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装置組込み用白色干渉計・共焦点顕微鏡 シリーズ一覧
非接触・非破壊で表面の微細形状、面粗度、粗さ、薄膜計測などの3D形状を測定することができる装置組込み用の顕微鏡ユニット 。白色干渉計および3Dレーザー顕微鏡に代表される共焦点顕微鏡技術を搭載。
白色干渉計・共焦点顕微鏡ユニットを装置に組込む
微細形状や表面粗さなどの測定に適した白色干渉計・共焦点顕微鏡の3D測定技術を搭載した組込み用ヘッドです。今までオフライン/手作業で実施していた測定をオンライン/自動化するなど、ヘッドを任意の場所に組込むことができます。白色干渉計・共焦点・焦点移動方式の3方式を搭載した多機能モデル、半導体や医療機器分野向けにパーティクルの発生を低減させたクリーンルーム対応モデルも提供しております。
共焦点 | 白色干渉計 | 焦点移動 |
光学式非接触3D形状測定の原理
製品紹介動画「装置組込み用白色干渉計・共焦点顕微鏡を使ったセンサユニット」
※外部サイト アペルザTV「SEMICOn Japan 2023 展示会レポート」へ遷移します。
自動化
小型 軽量であらゆる方向で測定可能
ソフトウェア 一覧相関図
Sensofarのソフトウェアとハードウェアを組み合わせることで、さまざまなアプリケーション対応した総合的な測定ソリューションを提供できます。図では、SDKを使用した測定ヘッドのプログラミングから、測定結果の取得、測定結果の分析の設定まで、測定のワークフローを示しています。
SensoPRO | SensoVIEW | SDK |
SensoPROは、生産ラインで要求されるスピードに対応。カスタムベースのプラグインデータ解析アルゴリズムによって、特定の形状を自動的に検出・解析。すぐさま合否判定レポートが作成します。 | SensoVIEWは、幅広い解析作業にとって最適なソフトウェアです。事前検査や3D測定、2D測定の解析用の包括的なツールセットが含まれています。粗さ、体積計算、解析ツールセットによる重要寸法の測定、レポートやデータセット(csvファイル)としてエクスポートが可能です。解析の条件を保存して、複数の測定に適用することも可能です。 | ソフトウェア開発キット(SDK)は、1つ、または複数のセンサのリモート制御することが可能なツールセットです。クライアントのコンピュータとセンサ間で通信の生成・管理すると共に、取得データを解析ソフトウェアに送ります。 |
3D表面形状測定 装置組込み用白色干渉計・共焦点顕微鏡
ソフトウェア 3D表面形状測定(白色干渉計・焦点移動・共焦点)用
アプリケーション
半導体製造工程向けアプリケーション | ICパッケージ 寸法・表面仕上げ測定 | PCB 銅回路 パッド バンプ レーザーグルービング 寸法測定 特性評価 |
オプティクス レンズ 光学フィルタ フィルム厚の測定・粗さ解析 | ディスプレイ製造工程 TFT LCD OLED 寸法測定 特性評価 | 切削工具 刃先 ドリル 特性評価 粗さ測定 |
測定事例
2Dおよび3D表面性状(粗さ)パラメータ(ISO25178準拠) | 段差の高さと角度 | トライボロジー/潤滑/摩耗パラメータ |
体積 | 形状と曲線 |
モデル | S mart 2 sensor | S neox sensor, S neox Cleanroom sensor |
---|---|---|
測定モード | 共焦点 白色干渉計(CSI/ePSI) 焦点移動 | 共焦点 白色干渉計(CSI/ePSI/PSI) 焦点移動 薄膜計測 |
観察モード | 明視野,共焦点, 干渉位相コントラスト | 明視野, カラー, 共焦点, 干渉位相コントラスト, 微分干渉 |
光源 | 青・白 | 青、緑、赤、白 |
Zスキャナ | 20mm | モータ駆動40mm ピエゾ駆動 200µm |
装置組込み用白色干渉計・共焦点顕微鏡
コンパクト・多機能モデル S mart 2 sensor
高速&多機能モデル S neox sensor
クリーンルーム対応モデル S neox Cleanroom sensor
ソフトウェアパッケージ
すべてのソフトウェアは、面粗さに関するISO 25178規格に準拠しています。
ソフトウェアパッケージ
光干渉・焦点移動・共焦点 表面粗さ計測 技術情報
関連製品
レーザー加工サイト
溶接・切断・切削・マーキング・パターニング・クリーニング等レーザー加工関連の製品および技術情報をまとめてご紹介しています。
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