ファイバカップル・テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER F”

非破壊・非接触検査ができるプラグ＆プレイのテラヘルツ・スペクトロメータ。周波数範囲 0.1～2.5 THz、最大ダイナミックレンジ 54 dB

概要
応用例
主な仕様

非破壊・非接触検査ができるプラグ＆プレイのテラヘルツ・スペクトロメータ

周波数範囲 0.1～2.5 THz
最大ダイナミックレンジ 54 dB
わずか 0.05秒でサンプルを非破壊・非接触検査
簡単操作
シームレスなシステム統合が可能

Hübner社の T-SPECTRALYZER F は、サンプルの非破壊・非接触検査ができるプラグ＆プレイのテラヘルツ・スペクトロメータです。複数の拡張モジュールや直感的なユーザーインタフェースで、測定結果の保存、処理、エクスポートを強力にサポートします。周波数範囲 0.1～2.5 THz、最大ダイナミックレンジ 54 dB です。

わずか 0.05秒の高速計測ですので、プロセス管理やサンプルの空間マッピングに好適です。簡単操作で、特別なトレーニングを受ける必要もなく、すぐに操作できます。標準化されたハードウェア及びソフトウェアのインタフェースにより、既存のネットワードやプロセスフローへシームレスに統合できます。また安全なテラヘルツ波をベースとしていますので、費用のかかる安全対策も不要です。

モジュール

ファイバカップル・トランスミッタ＆ディテクタモジュール
ファイバカップル・トランスレシーバモジュール
ファイバカップル・ATRモジュール（開発中）

物質の同定：プラスチック製パイプ、チューブ、その他パッケージごしでも可
粉末・錠剤の化学分析
液体・気体の分析
添加半導体材料の特性評価
水分分布の調査
ポリマー充填率の測定
種々の異性体の識別
結晶・アモルファス構造の識別
多層系の膜厚測定

周波数範囲	0.1～2.5 THz (3.3～133 cm^-1)
ダイナミックレンジ	> 54 dB at 0.5 THz (16.7 cm^-1)
周波数分解能	標準：10 GHz (計測範囲 100 ps) 最大：5 GHz (計測範囲 200 ps)
計測時間	標準：5 s (100 ps at 20 ps/s) 最小：0.05 s (100 ps at 2,000 ps/s)
サンプルスキャンレンジ/ビーム径	標準：200 x 200 mm² (精度 ~ 0.2 mm) ビーム径 ~ 1.5 mm (周波数による)
システム寸法	19インチラック; 　WxHxD 43 x 27 x 46 cm³
システム重量	30 kg
テラヘルツ・トランスミッタ/ ディテクタモジュール寸法	WxHxD 5 x 5 x 10 cm³
重量	0.5 kg
電源要件	115～230 VA, 50～60 Hz, <200W
推奨使用環境温度	16～32 °C
インタフェース	NAMUR, OPC, LAN / WLAN, USB 3.0

※表記の仕様値は全て、ファイバカップル・トランスミッタ＆ディテクタモジュール、各5m長ファイバ、コリメーティング/フォーカシング TPXレンズ各2個 (計4個のレンズ)を用いて、サンプル無し、計測時間5秒、測定レンジ 100ps、周波数分解能 10GHz、温度22℃、湿度27% で計測したものです。

周波数	ダイナミックレンジ (最小値)		ダイナミックレンジ (代表値)
0.5 THz	500 : 1	54.0 dB	900 : 1	59.1 dB
1.0 THz	475 : 1	53.5 dB	850 : 1	58.6 dB
1.5 THz	250 : 1	48.0 dB	450 : 1	53.1 dB
2.0 THz	85 : 1	38.4 dB	150 : 1	43.5 dB
2.5 THz	30 : 1	28.9 dB	50 : 1	34.0 dB
3.0 THz	10 : 1	18.4 dB	15 : 1	23.5 dB
3.5 THz	6 : 1	14.9 dB	10 : 1	20.0 dB
4.0 THz	3 : 1	8.9 dB	5 : 1	14.0 dB


周波数ドメイン・シグナル＆ノイズ例	時間ドメイン・シグナル＆ノイズ例