UV~ミリ波。CW、パルスの両レーザー光に対応
- ビーム計測の標準であるISO11146-3に基づくベースライン補正機能を採用
- 高精度で信頼性の高いレーザビーム計測機器を提供
- ご用途に合わせてカメラ式かスリット式をご選択ください
カメラ式プロファイラ BeamGage ソフトウェア対応
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スリット式プロファイラ NanoScan
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機種選定にあたって
ご用途に最適な機種を選択するため、以下4つの点をご確認ください
- 波長
どの波長帯域を計測したいかにより、ディテクタの選択がある程度絞り込まれます。たとえば、UVや可視光波長領域である250nm~1100nm付近までの光源を計測するには、その波長領域に感度のあるシリコンディテクタが最適です。 - ビームサイズ
計測したいビームサイズによりプロファイラのタイプが決まり、ピクセルサイズによって、アレイが決まります。 - パワー
光源の出力によってディテクタのタイプが決まり、減衰光学系やビームスプリッタの必要性が決まります。CCDカメラは減衰器を必要とすることが多い一方で、スリットタイプは不要です。 - CW(連続)とパルスレーザ
1kHz以下の周波数で発振するパルスレーザにおいては、スリットスキャンでは十分なデータが取得できないためリアルタイムの測定が行えません。そのため、CCDカメラ等の2次元アレイのセンサが好ましく、CWもしくは1KHz以上のパルスレーザの測定にスリットスキャンが使用できます。
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