高密度マルチチャンネル パルスパターン発生器・ビットエラーテスター

光学電子部品や光トランシーバーでの特性の評価、テスト、設計用のパルスパターンを高密度かつマルチチャンネルで発生させます。またビットエラー検出することが可能です。電気信号試験装置と光学試験装置を組み合わせることで、製造環境におけるエンドツーエンド（end to end）のトランシーバーの検証を効率的に行うことができます。
 
用途

　
• 光トランシーバー製造テスト
• 高速SerDes、クロック・データ・リカバリー、レーザードライバーのテストと特性評価

ほとんどの装置はコンパクトなMATRIQ™ベンチトップまたはPXIeの形状で、SCPI制御とQuantifi Photonicsの最新のWebベースのユーザーインターフェースであるCohesionUI™が利用できます。

ビットエラーレートテスタ BERT 1000 シリーズ

最大14.5Gb/sのデータレートにおける光トランシーバー、光電気部品の設計・特性評価・製造向けの4チャンネルのパルスパターン発生器（PPG）およびエラー検出器です。

BERT 1000シリーズ – MATRIQ	BERT 1000シリーズ – PXIe

ビットエラーレートテスタ　BER1000シリーズ 仕様書
 
用途例

• 光トランシーバー製造
• マルチチャンネルBER (bit-error rate) テスター
• アクティブ光ケーブルテスト
• 高速SerDesの特性評価

BERT 1000シリーズ – MA – MATRIQ　詳細ページ
BERT 1000シリーズ – PXIe 詳細ページ

PAM4　ビットエラーレートテスタ BERT 1102 シリーズ

8チャンネル PAM4およびNRZパルスパターン発生器（PPG）およびエラー検出器。最大29Gbaudのシンボルレートでの光トランシーバおよび光学電子部品の設計、特性評価、製造に使用いただけます。

BERT 1102シリーズ – MATRIQ	BERT 1102シリーズ – PXIe

ビットエラーレートテスタ NRZ PPG BERT1100シリーズ 仕様書
 
用途例

• チャンネルあたり最大29G Baudで動作する光学または 電気トランシーバー用のマルチチャンネルBER (bit-error rate) テスター
• アクティブ光ケーブルのテスト
• 高速SerDes、クロック・データ・リカバリ、レーザー・ドライバーのテストと特性評価

BERT 1102シリーズ – MATRIQ　詳細ページ　
BERT 1102シリーズ – PXIe 詳細ページ