測定装置

測定装置 一覧

独自の単一分子感度 時間分解型共焦点蛍光顕微鏡 MicroTime 200

PicoQuant

独自の単一感度を持つ時間分蛍光顕微鏡。最大で6つの個別チャンネル検出が可能。蛍光寿命イメージング(FLIM)、FLIM/FRET、深部組織FLIM、PIE、FCS/FCCS、FLCS/FLCCS、二重焦点FCS、スキャニングFCS、異方性、バースト解析等が可能。2DおよびDイメージング用のピエゾスキャンに対応。

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TCSPC(時間相関単一光子検出)・時間タグ付け装置一覧

PicoQuant

時間相関単一光子計数 (TCSPC)、一致相関、マルチチャネルでのスケーリング 、イベント・タイミング(ピコ秒~ミリ秒の時間分解能)用のモジュールです。シングルチャンネルおよびマルチチャンネル。USBまたはPCIeインターフェイスを装備。※HydraHarp 400 デモ機あり

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コンパクト モジュール式の蛍光寿命分光計 FluoTime 250

PicoQuant

蛍光寿命分光計。コンパクトモジュール方式 TCSPC,MCS(マルチチャンネルスケーリング)の双方データ取得可能。測定可能蛍光寿命約10psから数百ms。スペクトル範囲:255〜1550nm。完全自動化されたハードウェア制御。アプリケーションウィザード・スクリプト言語により多彩な機器に対応可能

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LIBSオンライン元素分析システム

SECOPTA

オンライン・インラインLIBS元素分析システム。製造ラインにおけるリアルタイム元素分析。代表的応用例は異材混入の防止(鉄鋼製造)PMI、製造プロセスにおけるオンライン元素モニター、ベルトコンベヤ上の各種原材料(石炭、鉱石、焼結体、塩、スラグなど)のオンライン分析等が可能です。

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5軸ステージ付き白色干渉計 S neox Five Axis

SENSOFAR Metrology

S neox Five Axis 5軸ステージ付き白色干渉計は、高精度回転ステージモジュールと白色干渉計 高速・多機能モデルS neox の高度な検査および解析機能を組み合わせています。これにより、指定された位置・角度で自動的に3D表面形状測定を行い、完全な3D形状計測が可能になります。

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サブテラヘルツ Sub-THz レーダー トランシーバー

Lytid

FMCW(周波数変調連続波)レーダートランシーバーは、最先端のショットキーダイオード技術に基づくサブTHzデバイスです。最大100 dBのダイナミックレンジ、高い測定レート(7.6 kHz)、優れた透過性と高い解像度を持ち、様々な用途で非接触非破壊検査、密度深度測定、3Dイメージングなど様々なセンシングツールとしてお使いいただけます。

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MicroSense 4800 シリーズ 静電容量変位センサ

MicroSense

優れた直線性と温度特性。静的な変位測定のスタンダードモデル。

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画像解析式 粒度/速度分布 測定ソフトウエアー“VisiSizer SOLO”

Oxford Lasers

実際の粒子映像を使用して、粒子サイズや速度とその分布を正確に自動測定

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3D形状・表面粗測定 ソフトウェアパッケージ

SENSOFAR Metrology

3D形状や表面粗さを測定、解析するための直感的で使いやすいソフトウェアパッケージを装置とセットで提供しています。

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装置組込み用白色干渉計・共焦点顕微鏡 シリーズ一覧

SENSOFAR Metrology

非接触・非破壊で表面の微細形状、面粗度、粗さ、薄膜計測などの3D形状を測定することができる装置組込み用の顕微鏡ユニット 。白色干渉計および3Dレーザー顕微鏡に代表される共焦点顕微鏡技術を搭載。

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超伝導ナノワイヤ単一光子検出器(SNSPD) Single Quantum Eos Excellent line Image line TeleQKD

Single Quantum

Single Quantum社 独自のナノワイヤ構造と液体ヘリウム不要の革新的クローズドサイクル冷却システム採用。近赤外領域で比類のない高い効率 >85%と低いタイミングジッタ <15ps (高い時間分解能)。1-24チャンネル。

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蛍光分光計制御&データ分析ソフトウェア EasyTau2

PicoQuant

PicoQuant社製 TCSPC製品による蛍光分光計制御 及び データ分析ソフトウェア。定常的な励起・発光スペクトル、蛍光・燐光の寿命、異方性測定など、幅広い蛍光分光アプリケーションに対応。スクリプトによる自動化・拡張かが可能。デモ機をご用意しております。

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テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER”

