形状・変位計測
FM Nanoview Op AFM 光学顕微鏡付きAFMプラットフォーム
FSM Precision
光学顕微鏡を備えたAFMのプラットフォーム。高速走査かつ高分解能、原子力間顕微鏡によるイメージングを実現。空中や液体中での測定に対応。
Detail
真空対応 高精度位置センサ
MicroSense
高真空・超高真空対応プローブ。低アウトガス・高安定性・非磁性対応可能。
Detail
レジスコープ “ResiscopeII”
CSInstruments
AFM 超高感度電流増幅器
Detail
装置組込み用白色干渉計・共焦点顕微鏡 シリーズ一覧
SENSOFAR Metrology
非接触・非破壊で表面の微細形状、面粗度、粗さ、薄膜計測などの3D形状を測定することができる装置組込み用の顕微鏡ユニット 。白色干渉計および3Dレーザー顕微鏡に代表される共焦点顕微鏡技術を搭載。
Detail
AFM-IR装置 Vista One, IR-PiFM / PiF-IR
Molecular Vista
[新商品]
ナノスケールIR化学分析用のオリジナルPiFM用AFM。 Vista One は、FTIR やナノ FTIR よりも詳細なナノスケールのケミカルマッピングと点スペクトルを取得します。
Detail
クリーンルーム対応 装置組込み用白色干渉計・共焦点顕微鏡 S neox Cleanroom sensor
SENSOFAR Metrology
[新商品]
クリーンルーム対応。高い柔軟性を持つ装置組込み用顕微鏡ヘッド。さまざまなアプリケーションに適合します。ISO Class 1及びESDの規格に対応。
Detail
MicroSense 5800 シリーズ 静電容量変位センサ
MicroSense
高分解能・高速応答。動的変位測定のスタンダードモデル。
Detail
装置組込み用白色干渉計・共焦点顕微鏡 S neox sensor
SENSOFAR Metrology
S neoxは多機能かつ高性能な機能をもつ組込み可能な3D測定センサです。共焦点・白色干渉計・焦点移動による3D表面形状測定加えて、膜厚測定ができ、幅広いアプリケーションに対応。自動3D測定が可能。
Detail
長寿命プローブ
MikroMasch
長寿命プローブ:- AFMプローブ HARDシリーズ,- AFMプローブ 導電性ダイヤモンドコーティング DMD-XSC11
Detail
高解像度ダイアモンド・AFMプローブ(ダイヤモンドカンチレバー)
CSInstruments
最高の耐摩耗性と電気的性能を提供する高導電性ダイヤモンドプローブ(ダイヤモンドAFMカンチレバー)
Detail
MicroSense 静電容量変位センサ一覧
MicroSense
MicroSense LLCの静電容量センサを紹介。全カタログをまとめてダウンロードできます。
Detail
白色干渉計 エントリーモデル ”S lynx”
SENSOFAR Metrology
[オススメ]
コンパクトなサイズにSensofarの3-in-1テクノロジーを搭載した卓上型の3D形状測定装置
Detail
✕