Lumina Instruments社のATシリーズは、ガラス基板、半導体基板、ディスプレイ基板などの基板の欠陥を可視化する欠陥検査イメージング装置です。高速での測定とnm単位の高いPSLパーティクル感度を実現。

PER (偏光消光比) 範囲 50dB。ブロードバンド光源のPERを直接計測可能。1ch. or 2 ch.

BeamWatch™ ビームウォッチ 非接触・集光スポット径・ビーム位置計測ビームモニタリングシステム。測定パワー範囲 400W – 100kW。波長 980-1080 nm

光学顕微鏡を備えたAFMのプラットフォーム。高速走査かつ高分解能、原子力間顕微鏡によるイメージングを実現。空中や液体中での測定に対応。

世界で唯一、4本のSED検出器による高コントラスト観察画像とナノレベル立体形状の取得が可能。高分解能SEM観察と試料表面の形状測定、表面形状のパラメータ算出も一台で完結。精密工学会技術賞を受賞しました。

レーザー光強度の制御や高速スイッチングに最適。デジタル/アナログ、RF周波数、シングル/ダブルなど、広範なラインナップから選択可。

2つの直行した偏光成分の光パワーを同時に計測します。
小さなボディーに偏光スプリッタとフォトディテクタを内蔵しています。

入力された偏光のSOPの高速変動を安定化して出力。2ポートまたは3ポート。

IQFROG周波数分解光ゲートパルスアナライザは、300fs～50psのパルスの強度・位相測定に適した分光分解第二高調波発生（SHG）自己相関器です。

イタリアのNIREOS社のGEMINI-2Dは、過渡吸収分光測定を最先端の2次元分光装置に変換します。
GEMINI 2Dはコンパクトで非常に安定的に使用できる干渉計であり、フェムト秒レーザーパルスの2つの同一線上で位相ロックされたレプリカを生成し、比類なき安定性と堅牢性を備えています。

電動チューナブルレンズ、手動チューナブルレンズ、ELM（電気式レンズモジュール）の3つの製品ランナップ。高速応答、堅牢性、高信頼性を備えレーザー加工から研究分野、3Dプリント等まで幅広いアプリケーションでご使用いただけます。

日常業務用、教育用のコンパクトな卓上分光計から、数ピコ秒単位で測定可能な高性能の分光計まで多彩な蛍光分光計をラインナップ。サンプルは液体（キュベット）、固体、ウェファーに対応。　ソフトウェアでデータフィッティング、減衰分析に対応。

高性能短波長赤外カメラ。超低ノイズ&高いダイナミックレンジ。幅広い用途で使用可能なInGaAsセンサベースSWIR。200 fps。液体窒素不要。

光源の偏光度 (DOP) をリアルタイムに計測。特許の最大/最小サーチ技術により、低DOPも高DOPも正確に測定

波長750～1700nmの光信号出力を-60～+10dBmの範囲で高速モニタリングが可能です。1500シリーズパワーメータは、アクティブファイバーアライメントに最適な対数アナログ出力を備えています。

最新の電気光学フィードバックループにより、レーザーの特性と機能を簡単に制御

ファクトリ・オートメーション用途向け高性能サーマル・イメージング・システム。保護等級IP67 (NEMA 4)の堅牢なハウジング

外部・内部量子効率を同時測定できる経済的なソリューションです

フォトン カウンティング（光子計数 ）実験用のアクセサリを提供しています。PicoHarp 300 TCSPC 用ルーター、SPAD 用専用デュアル チャネル電源、ピコ秒分解能のディレーヤー、トリガー ダイオード 信号コンディショナー、信号ケーブル

ミニマル規格^※に準拠。コンパクトで可搬型ながら高解像度パターン観察を実現した、測長機能付SEM
（※「ミニマル」は独立行政法人産業技術総合研究所の登録商標です。）

NanoWorld社では、代表的なシリーズとして、PointProbe（ポイントプローブ）シリーズ, Arrow（アロー）, Pyrex-nitride（パイレックス・ナイトライド）を取り揃えております。

ニューポートの光学マウントは、他社には無い高い安定性を持ち、多種多様のモデルを数多く揃えています。ニューポート社製 Opto-Mechanics製品の詳細は、専用サイトをご参照下さい。

非破壊・非接触検査ができるプラグ＆プレイのテラヘルツ・スペクトロメータ。周波数範囲 0.1～2.5 THz、最大ダイナミックレンジ 54 dB

独自の偏光コントロール・アルゴリズムを搭載した高性能偏光コントローラで多彩なコントロール機能を獲得。種々のSOPスクランブリングやSOP変調が可能。コヒーレント・レシーバ性能評価に最適。