製品情報

ピエゾ駆動ステージ

piezosystem jena

LDなど光学部品の精密ポジショニング及びスキャニング用途に適した、安定性に優れたピエゾ駆動の高精度ステージ。X, Z, XY, XYZ, 5軸, 回転。可動距離 最高1500μm

Detail

高機能ピコ秒ファイバレーザー“MANNYシリーズ”

Irisiome Solutions

高いチューナビリティ(繰り返し周波数、パルス幅、波長)と複数のオプションで非常に高い柔軟性。
1μm, 1.55μm, SHG, 波長可変可。平均出力 最大30W。パルス幅 30ps to ms。繰り返し周波数 5MHz to 1GHz。

Detail

ADC内蔵・アンプ付き・Si-InGaAs一体型 フォトディテクタ  SPIDER

NIREOS
[新商品]

Si, InGaAsの両フォトダイオードと各アンプを1台に搭載し、320~1700nmもの広い応答波長域と、ピコワットレベルの微弱光を検出できる高い感度を実現。さらに24bit ADC(アナログ・デジタル・コンバータ)内蔵で、アナログ/デジタル両シグナルを提供でき、デジタルシグナルはUSB出力でPCへ直接伝送可能。
他に類のない万能フォトディテクタ 税抜定価 ¥570,000~

Detail

小型 高性能 飛行時間型質量分析計 (TOF-MS/RGA)

Spacetek Technology

Spacetek Technology社の IonTamer™ は飛行時間型の質量分析計 / 残留ガス分析器 (TOF-RGA) です。ガス組成をリアルタイムで、高分解能、高感度にモニターします。世界最高性能のRGAであるIonTamer™は、これまで実験室用装置でしか得られなかった性能を、コンパクトで扱いやすく、組み込み可能にしました。半導体製造、OLEDディスプレイ製造、光学部品、ソーラーパネル製造、真空コーティングプロセス(CVD、PVD、ALD)、真空炉、冶金、超高真空などでの研究、過酷な環境下での用途に対応します。

Detail

テラワット出力フェムト秒レーザー PULSAR TW

Amplitude Technologies

1TW級ピーク出力を実現。信頼性の高い超高強度フェムト秒レーザー。最大6.25J。パルス幅 20fs以下。繰返し周波数 最高10Hz

Detail

ペタワット出力フェムト秒レーザー PULSAR PW

Amplitude Technologies

世界最高クラスの1PW級ピーク出力を実現。信頼性の高い超高強度フェムト秒レーザー。最大25J。パルス幅 20fs以下。繰返し周波数 最高5Hz

Detail

偏波の計測装置(偏波消光比・偏波依存損失・挿入損失・偏波クロストーク)

General Photonics

偏波関連の計測装置 / 分析装置をラインナップ。

Detail

小型Qスイッチ・ナノ秒パルスDPSSレーザー

CryLaS

3つのモデルからアプリケーションのニーズに合わせてお選びいただけます。波長213nm/266nm/355nm/532nm/1064nmより選択可能。最大パルスエネルギー 650μJ, 最大平均パワー 2W, 繰返し周波数 1kHz。

Detail

テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER”

HÜBNER

テラヘルツ分光を用いた日々のルーチン測定向けの簡単・使い易い非接触・非破壊分析装置。周波数範囲 0.1~4.0 THz、最大ダイナミックレンジ 70 dB。

Detail

PIV カメラ

Oxford Lasers

感度と解像度、撮影速度に特徴のあるラインナップをご用意。計測対象に合わせて多彩なPIVカメラから選択可能

Detail

偏光スタビライザ “POS-202 & POS-203”

General Photonics

入力された偏光のSOPの高速変動を安定化して出力。2ポートまたは3ポート。

Detail

高性能サーモグラフィ “VarioCam HD head” シリーズ

InfraTec

高解像度、高分解能、高精度のサーマルイメージを得ることができる高性能サーモグラフィ

Detail

レジスコープ “ResiscopeII”

CSInstruments

AFM 超高感度電流増幅器

Detail

最大6波長 高出力マルチモード レーザーコンバイナー “BrixXHUB Ultra”

Omicron Laserage Laserprodukte
[新商品]

波長375~1550nm。高出力レーザーを最大6つ搭載可能。マルチモードに対応。オプションにて切替用NDフィルターを内蔵。広視野レーザー照明にご使用いただけます。

Detail

超小型 高精度 リニアステージ “M3-LSシリーズ”

New Scale Technologies

M3-LSリニアステージは、コントローラを内蔵した超小型高精度リニアステージです。小型のOEM機器にすぐに組込みが可能。外部ボードも不要です。駆動機器もコンパクトな筐体に内蔵され一体化されています。超小型ながら高精度・安定性・使い易さを兼ね備えています。開発キットもご用意いたしております。

Detail

プロセスフォトメータ(濃度・色モニタ)”DCP007″

KEMTRAK

インライン用の吸光光度計。プロセスの濃度・色測定に最適。
過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザイン。

Detail

レーザー回折式 粒度分布測定装置 HELOS

Sympatec

乾式測定における試料分散性能と測定再現性に優れており、凝集しやすい試料でも安定して測定できます。世界各国に多数の納入実績があり、製薬、化学、磁性体、食品などの様々な業界で採用されています。(測定範囲: 0.1~3500 µm)

Detail

高速ステアリングミラー MRシリーズ

Optotune

反射モード(2Dミラー)、透過モード(チューナブルプリズム)で使用可能な、革新的な2次元ビームステアリングミラーです。ビームシフト無。システム組込みに対応。LiDAR、アダプティブヘッドライト、OCT、マシンビジョン、3Dプリンティング、セキュリティなど多彩なアプリケーションで活用いただけます。

Detail

ファイバーストレッチャー “FST-001”

General Photonics

最大3mmまでの光ディレイ範囲に対応するピエゾ駆動のファイバストレッチャです。アナログ信号もしくは12-bit のTTL信号で制御可能です。

Detail

短波長赤外カメラ SIRIS

Lytid

高性能短波長赤外カメラ。超低ノイズ&高いダイナミックレンジ。幅広い用途で使用可能なInGaAsセンサベースSWIR。200 fps。液体窒素不要。

Detail

EO光偏向器

Conoptics

高速・高分解能・高精度な偏向器
深紫外、紫外、可視から近赤外域まで対応

Detail

LIBSオンライン元素分析システム

SECOPTA

オンライン・インラインLIBS元素分析システム。製造ラインにおけるリアルタイム元素分析。代表的応用例は異材混入の防止(鉄鋼製造)PMI、製造プロセスにおけるオンライン元素モニター、ベルトコンベヤ上の各種原材料(石炭、鉱石、焼結体、塩、スラグなど)のオンライン分析等が可能です。

Detail

Nanoview 1000 AFM ローコスト 高イメージング品質

FSM Precision

従来のAFMの半分以下の低価格ながら、高いイメージング品質を発揮します。日本初上陸の高コストパフォーマンスAFMです。

Detail

INCA 多重分光近接ビーコン

DRS Daylight Solutions

VIS、NIR、SWIR、MWIR、LWIRバンド対応、長距離で検出可能な高輝度マルチスペクトル光信号を提供します。

Detail
TOPに戻る