検査・測定・イメージング機器

検査・測定・イメージング機器 一覧

簡易・小型 原子間力顕微鏡 AFM “CrabiAFM”

OME Technology

CrabiAFMは、コンパクトで低価格な簡易原子間力顕微鏡(AFM)です。リサーチ用途、ナノ教育、またはすでにAFM経験をお持ちの方のサブ機として最適です。

Detail

装置組込み用非接触面粗さ計 S mart sensor

SENSOFAR Metrology
[新商品]

S mart 2は、白色干渉計とエリア共焦点(コンフォーカル)の技術による3D表面形状測定が可能な装置組込み用顕微鏡ユニットです。3Dレーザー顕微鏡と同等の分解能と精度、再現性による表面形状・粗さ測定を実現可能です。

Detail

動的光散乱法 粒度分布測定装置 NANOPHOX

Sympatec

一般的な動的光散乱法とは異なり、光源とセンサを2つずつ用いる「クロスコリレーション法」を採用しています。そのため、高濃度な試料でも多重散乱の影響を排除した正確な測定が可能です。(測定範囲 0.5 nm~10 μm)

Detail

AFMプローブ・カンチレバー

NanoWorld

NanoWorld社では、代表的なシリーズとして、PointProbe(ポイントプローブ)シリーズ, Arrow(アロー), Pyrex-nitride(パイレックス・ナイトライド)を取り揃えております。

Detail

Nanoview 1000 AFM ローコスト 高イメージング品質

FSM Precision

従来のAFMの半分以下の低価格ながら、高いイメージング品質を発揮します。日本初上陸の高コストパフォーマンスAFMです。

Detail

プロセスフォトメータ(濁度・SS濃度計)”NBP007″

KEMTRAK

高濃度対応 インラインSS(浮遊物質測定)・濁度 計測
後方光散乱方式採用
過酷な環境下でもメンテフリーで使用可能な堅牢デザイン

Detail

高性能 蛍光寿命分光装置 FluoTime 300

PicoQuant

蛍光寿命と定常状態の両分光計測が可能な、高性能な完全自動化 分光装置です。時間相関単一光子計数(TCSPC)またはマルチチャネルスケーリング(MCS)により、ピコ秒からミリ秒までの蛍光寿命をカバーします。定常状態と時間分解の両方の分光計測が可能です。

Detail

コンパクト モジュール式の蛍光寿命分光計 FluoTime 250

PicoQuant

蛍光寿命分光計。コンパクトモジュール方式 TCSPC,MCS(マルチチャンネルスケーリング)の双方データ取得可能。測定可能蛍光寿命約10psから数百ms。スペクトル範囲:255〜1550nm。完全自動化されたハードウェア制御。アプリケーションウィザード・スクリプト言語により多彩な機器に対応可能

Detail

白色干渉計 高速・多機能モデル ”S neox”

SENSOFAR Metrology

S neox は、性能、機能、効率、デザインの全ての面で既存の光学3Dプロファイリング顕微鏡を凌駕する、クラス最高の面形状計測システムです。

Detail

2μm ナノ秒パルス ファイバーレーザー “PowerWave2000-ns”

NPI Lasers

中赤外スーパーコンティニューム光源の励起に最適。中心波長 1900~2000 nm、繰り返し周波数 kHz~MHz、パルスエネルギー10 μJにて最大出力10 W

Detail

LED光エンジン“SOLA II シリーズ”

Oriel (Newport Brand)

アークランプに代わる長寿命 白色光源。紫外・赤外領域の発光が少なく、生体サンプルに与える影響を抑制

Detail

分子間相互作用解析装置 “QCM-D”

3T analytik

リアルタイムで質量変化と粘弾性、膜厚を分析高性能で低価格

Detail

AFMカンチレバー 一覧

NANOSENSORS

NANOSENSORS製AFMカンチレバー。10本、20本、50本、ウエハ(365または370または380)の入り数でご注文可能。製品一覧表からお探しのモデルをすぐに見つけられます。ご相談もお気兼ねなくお問合せください。

Detail

AFMプローブ 高分解能 Hi’Res-C

MikroMasch

Hi’Res-Cプローブはシリコンプローブよりも汚染が少なく、より多い枚数の高解像度スキャンの実行が可能です。Hi’Res-Cは微小領域 (< 250 nm) の走査や、平坦なサンプル (Ra < 20 nm) の測定で顕著に能力を発揮します。*本プローブは先端の曲率半径が小さいため、先端とサンプルの相互作用力は小さくなります。

Detail
TOPに戻る