PaR Systems社では、製油所の一次スタックからの排出量を監視するLIDARシステムなど低高度の汚染物質監視に最適な、LIDAR用のカスタムTEA CO2レーザーを製造しています。出力波長間の高速切り替え用二重グレーティングの制御機能付きです。

集積回路（IC）においてパッケージングは半導体部品の封止を行う最終工程です。Sensofar製品はPCBの端子、パッドに正しく接続されるため重要なピンの寸法の測定、表面仕上げの特性評価ができます。

PCB プリント基板が正常に機能するための重要な銅回路、パッド、バンプ、レジスト開口部、レーザーグルービングの測定・特性評価が可能。分析ソフトウェアを最適化しました。

レーザー誘起ブレークダウン分光法（ LIBS ）は高エネルギーのレーザーパルスよってプラズマを生成し、サンプルを原子化および励起することにより、固体、液体、気体などあらゆる物質を分析することが可能です。

CryLaS社小型＆低ノイズレーザーシステムによるアブレーション・アプリケーションの例をご紹介。

光学センサーの特性評価、テスト、および校正を行うには、高輝度で広範な連続スペクトルを出力できる光源が必要です。SuperK スーパーコンティニューム白色光レーザーは、フィルタ類を組合せて、チューナブルな狭線幅シングルモードレーザーとしても、広範な波長可変レーザーとしても使用でき、幅広い特性評価に容易に対応できます。

CryLaS社小型＆低ノイズレーザーシステムによる彫刻およびマーキングの例をご紹介します。

回転するディスクユニットを備えた共焦点で超解像度のFLIM 顕微鏡による検査の事例紹介

CANLAS社のQスイッチ半導体励起固体レーザーを用いたマーキング加工の例をご紹介します。

Aシリーズ ナノ秒レーザーを使用したレーザー微細加工例をご紹介します。

PIV は流体の可視化する光学的手法です。流体内トレーサー粒子がレーザーにより照らされ、方向速度を測定することが可能です。二次元/三次元 PIV、トモグラフィ PIV、時間分解 PIVに向けたレーザーをラインナップいたしております。

ナノ粒子や量子ドットの特性評価では、高解像度検査、材料の局所的変更、高密度場、強度強化など、目的に適応できる光源が必要です。NKT Photonics社のSuperK スーパーコンティニューム白色光レーザーは、非常に柔軟性に優れ、ナノ粒子や量子ドット研究で求められる多様なパラメータを提供します。

グラフェンは、炭素原子が六角形格子構造を成す二次元 (2D) 原子結晶で、強度が高く軽い素材でありながら、非常に柔軟です。さらに極めて優れた機械的剛性、高い弾性、優れた電気伝導性と熱伝導性を示します。SuperK スーパーコンティニューム白色光レーザーは、グラフェンと、グラフェンシートを管状にしたカーボンナノチューブの、マッピングや特性評価に活用されています。

CryLaS社小型＆低ノイズレーザーシステムによる質量分析の例をご紹介します。

ヘキサポッドは、最大6つの軸で高負荷容量と精度に対応するステージです。 平行キネマティックモーションデバイスは、多軸ポジショニングのコンパクトなソリューションで6つの自由度（X、Y、Z、ピッチ、ロール、ヨー）を持ちます。 ここではその仕組みと優れた機能性、アプリケーションについて紹介いたします。

ペロブスカイト（perovskite）ナノ結晶の特性評価における波長可変光源として、SuperKシリーズ スーパーコンティニューム光源を利用できます。従来の太陽電池の多くは、シリコンの層を2つの電極で挟んだものでした。シリコン太陽電池は寿命が長く、安定性に優れていますが、その反面、限界もあります。そのひとつは、太陽スペクトルのすべての波長からエネルギーを吸収することができないことです。しかし、ペロブスカイトは有望な太陽電池の候補となっています。

SENSOFAR社の3D測定顕微鏡は、共焦点・光干渉・焦点移動（フォーカスバリエーション）方式の標準的な原理だけでなく、それらの技術をさらに革新させた共焦点技術や膜厚測定などの先進的な測定、観察方式を有しています。

非破壊検査レーダーソリューション。数十cmまでの高い材料浸透、数千トレース/秒の高い検査率、サブmmの解像度の高解像度3Dイメージングが可能です。非接触検査、インライン検査に適しています。

フォトンエナジー社 レーザーマーキング・レーザープロセス製品によるアプリケーション例：プラスチック加工（炭化、彫刻、発泡成形、素材除去）

CryLaS社小型＆低ノイズレーザーシステムによるスキャトロメトリ（光波散乱計測）の例をご紹介します。

測定・検査向けハイエンドカメラ“ImageIR”の応用例をご紹介します。

半導体の製造工程おけるSensofar製品の測定アプリケーションをご紹介します。重要な寸法の測定、3D測定、膜厚測定、粗さの特性評価、欠陥検査などでご使用いただけます。

データ伝送の高速化、通信ネットワークの拡大、家電製品の普及により、フォトニクス業界ではさらなる小型化が求められています。そのため、非常に小さくて複雑な部品を作り、組み立てる必要があります。個々の部品はナノメートル単位の微細な構造で構成されており、高度な光学システムによって作成または検査されます。フォトニクスやオプティクスのアプリケーションにおいて、高精度な位置決めを達成することが重要です。attocube社のモジュール式ナノ位置決めステージは、複雑な多軸アプリケーションにも優れた精度と信頼性を提供します。

光学顕微鏡を用いた共焦点と光干渉方式による3次元形状測定技術