分散器によって分散された粒子をパルスレーザー光源で照明し、対面のCMOSカメラで撮像します。光源からカメラにかけてテレセントリック光学系で構成されているため、測定エリア内の粒子はカメラからの距離によって粒径が変化することなく、正しく撮像されます。光源の繰返し周期は1 nsのため、気流式のような高速で分散された粒子でも、ブレることなく正しく撮像できます

毎秒最大500フレームの高速撮像によって、100万個以上の粒子を数分で測定できます。そのため、画像法に基づく測定でありながら、統計的に信頼性の高い結果が得られます。

個々の粒子を正確に捉えるため、レーザー回折式では困難な、針状・繊維状の粒子も有効に測定できます。また、試料中の微量な粗大粒子も高感度に検出できるのため、製品の異物検査などに有用です。
生データとして二値化像が保存されるため、測定後に粒径や形状の定義を変更して何度でも再解析できます。