テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER”

テラヘルツ分光を用いた日々のルーチン測定向けの簡単・使い易い非接触・非破壊分析装置。周波数範囲 0.1～4.0 THz、最大ダイナミックレンジ 70 dB。

概要
応用例
主な仕様

テラヘルツ分光を用いた日々のルーチン測定向けの簡単・使い易い非接触・非破壊分析装置

周波数範囲 0.1～4.0 THz
最大ダイナミックレンジ 70 dB
数秒でサンプルを非破壊・非接触検査
簡単操作：直感的タッチスクリーン操作
簡単セットアップ：電源接続だけで使用可能
低コスト：追加の冷却、ガス供給不要
完全自動化プロセス
シームレスなシステム統合が可能

Hübner社の T-SPECTRALYZER テラヘルツ・スペクトロメータは、日常的なルーチンの計測・分析用に設計された、モバイル・テラヘルツ分光器です。電源ケーブルを接続するだけの簡単セットアップですぐにご使用になれます。最先端のテラヘルツ技術の採用により、追加の冷却システムや外部のガス供給は不要、低コストでの運用が可能です。

複数の拡張モジュールや直感的なユーザーインタフェースで、測定結果の保存、処理、エクスポートを強力にサポートします。タッチスクリーンによる簡単操作ですので、特別なトレーニングを受ける必要もなく、すぐに操作できます。また安全なテラヘルツ波をベースとしていますので、費用のかかる安全対策も不要です。

T-SPECTRALYZER は、サンプルを数秒以内で非破壊・非接触分析できます。測定プロセスの完全自動化により、人件費をかけずに膨大なデータセットが得られます。標準化されたハードウェア及びソフトウェアのインタフェースにより、既存のネットワードやプロセスフローへシームレスに統合できます。

ソフトウェア

直感的操作
JCAMP 互換データ形式
Unscrambler 互換
カスタマイズ可能

測定モード＆オプション

透過＆反射同時測定
スペクトルイメージング
大サンプルトレイ：335 x 240 mm²
ファイバカップル・トランスミッタ＆ディテクタモジュール
ファイバカップル・トランスレシーバモジュール
ファイバカップル・ATRモジュール

物質の同定：プラスチック製パイプ、チューブ、その他パッケージごしでも可
粉末・錠剤の化学分析
液体・気体の分析
添加半導体材料の特性評価
水分分布の調査
ポリマー充填率の測定
種々の異性体の識別
結晶・アモルファス構造の識別
多層系の膜厚測定
非導電性部品の欠陥・空洞の検知

周波数範囲	0.1～4.0 THz (3.3～133 cm^-1)
ダイナミックレンジ	> 70 dB at 0.5 THz (16.7 cm^-1)
周波数分解能	標準：20 GHz (計測範囲 50 ps) 最大：5 GHz (計測範囲 200 ps)
計測時間	標準：8 s (50 ps at 6.25 ps/s) 最小：2 s (20 ps at 10 ps/s)
サンプルスキャンレンジ/ビーム径	標準：200 x 200 mm² (精度 ~ 0.2 mm) ビーム径 ~ 1.5 mm (周波数による)
寸法	高さ：60 cm;　接地幅：72 cm;　接地奥行き：73 cm
重量	87 kg
電源要件	100～230 VA, 50～60 Hz
推奨使用環境温度	10～45 °C
インタフェース	NAMUR, OPC, LAN / WLAN, USB 3.0

周波数	ダイナミックレンジ (最小値)		ダイナミックレンジ (代表値)
0.5 THz	3,500 : 1	70.9 dB	10,000 : 1	80.0 dB
1.0 THz	2,700 : 1	68.6 dB	7,050 : 1	77.0 dB
1.5 THz	1,350 : 1	62.6 dB	4,240 : 1	72.5 dB
2.0 THz	740 : 1	57.4 dB	2,750 : 1	68.8 dB
2.5 THz	450 : 1	53.1 dB	1,030 : 1	60.3 dB
3.0 THz	160 : 1	44.1 dB	360 : 1	51.1 dB
3.5 THz	50 : 1	34.0 dB	200 : 1	46.0 dB
4.0 THz	15 : 1	23.5 dB	140 : 1	42.9 dB


周波数ドメイン・シグナル＆ノイズ例	時間ドメイン・シグナル＆ノイズ例