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ミリ波・サブテラヘルツ発振器 TeraSchottky
パワフルな完全一体型サブ・テラヘルツ発振器。最先端のショットキーダイオード・マルチプライヤ利用。高出力 2～350mW。高いチューナビリティ <12%。周波数 > 75, 150, 300, 600 GHz。コンパクト（<1kg）で使い易い。
組込型放射温度計“Thermalert 4.0”
堅牢で信頼性の高い汎用なソリューション。時間とコストの節約に。
測定用標準基板・テストサンプル・校正構造体
測定用標準基板・テストサンプル・校正構造体：- AFM 校正用構造体 測定用標準基板 HOPG,- AFM 校正用構造体 TGXYZ,- AFM 校正用構造体 TGX,- AFM 校正用構造体 TGF11シリーズ
ナノ粒子分散塗布サンプル・プレパレーション装置 “PSD-PS01”
ナノ粒子のSEM・TEMまたはAFM観察を容易にするサンプル・プレパレーション装置。
分散溶媒中に溶かしたナノ粒子を、静電噴霧でSi基板やカーボン蒸着膜基板へ分散塗布します。
超高出力LEDモジュール LEDMOD HP シリーズ
365nm～660nmの波長＋白色のLEDモジュール。LEDチップのTEC温度制御による高い波長および出力安定性。マルチモードファイバーとリキッドライトガイドのカップリング対応可能。アナログ/デジタル変調最大500kH、スイッチング時間＜2μs、プログマブルPWM周波数（最大200kHz）発生器を内蔵。SYNC出力。
非接触型厚さ測定装置 “VarioMetric”
レーザー干渉を利用した厚さ測定装置。厚膜(1～500μm)測定用。小型・高速・高精度
単一光子カウンティング用カメラ LINCam
スキャン不要の時間相関単一光子計数用のカメラ。手軽に個々の光子の到着時間とXY位置を計測。ラマン分光において、さらに蛍光寿命を利用することで、ラマン光と蛍光を分離・識別して測定することが可能。
PIV CWレーザー（流れの可視化レーザー）“DPSS Green Laser”
流れの可視化光源に適した非常にコンパクトな筐体のレーザー
PIV アクセサリ
VisiVector PIVシステムには、PIV計測を行うための様々なアクセサリーがあります
高速ケミカルイメージングQCL顕微鏡 Spero
業界一の超高速でケミカルイメージ（化学組成マッピング）を測定可能です。1視野のケミカルイメージは35秒で取得できます。固定波数でのイメージングは、毎秒30フレームのリアルタイム取得です。工業サンプルの赤外像を可視化できます。バイオ・医療分野ではがん細胞と正常細胞を赤外吸収スペクトルの違いで判別する研究に応用されています。詳しくは応用例タブをご覧ください。
簡易・小型 原子間力顕微鏡 AFM “CrabiAFM”
CrabiAFMは、コンパクトで低価格な簡易原子間力顕微鏡（AFM）です。リサーチ用途、ナノ教育、またはすでにAFM経験をお持ちの方のサブ機として最適です。
長寿命プローブ
長寿命プローブ：- AFMプローブ HARDシリーズ,- AFMプローブ 導電性ダイヤモンドコーティング DMD-XSC11
シンクロトロン用対物レンズ
シンクロトロン放射によるイメージング用のカスタム対物レンズ。トモグラフィー対応。実用性を高める光学リレー。対物レンズ0.5倍、0.8倍、150㎜ 400㎜に対応。経験と知識から光学設計、エンジニアリング、製造、テストと一貫したサービスをご提供します。
MicroSense 5800 シリーズ 静電容量変位センサ
高分解能・高速応答。動的変位測定のスタンダードモデル。
LIBSシステム（超高速インライン向け）
完全インライン向けLIBSシステム。20kHzの超高繰返し測定（カスタムで100kHzまで可）
高解像度ダイアモンド・AFMプローブ（ダイヤモンドカンチレバー）
最高の耐摩耗性と電気的性能を提供する高導電性ダイヤモンドプローブ（ダイヤモンドAFMカンチレバー）
レーザー回折式 粒度分布測定装置 HELOS
乾式測定における試料分散性能と測定再現性に優れており、凝集しやすい試料でも安定して測定できます。世界各国に多数の納入実績があり、製薬、化学、磁性体、食品などの様々な業界で採用されています。（測定範囲: 0.1～3500 µm）
超高安定性 干渉計 “GEMINI”
GEMINIは、入力光を2つのレプリカ間の時間遅延を制御することにより、比類のない精度と再現性を提供する究極の干渉計です。FTIR分光計と同様に、同梱のドライバーおよびソフトウェアと組み合わせて使用して、フーリエ変換アプローチに基づいて入力光（コヒーレントまたはインコヒーレント光源）のスペクトルを測定できます。
レーザー走査型顕微鏡（LSM）用 コンパクト FLIM・FCS アップグレードキット
各社の多光子レーザー走査型顕微鏡に取り付けて、TCSPC（時間相関単一光子測定法）を用いた高感度・低ノイズのイメージングを可能にするTCSPCイメージング拡張キット。コンパクトFLIM・FCSアップグレードキット
AFM-IR 装置 Vista 75, IR-PiFM / PiF-IR
光誘起力を使った次世代のPiFM ・ PiF -IR 機器 半導体、ナノフォトニクス、ポリマー、無機物などに向けた様々な用途で使用いただけるAFM-IR装置です。
超分解能 時間分解型共焦点 蛍光顕微鏡 MicroTime 200 STED
超分解能を持つ時間分解共焦点顕微鏡。誘導放出抑制（STED）顕微鏡法を使用。光学分解能50nm未満（STED）、励起640nm（オプション：595nmおよび660nm）、SPADおよびHybrid-PMTを使用した最大6検出チャンネル、ゲート付きSTED（gSTED）とgSTED-FCSをサポート
ポータブル型 粒度分布測定装置 “VisiSize P15 Portable V” (新画像解析式)
キャリーケースで運搬のでき、取り扱いの簡単な小型軽量タイプ。粒径5μm～3,900μm。速度同時測定モデル
動的画像式 粒度・形状分布測定装置 QICPIC
パルスレーザーによる高速撮像によって多数の粒子を測定するため、個々の粒子を測定しながらも、統計的に信頼性の高い解析が可能です。全ての粒子画像が生データとして保存されるため、形状も定量的に解析できます。乾式・湿式を問わず多様な試料に対応します。（測定範囲 0.55～34000µm）
噴霧解析システム (画像解析式) “Envision Patternate”
噴霧映像をから広がり角度や拡散パターンを解析
