製品情報
INCA 多重分光近接ビーコン
VIS、NIR、SWIR、MWIR、LWIRバンド対応、長距離で検出可能な高輝度マルチスペクトル光信号を提供します。
ハイパワービーム分析装置一覧
50kW/cm2超のパワー密度でも歪みのない正確なビームサンプリングを実現
テラヘルツ分光解析装置“T-COGNITION”
テラヘルツ分光により、封書や小包の中に隠された有害物質を正確に、わずか数秒以内で同定
産業用 サーモグラフィカメラ“ThermoView TV40”
ファクトリ・オートメーション用途向け高性能サーマル・イメージング・システム。保護等級IP67 (NEMA 4)の堅牢なハウジング
中赤外パルス用 レーザー・スペクトラム・アナライザ(LSA) ”772B-MIR”
>50Hzのパルスレーザーが測定可能。QCLに最適。高い波長精度:±0.08 nm @ 8μm、高い光除去比:20 dB、1〜12μmの波長域。CWレーザーも測定可能。
AFMプローブ 磁気力顕微鏡 Co-Cr コーテイング コバルトクロム
HQ:NSCプローブモデルには、磁気力顕微鏡(MFM)用のコーティングを施した製品もご用意しております。コーティングはチップサイドに膜厚60 nmのコバルト層があり、さらに酸化防止のクロムフィルム膜厚20 nmがカバーしています。トポグラフィーと磁気特性の安定した測定のためにカンチレバーのパラメーターは最適化されています。
超高安定性・二次元分光干渉計 “GEMINI 2D”
イタリアのNIREOS社のGEMINI-2Dは、過渡吸収分光測定を最先端の2次元分光装置に変換します。
GEMINI 2Dはコンパクトで非常に安定的に使用できる干渉計であり、フェムト秒レーザーパルスの2つの同一線上で位相ロックされたレプリカを生成し、比類なき安定性と堅牢性を備えています。
デポラライザ “DEP”
レーザー出力を無偏光化するデポラライザです。外部からの電源供給が不要なパッシブデバイスです。標準仕様ではコヒレンス長10mの光源まで使用可能です。数kmのコヒレンス長を持つレーザーのためにカスタムすることも可能です。
ビームアライメント装置一覧
長時間・長距離アライメントも高精度モニタ
LIBSシステム(超高速インライン向け)
完全インライン向けLIBSシステム。20kHzの超高繰返し測定(カスタムで100kHzまで可)
噴霧解析システム (画像解析式) “Envision Patternate”
噴霧映像をから広がり角度や拡散パターンを解析
偏波コントローラ / 偏波スクランブラ / 偏波トラッカ
各種システム・装置の偏波特性を多様化し、性能の最適化をサポートする多彩な偏波関連モジュール
高精細マイクロ・ハンドディスペンサ
実体顕微鏡下での手作業に最適なマイクロ・ハンドディスペンサ
LIBSオンライン元素分析システム
オンライン・インラインLIBS元素分析システム。製造ラインにおけるリアルタイム元素分析。代表的応用例は異材混入の防止(鉄鋼製造)PMI、製造プロセスにおけるオンライン元素モニター、ベルトコンベヤ上の各種原材料(石炭、鉱石、焼結体、塩、スラグなど)のオンライン分析等が可能です。
ピコ秒パルス&CW発振 ダイオードレーザー“QuixXシリーズ”
ピコ秒(最小パルス幅50ps, 最高100MHz繰返し)&CWの両発振が可能な高機能エレクトロニクス完全一体型ダイオードレーザーシステム。375~2090 nm範囲の多彩な波長ラインナップ。最大CW出力500mW、ピークパワー 最高2.5W
高温測定用 超小型非接触温度計“MI3シリーズ MI1M/2M”
超小型温度センサーヘッド、冷却なしで120℃までの温度環境で使用可能。IP65準拠で工業用アプリ ケーションに最適
高ピークパワー Qスイッチ半導体励起固体レーザー“CP600シリーズ”
高ピークパワー 750μJ @10kHz(1064nm)、300μJ @10kHz(532nm)。パルス幅 約4ns
PMD/PDL/SOPエミュレーション装置
偏光モード分散(PMD)、偏光依存損失(PDL)、SOP(偏光状態)の計測・評価に
PDT・PIT・PDD ラボ実験用レーザー照射システム “BrixXLAB”
PDT(Photodynamic Therapy: 光線力学療法)、PIT(Photoimmunotherapy: 光免疫療法)、PDD(Photodynamic Diagnosis:光力学的診断)などの実験・研究用途向けのマルチチャンネルデスクトップレーザー。最大4チャンネルまでレーザーが搭載可能。波長 375nm~ 1550nmに対応。
量子カスケードレーザー(QCL)用コントローラ“LDC-3736”
レーザー駆動機能と温度コントロール機能を一つにした低ノイズ・高安定性QCLコントローラ
受動光学部品搭載
WDMカプラ、スプリッタ、バンドパスフィルタ、PMビームスプリッタ、サーキュレータなど、お好みの受動光コンポーネントを搭載することができます。 PXIeおよびベンチトップモデルでは、SMF、MMF、PMFをサポートしています。
中空コア フォトニックバンドギャップファイバ
光パワーの保持率98%以上で、ガスまたは粒子の充填が可能。センシング、イメージング、超短パルスアプリケーションに最適。
レーザー ベースの非破壊検査システム
レーザーを使った非破壊検査システム。計測・測定ソリューションOCT、LIDAR、共焦点イメージング、フォトルミネッセンス分光測定、3Dマッピング、深度計測が可能。レーザー診断、高精度大型製品向け検査、リベット検査(航空宇宙)、自動車など様々で活用されています。
汎用テラヘルツ・イメージングシステム TeraEyes-HV
汎用性の高いリアルタイム・テラヘルツ・イメージング・システムで、高解像度アプリケーションに好適。25 FPS。2~5 THz範囲で最大6つのQCLチップを搭載可能。高解像度 最小 250 µm。複数の照明オプション。1クリックで簡単光学構成(反射/透過)。