテクタ”BPD-002″
高性能なOCT用バランスフォトディテクタ BPD-002 を使用することでSN比を向上することができます。研究開発において使用されることを目的に設計されています。
2μm ナノ秒パルス ファイバーレーザー “PowerWave2000-ns”
中赤外スーパーコンティニューム光源の励起に最適。中心波長 1900~2000 nm、繰り返し周波数 kHz~MHz、パルスエネルギー10 μJにて最大出力10 W
AOチューナブルフィルタ(音響光学可変フィルタ)
音響光学デバイスによる電気制御スペクトルバンドフィルタ 。可視~赤外・中赤外までの光を厳密にフィルタリング
動的画像式 粒度・形状分布測定装置 QICPIC
パルスレーザーによる高速撮像によって多数の粒子を測定するため、個々の粒子を測定しながらも、統計的に信頼性の高い解析が可能です。全ての粒子画像が生データとして保存されるため、形状も定量的に解析できます。乾式・湿式を問わず多様な試料に対応します。(測定範囲 0.55~34000µm)
ラインスキャナ型 非接触温度計“MP150シリーズ”
512ポイントでの測定が可能な温度計測用高精度ラインスキャナ
サブテラヘルツ Sub-THz レーダー トランシーバー
FMCW(周波数変調連続波)レーダートランシーバーは、最先端のショットキーダイオード技術に基づくサブTHzデバイスです。最大100 dBのダイナミックレンジ、高い測定レート(7.6 kHz)、優れた透過性と高い解像度を持ち、様々な用途で非接触非破壊検査、密度深度測定、3Dイメージングなど様々なセンシングツールとしてお使いいただけます。
ビットエラーテスター パルスパターン発生器
高密度マルチチャンネルのパルスパターン発生器及びビットエラー検出器です。光トランシーバーや光学電子部品での設計、特性評価、製造用のテストで使用いただけます。
広帯域 波長可変レーザー 400-1000nm SuperK CHROMATUNE
SuperK CHROMATUNE は超広帯域な波長可変レーザーです。400-1000 nm もの広い波長域をギャップフリーでカバーし、1mW の光パワーを一定に出力します。寿命は数千時間で、信頼性の高い製品です。メンテナンスフリーで、アライメントや調整も不要です。
ビームプロファイラ ( カメラ式 & スリット式 )
UV~ミリ波。CW、パルスの両レーザー光に対応。高精度で信頼性の高いレーザビーム計測機器
高出力レーザー用非接触ビームプロファイラ“BeamWatch”
BeamWatch™ ビームウォッチ 非接触・集光スポット径・ビーム位置計測ビームモニタリングシステム。測定パワー範囲 400W – 100kW。波長 980-1080 nm
溶接の可視化装置 VisiWeld
溶接のアークや炎の光の中を可視化する溶接可視化システム
コンパクト偏波ディテクタ “PDD-003”
2つの直行した偏光成分の光パワーを同時に計測します。
小さなボディーに偏光スプリッタとフォトディテクタを内蔵しています。
ミニマルCD-SEM
ミニマル規格※に準拠。コンパクトで可搬型ながら高解像度パターン観察を実現した、測長機能付SEM
(※「ミニマル」は独立行政法人産業技術総合研究所の登録商標です。)
金属単結晶・酸化物単結晶・合金単結晶
金属単結晶・酸化物単結晶・合金単結晶試料の高品質品を高精度加工
独自の単一分子感度 時間分解型共焦点蛍光顕微鏡 MicroTime 200
独自の単一感度を持つ時間分蛍光顕微鏡。最大で6つの個別チャンネル検出が可能。蛍光寿命イメージング(FLIM)、FLIM/FRET、深部組織FLIM、PIE、FCS/FCCS、FLCS/FLCCS、二重焦点FCS、スキャニングFCS、異方性、バースト解析等が可能。2DおよびDイメージング用のピエゾスキャンに対応。
LIBSシステム(超高速インライン向け)
完全インライン向けLIBSシステム。20kHzの超高繰返し測定(カスタムで100kHzまで可)
蛍光寿命イメージング・相関解析ソフトウェア SymPhoTime 64
強力な64ビットTTTRデータ取得と分析を行うソフトウェアです。時間分解共焦点顕微鏡MicroTime 200、MicroTime 200、LSMアップグレードキット、またはTCSPC機器でのデータ取得及び、分析のためのソリューションを提供。スクリプト言語「STUPSLANG」により、新しい分析手順を自由に追加、既存の分析手順をカスタマイズ可能。デモ機をご用意しております。
偏波ディテクタ “PDD-001”
偏光スプリッタとフォトディテクタ、回路をコンパクトなボディに組み込んだ偏光フォトディテクタです。高い消光比と信頼性を備えたモデルです。
レジスコープ “ResiscopeII”
AFM 超高感度電流増幅器
Optics製品
ニューポートのコーティング技術は、高出力のエキシマからYAGまで、 広範囲に亘って対応しています。
ニューポート社製 Optics製品の詳細は、専用サイトをご参照下さい。