HÜBNER

テラヘルツ分光を用いた日々のルーチン測定向けの簡単・使い易い非接触・非破壊分析装置。周波数範囲 0.1~4.0 THz、最大ダイナミックレンジ 70 dB。

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小型 高性能 飛行時間型質量分析計 (TOF-MS/RGA)

Spacetek Technology

Spacetek Technology社の IonTamer™ は飛行時間型の質量分析計 / 残留ガス分析器 (TOF-RGA) です。ガス組成をリアルタイムで、高分解能、高感度にモニターします。世界最高性能のRGAであるIonTamer™は、これまで実験室用装置でしか得られなかった性能を、コンパクトで扱いやすく、組み込み可能にしました。半導体製造、OLEDディスプレイ製造、光学部品、ソーラーパネル製造、真空コーティングプロセス(CVD、PVD、ALD)、真空炉、冶金、超高真空などでの研究、過酷な環境下での用途に対応します。

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MicroSense 静電容量変位センサ一覧

MicroSense

MicroSense LLCの静電容量センサを紹介。全カタログをまとめてダウンロードできます。

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レーザー回折式 粒度分布測定装置 HELOS

Sympatec

乾式測定における試料分散性能と測定再現性に優れており、凝集しやすい試料でも安定して測定できます。世界各国に多数の納入実績があり、製薬、化学、磁性体、食品などの様々な業界で採用されています。(測定範囲: 0.1~3500 µm)

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LIBSシステム(超高速インライン向け)

SECOPTA

完全インライン向けLIBSシステム。20kHzの超高繰返し測定(カスタムで100kHzまで可)

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AFMプローブ HQシリーズ

MikroMasch

位相イメージングは、異種材料や特性の不均一性を持つサンプルにおいて、ナノスケールの違いをイメージングするために用いられるAFM技術の一つです。位相コントラストは、チップとサンプル間の相互作用に基づきますが、これらの相互作用は、スキャンパラメーターや、イメージングの測定モード(原子間力の引力領域か斥力領域で捜査しているかなど)に依存します。O’DeaとBurratoは、位相イメージングを使用して、Nafion膜のプロトン伝導ドメインをマッピングしました。彼らは、先端とサンプルの間の特定の相互作用力がプロトン伝導ドメインの分解能に大きく影響することを発見しました。斥力レジームでのイメージングにより、ドメインの面積が大きめに表示され、ドメインの数が少なめに表示されました。引力領域でのイメージングにより、水やフルオロカーボンのドメインが最も正確に測定できました。AFMのフィードバックループが最適化されていない場合、またはカンチレバーが共振周波数を超えて駆動していた時、位相イメージングは組成の違いではなく、形状の変化に対応するイメージになりました。

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ペレット・粉体用 異物検査装置 CALPAS

Scigentec

粉体やペレット・サンプル中の異物を検出 (サイズ, 形状分析による)。粒子のサイズ、色、形状を高速に評価。多彩なサンプル搬送ユニット (乾式, 湿式, ステージ 等)。オフライン、オンラインの両方に対応可能。

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長寿命プローブ

MikroMasch

長寿命プローブ:- AFMプローブ HARDシリーズ,- AFMプローブ 導電性ダイヤモンドコーティング DMD-XSC11

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超分解能 時間分解型共焦点 蛍光顕微鏡 MicroTime 200 STED

PicoQuant

超分解能を持つ時間分解共焦点顕微鏡。誘導放出抑制(STED)顕微鏡法を使用。光学分解能50nm未満(STED)、励起640nm(オプション:595nmおよび660nm)、SPADおよびHybrid-PMTを使用した最大6検出チャンネル、ゲート付きSTED(gSTED)とgSTED-FCSをサポート 

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フォトンカウンティング 光子計数実験用 アクセサリ

PicoQuant

フォトン カウンティング(光子計数 )実験用のアクセサリを提供しています。PicoHarp 300 TCSPC 用ルーター、SPAD 用専用デュアル チャネル電源、ピコ秒分解能のディレーヤー、トリガー ダイオード 信号コンディショナー、信号ケーブル

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2μm ナノ秒パルス ファイバーレーザー “PowerWave2000-ns”

NPI Lasers

中赤外スーパーコンティニューム光源の励起に最適。中心波長 1900~2000 nm、繰り返し周波数 kHz~MHz、パルスエネルギー10 μJにて最大出力10 W

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ラインスキャナ型 非接触温度計“MP150シリーズ”

Fluke Process Instruments

512ポイントでの測定が可能な温度計測用高精度ラインスキャナ

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