その他の製品 一覧

Motion製品

Newport

ニューポート社は、位置決め装置(モーションコントロール)の精密機械設計と製造に50年にわたって携わり、その豊かな経験と専門性を背景に、非常に多彩なラインナップを展開しています。

Detail

LEDソーラーシミュレーター“VERASOL”

Oriel (Newport Brand)

LED光源を用いたクラスAAAの長寿命ソーラーシミュレータ

Detail

超高安定性・二次元分光干渉計 “GEMINI 2D”

NIREOS

イタリアのNIREOS社のGEMINI-2Dは、過渡吸収分光測定を最先端の2次元分光装置に変換します。
GEMINI 2Dはコンパクトで非常に安定的に使用できる干渉計であり、フェムト秒レーザーパルスの2つの同一線上で位相ロックされたレプリカを生成し、比類なき安定性と堅牢性を備えています。

Detail

高出力 周波数変換レーザー Koheras HARMONIK

NKT Photonics
[新商品]

高出力(最大10W)で狭線幅(sub-kHz)の単一周波数レーザー。周波数変換により波長ラインナップが増えました。位相と強度の両ノイズを抑制。TEC搭載。ルビジウム、ストロンチウム、バリウム、イッテルビウムの波長に正確に対応でき、最先端の量子アプリケーションに最適です。

Detail

ツインエアー方式高精細ディスペンサ Twin-airⓇ

エンジニアリング・ラボ

極微量滴下を可能にしたツインエアー方式。独自技術のセルフサックバックで液だれ、濡れ上がり無し

Detail

ハイパワービーム分析装置一覧

Duma Optronics

50kW/cm2超のパワー密度でも歪みのない正確なビームサンプリングを実現

Detail

プロセスフォトメータ(濃度・色モニタ)”DCP007″

KEMTRAK

インライン用の吸光光度計。プロセスの濃度・色測定に最適。
過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザイン。

Detail

測定用標準基板・テストサンプル・校正構造体

MikroMasch

測定用標準基板・テストサンプル・校正構造体
 
– AFM 校正用構造体 測定用標準基板 HOPG
– AFM 校正用構造体 TGXYZ
– AFM 校正用構造体 TGX
– AFM 校正用構造体 TGF11シリーズ

Detail

クラス最速・最高精度 3Dプリンタ 光造形装置 Quantum X Shape

Nanoscribe
[新商品]

Quantum X shapeは、2光子重合(2PP)をベースに独自のプリンティングテクノロジーを組み合わせた、多用途での活用が可能な3Dプリンタです。あらゆる2.5D/3D形状での、サブミクロン精度と高い正確性でのラピッドプロトタイピング可能。またウェハースケールのバッチ生産に最適なツールとなっています。

Detail

3D測定顕微鏡 高速・多機能モデル ”S neox”

SENSOFAR Metrology

新しい S neox は、性能、機能、効率、デザインの全ての面で既存の光学3Dプロファイリング顕微鏡を凌駕する、クラス最高の面形状計測システムです。

Detail

Opto-Mechanics製品

Newport

ニューポートの光学マウントは、他社には無い高い安定性を持ち、多種多様のモデルを数多く揃えています。ニューポート社製 Opto-Mechanics製品の詳細は、専用サイトをご参照下さい。

Detail

OCT/センシング用 バランスフォトディテクタ”BPD-002″

General Photonics

高性能なOCT用バランスフォトディテクタ BPD-002 を使用することでSN比を向上することができます。研究開発において使用されることを目的に設計されています。

Detail

簡易型レーザークリーニング装置

TRUMPF (旧SPI Lasers)

ナノ秒パルスファイバーレーザー使用 高速&高品質 表面クリーニング。100W or 200W出力モデル

Detail

ファイバ光スイッチ/マルチプレクサ

piezosystem jena

ピエゾ駆動システムによる、高速・高効率・広帯域な光スイッチ。標準1~9チャンネル。ファイバコア径 50~500μm

Detail

噴霧解析システム (画像解析式) “Envision Patternate”

Oxford Lasers

噴霧映像をから広がり角度や拡散パターンを解析

Detail

光干渉 焦点移動 共焦点 表面粗さ計測 3D測定センサ シリーズ一覧

SENSOFAR Metrology

光干渉(白色干渉計)・共焦点・焦点移動方式を搭載。非接触・非破壊で表面の微細形状、面相度、粗さ、薄膜計測などの3D形状を測定することができる組込センサです 。

Detail

MicroSense 静電容量変位センサ一覧

MicroSense

本ページからMicroSense LLCの静電容量センサ全カタログをまとめてダウンロードできます。

Detail

粒度分布測定装置 “VisiSize” PDIA式(新画像解析式)

Oxford Lasers

最新解析アルゴリズムと新特許光学系により、在来型や他方式を超える安定性と精度を実現。測定レンジ。サイズ:1μm ~15,600μm。速度:~1,000m/s@100μm

Detail

広帯域 400-1000 nm 波長可変レーザー SuperK CHROMATUNE

NKT Photonics

新製品先行紹介(発売時期等はお問い合わせください)
SuperK CHROMATUNE は超広帯域な波長可変レーザーです。400-1000 nm もの広い波長域をギャップフリーでカバーし、1mW の光パワーを一定に出力します。寿命は数千時間で、信頼性の高い製品です。メンテナンスフリーで、アライメントや調整も不要です。

Detail

AFMプローブ 高分解能 Hi’Res-C

MikroMasch

Hi’Res-Cプローブはシリコンプローブよりも汚染が少なく、より多い枚数の高解像度スキャンの実行が可能です。
 
Hi’Res-Cは微小領域 (< 250 nm) の走査や、平坦なサンプル (Ra < 20 nm) の測定で顕著に能力を発揮します。
 
*本プローブは先端の曲率半径が小さいため、先端とサンプルの相互作用力は小さくなります。

Detail

真空対応 高精度位置センサ

MicroSense

高真空・超高真空対応プローブ
低アウトガス・高安定性・非磁性対応可能

Detail

受託粒度分布測定・各種サービス

Sympatec

粒度分布測定に関する受託測定やコンサルティングなど、様々なサービスをご提供いたします。

Detail

単一光子固体光源 Single Quantum Hermes

Single Quantum

高輝度、固体の単一光子光源。最高 8つの光源チップを搭載可能。同社の超電導ナノワイヤ単一光子検出器互換。

Detail

PMD & PDL 校正標準器“CSシリーズ”

General Photonics

DGD, 2次 PMD, PDL の校正標準器。使用材料固有の光学及び複屈折特性により、高い精度を保証。

Detail
TOPに戻る