ビームプロファイラ

Ophir

UV~ミリ波。CW、パルスの両レーザー光に対応。高精度で信頼性の高いレーザビーム計測機器

UV~ミリ波。CW、パルスの両レーザー光に対応
  • ビーム計測の標準であるISO11146-3に基づくベースライン補正機能を採用
  • 高精度で信頼性の高いレーザビーム計測機器を提供
  • ご用途に合わせてカメラ式かスリット式をご選択ください

カメラ式プロファイラ BeamGage & BeamMic


  • ベースライン補正機能Ultracalの採用でより正確なビーム測定と表示が可能
  • UV~ミリ波(波長域13nm~3mm)まで、あらゆるレーザー光に対応したCCDカメラ(USBおよびFireWire接続)、ビームサンプラーやND減衰器をご用意
  • ビームの品質管理を簡単に行う事ができ、ノートPC対応でさらにコンパクト化を実現。エクセル形式、テキスト、ビッドマップ他でデータを保存可能
  • CW、パルスレーザーどちらも測定可能

 

スリット式プロファイラ NanoScan

  • 大口径のディテクタで受光されたレーザビームを、1つ又は2つのスリットで端から端までスキャニングし、スリットを透過した光をディテクタでモニタリング
  • レーザ光の一部分がスリットから入射するので、高出力レーザビームであっても減衰器不要でダイレクトに計測可能
  • CW、パルスレーザーどちらも測定可能

 

機種選定にあたって

ご用途に最適な機種を選択するため、以下4つの点をご確認ください

 

  1. 波長
    どの波長帯域を計測したいかにより、ディテクタの選択がある程度絞り込まれます。たとえば、UVや可視光波長領域である250nm~1100nm付近までの光源を計測するには、その波長領域に感度のあるシリコンディテクタが最適です。
  2. ビームサイズ
    計測したいビームサイズによりプロファイラのタイプが決まり、ピクセルサイズによって、アレイが決まります。
  3. パワー
    光源の出力によってディテクタのタイプが決まり、減衰光学系やビームスプリッタの必要性が決まります。CCDカメラは減衰器を必要とすることが多い一方で、スリットタイプは不要です。
  4. CW(連続)とパルスレーザ
    1kHz以下の周波数で発振するパルスレーザにおいては、スリットスキャンでは十分なデータが取得できないためリアルタイムの測定が行えません。そのため、CCDカメラ等の2次元アレイのセンサが好ましく、CWもしくは1KHz以上のパルスレーザの測定にスリットスキャンが使用できます。
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