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Vibration Control製品
ニューポートの除振台は、国内外を問わず多くのお客様から高い評価をいただいております。
ニューポート社製 Vibration Control製品の詳細は、専用サイトをご参照下さい。
ピエゾ駆動光学マウント
種々のコンポーネントやアプリケーションに柔軟に対応できる製品を多数ラインナップ
AFM（原子間力顕微鏡）取り扱い製品一覧
日本レーザーでは用途に応じて様々なAFM（原子間力顕微鏡）を取り揃えております。
可変光減衰器
高速減衰速度、低挿入損失、パワーメータ内蔵の MEMS ベースの可変光減衰器。非常にコンパクトで費用対効果の高い可変光減衰器・バリアブルアッテネータです。 高度なパワー安定化機能により、入力パワーが変動しても出力パワーを設定により安定化させ、維持することが可能です。
Opto-Mechanics製品
ニューポートの光学マウントは、他社には無い高い安定性を持ち、多種多様のモデルを数多く揃えています。ニューポート社製 Opto-Mechanics製品の詳細は、専用サイトをご参照下さい。
ラインスキャナ型 非接触温度計“MP150シリーズ”
512ポイントでの測定が可能な温度計測用高精度ラインスキャナ
長寿命プローブ
長寿命プローブ：- AFMプローブ HARDシリーズ,- AFMプローブ 導電性ダイヤモンドコーティング DMD-XSC11
量子相関 蛍光測定用 ソフトウェア
量子相関と蛍光測定に特化したソフトウェアを提供。FLIM、FLIM-FRET、FCS、FCCS、FLCS、同時計測、蛍光タイムトレース分析等に対応しています。QuCoa、SymPhoTime 64 、EasyTau 2のすべてのデモ機ご用意しております。
PMD/PDL/SOPエミュレーション装置
偏光モード分散（PMD）、偏光依存損失（PDL）、SOP（偏光状態）の計測・評価に
スペックルパターンのスクランブラ “MMS-201”
スペックルパターンのランダム化技術により、マルチモードファイバの出力を均一化
量子効率測定装置“IQE-200”
外部・内部量子効率を同時測定できる経済的なソリューションです
フェムト秒レーザー加工装置 Aシリーズ
高性能コンパクトな A シリーズ プラットフォームは、ナノ秒、ピコ秒、またはフェムト秒パルス レーザーを搭載できるレーザー マイクロマシニング設備です。
測定用標準基板・テストサンプル・校正構造体
測定用標準基板・テストサンプル・校正構造体：- AFM 校正用構造体 測定用標準基板 HOPG,- AFM 校正用構造体 TGXYZ,- AFM 校正用構造体 TGX,- AFM 校正用構造体 TGF11シリーズ
クラス最速・最高精度 3Dプリンタ 光造形装置 Quantum X Shape
Quantum X shapeは、2光子重合（2PP）をベースに独自のプリンティングテクノロジーを組み合わせた、多用途での活用が可能な3Dプリンタです。あらゆる2.5D/3D形状での、サブミクロン精度と高い正確性でのラピッドプロトタイピング可能。またウェハースケールのバッチ生産に最適なツールとなっています。
プロセスフォトメータ（濁度・SS濃度計）”NBP007″
高濃度対応 インラインSS（浮遊物質測定）・濁度 計測
後方光散乱方式採用
過酷な環境下でもメンテフリーで使用可能な堅牢デザイン
受動光学部品搭載
WDMカプラ、スプリッタ、バンドパスフィルタ、PMビームスプリッタ、サーキュレータなど、お好みの受動光コンポーネントを搭載することができます。 PXIeおよびベンチトップモデルでは、SMF、MMF、PMFをサポートしています。
周波数分解型光ゲーティングパルスアナライザ
IQFROG周波数分解光ゲートパルスアナライザは、300fs～50psのパルスの強度・位相測定に適した分光分解第二高調波発生（SHG）自己相関器です。
MicroSense 8800 シリーズ 静電容量変位センサ
優れた温度特性と高分解能を実現。制御用途でのフィードバックセンサに最適。
フォトンカウンティング 光子計数とタイミング （蛍光測定・量子相関）
PicoQuantのフォトンカウンティング(光子計数)向けの幅広い製品には、時間相関シングルフォトンカウンティング（TCSPC）とイベントタイミング用の高性能モジュール、シングルフォトンセンシティブ検出器、および（時間分解）蛍光測定と量子相関の評価用の専用分析ソフトウェアが含まれます。
高速ステアリングミラー MRシリーズ
反射モード（2Dミラー）、透過モード（チューナブルプリズム）で使用可能な、革新的な2次元ビームステアリングミラーです。ビームシフト無。システム組込みに対応。LiDAR、アダプティブヘッドライト、OCT、マシンビジョン、3Dプリンティング、セキュリティなど多彩なアプリケーションで活用いただけます。
中赤外パルス用 レーザー･スペクトラム･アナライザ（LSA) ”772B-MIR”
>50Hzのパルスレーザーが測定可能。QCLに最適。高い波長精度：±0.08 nm @ 8μm､高い光除去比：20 dB、1〜12μmの波長域。CWレーザーも測定可能。
テラヘルツ分光解析装置“T-COGNITION”
テラヘルツ分光により、封書や小包の中に隠された有害物質を正確に、わずか数秒以内で同定
ハイエンド リーズナブル価格 AFM Nano-Observer ナノオブザーバー
高いスキャナー性能を持つハイエンドAFMです。老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質ながらリーズナブルな価格に抑え、非常にコストパフォーマンスの高いAFMになっています。通常のAFMとしての機能のほか、電気特性測定（KFM、C-AFM)などに強みがあります。
可視光-中赤外 CW用 レーザー･スペクトラム･アナライザ(LSA) “771シリーズ”
CWレーザー測定対応。波長精度 最高±0.0001nm。1台で波長測定＆スペクトル分析が可能。可視光(VIS)から中赤外(MIR)領域まで (375nm to 12μm) の波長域をカバー。マイケルソン干渉計ベース。パルスレーザー(>50kHz)の測定が可能。
