通信用レーザー光源 “波長可変レーザー・ 固定波長レーザー・SLED光源・掃引レーザー”
Cバンド、Lバンドの通信用波長可変レーザー光源、カスタマイズ可能な固定波長レーザー光源、広帯域スーパールミネッセンス(SLED)光源、掃引レーザー光源をご提供しています。
ピコ秒レーザーマーキングシステム
レーザーマーキング・コンプリートシステム。光源、光学系、機械系コンポーネント、ソフトウェア含む。比類のない高い柔軟性と直感的な操作性。独立型デバイスでも組込み用にも提供可能。
ブルーレーザー 金属加工向け BLシリーズ / ファイバ伝送型 BL-Fシリーズ
ブルーレーザーは金属への高い吸収率から金属加工にとって理想的なレーザーです。波長~444nm。BLシリーズ(125W, 250W)とBL-Fシリーズ(125W, 250W, 500W, 1000W)をご用意しています。汎用的なガルバノスキャナとの一体化が可能。はんだ付け、ワイヤなど、薄い銅またはアルミニウム板の接合・溶接に最適です。赤外線レーザーやグリーンレーザーよりも優れた効率で金属加工を行うこと可能です。
プラグ&プレイ イオンジェネレータ“KAIO”
レーザーイオン生成及びプラズマ相互作用のためのレーザーモニタ・評価。TNSAベースのパワフルツール。EProton = 4 – 5 MeV (cut-off)
ナノ粒子分散塗布サンプル・プレパレーション装置 “PSD-PS01”
ナノ粒子のSEM・TEMまたはAFM観察を容易にするサンプル・プレパレーション装置。
分散溶媒中に溶かしたナノ粒子を、静電噴霧でSi基板やカーボン蒸着膜基板へ分散塗布します。
AFMカンチレバー 一覧
NANOSENSORS製AFMカンチレバー。10本、20本、50本、ウエハ(365または370または380)の入り数でご注文可能。製品一覧表からお探しのモデルをすぐに見つけられます。ご相談もお気兼ねなくお問合せください。
光ドップラー速度計測 ( PDV )
フォトニックドップラー速度計測(PDV)は、数10km/sまでの高速度事象の計測に用いられる確立された技術です。ヘテロダイン速度計とも呼ばれ、VISAR(Velocity Interferometer System for Any Reflector)の補助ツールまたは代替ツールとして使用することが出来ます。
ビームプロファイラ ( カメラ式 & スリット式 )
UV~ミリ波。CW、パルスの両レーザー光に対応。高精度で信頼性の高いレーザビーム計測機器
量子実験用途 単一光子源
量子アプリケーションのために設計された決定論的に単一光子を生成する固体の単一光子源です。量子プロジェクトに特化した Sparrow Quantum社の専門チームによって設計、開発、生産された高品質フォトニック コンポーネントです。量子通信やコンピューティングから、量子シミュレーション、量子センシング、量子計測に至る将来の量子技術の構成要素となることが期待されています。確率的な単一光子源とは異なり、決定論的量子エミッタは、優れた量子フォトニック機能を備えた高いオンデマンド単一光子レートを提供できます。 量子情報のキャリアとしての単一光子生成に最適です。
動的光散乱法 粒度分布測定装置 NANOPHOX
一般的な動的光散乱法とは異なり、光源とセンサを2つずつ用いる「クロスコリレーション法」を採用しています。そのため、高濃度な試料でも多重散乱の影響を排除した正確な測定が可能です。(測定範囲 0.5 nm~10 μm)
独自の単一分子感度 時間分解型共焦点蛍光顕微鏡 MicroTime 200
独自の単一感度を持つ時間分蛍光顕微鏡。最大で6つの個別チャンネル検出が可能。蛍光寿命イメージング(FLIM)、FLIM/FRET、深部組織FLIM、PIE、FCS/FCCS、FLCS/FLCCS、二重焦点FCS、スキャニングFCS、異方性、バースト解析等が可能。2DおよびDイメージング用のピエゾスキャンに対応。
スーパーコンティニューム光源用 フィルタ&アクセサリ
SuperK シリーズをはじめとするNKT Photonics社のスーパーコンティニューム光源を目的に合わせてより柔軟に使用できる多彩なアクセサリをラインナップ
PMD/PDL/SOPエミュレーション装置
偏光モード分散(PMD)、偏光依存損失(PDL)、SOP(偏光状態)の計測・評価に
Nanoview 1000 AFM ローコスト 高イメージング品質
従来のAFMの半分以下の低価格ながら、高いイメージング品質を発揮します。日本初上陸の高コストパフォーマンスAFMです。
レーザーアブレーション装置
高速&高精度分析。目的に最適なレーザーアブレーションを最高の性能で提供。
ミニマルCD-SEM
ミニマル規格※に準拠。コンパクトで可搬型ながら高解像度パターン観察を実現した、測長機能付SEM
(※「ミニマル」は独立行政法人産業技術総合研究所の登録商標です。)
小型 高性能 飛行時間型質量分析計 (TOF-MS/RGA)
Spacetek Technology社の IonTamer™ は飛行時間型の質量分析計 / 残留ガス分析器 (TOF-RGA) です。ガス組成をリアルタイムで、高分解能、高感度にモニターします。世界最高性能のRGAであるIonTamer™は、これまで実験室用装置でしか得られなかった性能を、コンパクトで扱いやすく、組み込み可能にしました。半導体製造、OLEDディスプレイ製造、光学部品、ソーラーパネル製造、真空コーティングプロセス(CVD、PVD、ALD)、真空炉、冶金、超高真空などでの研究、過酷な環境下での用途に対応します。
レジスコープ “ResiscopeII”
AFM 超高感度電流増幅器
ファイバーケーブル/ファイバーコンポーネント各種
ファイバ出力レーザー製造で培われた高い光ファイバ技術。 400~875 nm。APC or PC。ジャケット選択可。
ビットエラーテスター パルスパターン発生器
高密度マルチチャンネルのパルスパターン発生器及びビットエラー検出器です。光トランシーバーや光学電子部品での設計、特性評価、製造用のテストで使用いただけます。
テラヘルツ・イメージング装置“T-SENSE”
テラヘルツ波とミリ波により、封書から小包までの内包物を精密・安全・高速に可視化
高精細マイクロ・ハンドディスペンサ
実体顕微鏡下での手作業に最適なマイクロ・ハンドディスペンサ
フォトンカウンティング 光子計数とタイミング (蛍光測定・量子相関)
PicoQuantのフォトンカウンティング(光子計数)向けの幅広い製品には、時間相関シングルフォトンカウンティング(TCSPC)とイベントタイミング用の高性能モジュール、シングルフォトンセンシティブ検出器、および(時間分解)蛍光測定と量子相関の評価用の専用分析ソフトウェアが含まれます。
消光比メータ “ERM-202”
PER (偏光消光比) 範囲 50dB。ブロードバンド光源のPERを直接計測可能。1ch. or 2 ch.