その他の製品 一覧

LED光エンジン“SOLA II シリーズ”

Oriel (Newport Brand)

アークランプに代わる長寿命 白色光源。紫外・赤外領域の発光が少なく、生体サンプルに与える影響を抑制

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コンパクト モジュール式の蛍光寿命分光計 FluoTime 250

PicoQuant

蛍光寿命分光計。コンパクトモジュール方式 TCSPC,MCS(マルチチャンネルスケーリング)の双方データ取得可能。測定可能蛍光寿命約10psから数百ms。スペクトル範囲:255〜1550nm。完全自動化されたハードウェア制御。アプリケーションウィザード・スクリプト言語により多彩な機器に対応可能

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PicoQuant ピコ秒パルス LD/LED 製品一覧

PicoQuant

PicoQuant社のピコ秒パルス半導体レーザー/LEDは、コンパクトで信頼性の高いターンキー・ソリューションです。ピコ秒パルス、変調、または高速スイッチ(nsec~µsec)モードで動作します。代表体なレーザーシステムは、共通のドライバユニットと交換可能なヘッドで構成されます。特殊な用途向けのスタンドアローンユニットもラインナップしています。

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ビーム位置測定装置一覧

Duma Optronics

シンプル・高速・低コスト。お手持ちのPCでレーザービームをリアルタイム制御

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極高真空窓VX型

藤アイデック

アウトガス極少で超高真空領域までの立ち上げが短時間で可。熱歪みのない窓材で、透過光(レーザー)の偏光・歪み・散乱を抑制した高精度測定を実現。加速器関連など高精度透過を必要とする全ての実験・開発用の真空窓に。

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多機能 偏波コントローラ “MPC-201 & MPC-202”

General Photonics

独自の偏光コントロール・アルゴリズムを搭載した高性能偏光コントローラで多彩なコントロール機能を獲得。種々のSOPスクランブリングやSOP変調が可能。コヒーレント・レシーバ性能評価に最適。

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PIV アクセサリ

Oxford Lasers

VisiVector PIVシステムには、PIV計測を行うための様々なアクセサリーがあります

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蛍光式光ファイバー温度センサ Photon Control

Photon Control

高周波(RF)・強磁場環境でも信頼性の高い温度測定が可能な蛍光式のファイバー温度計です。
熱電対や放射温度計などの従来の温度計が不向きな用途、半導体製造装置(エッチング、成膜)、FPD、バッテリー、ブスバー/バスバー、開閉器(スイッチギア)、モーター、発電機、医療向け(MRI、ハイパーサーミア)などに最適です。

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量子効率測定装置“IQE-200”

Oriel (Newport Brand)

外部・内部量子効率を同時測定できる経済的なソリューションです

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ピエゾコントローラ/アンプ

piezosystem jena

ピエゾ製品の分解能と精度を極限まで高める、高性能コントローラ及びアンプ。用途に応じて最適な製品を選択可能

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消光比メータ “ERM-202”

General Photonics

PER (偏光消光比) 範囲 50dB。ブロードバンド光源のPERを直接計測可能。1ch. or 2 ch.

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インライン用組込型3D測定センサー “S mart & S onix”

SENSOFAR Metrology

インラインの組み込み用に開発された高性能3D測定センサー

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レーザー走査型顕微鏡(LSM)用 コンパクト FLIM・FCS アップグレードキット

PicoQuant

各社の多光子レーザー走査型顕微鏡に取り付けて、TCSPC(時間相関単一光子測定法)を用いた高感度・低ノイズのイメージングを可能にするTCSPCイメージング拡張キット。コンパクトFLIM・FCSアップグレードキット

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attocube ナノ位置決めステージ概要

attocube systems

高精度ピエゾ駆動モータおよび位置決め製品。超高真空・非磁性対応。ナノオーダーの高精度アライメント用途など産業分野での高精度マシニングから、要件の厳しい最先端の研究アプリケーションにも好適。

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PIV 非コヒーレント・マルチ・パルス・レーザー“FireFly300W”

Oxford Lasers

境界層や壁面流、噴霧の可視化 / PIVに適した非コヒーレント光特性のレーザーです。鏡面やメタルの反射が低く、金属面などの照明に最適です。
最大50 kHzの繰り返しが出来るパルス発振により、ハイスピードカメラの撮影コマ数に関係なく一定の明るさで撮影が可能です。

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基板用 高速欠陥検査イメージング装置 AT1

Lumina Instruments

Lumina Instruments社のAT1は、ガラス基板、半導体基板、FPD、フォトマスク、ハードディスク等の基板の欠陥を可視化する高速欠陥検査イメージング装置です。他に類を見ない水準の測定速度とサブナノメートルオーダーの感度が特徴です。

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ファイバーコリメーター

Electro-Optics Technology

ファイバーレーザーに最適。特許技術で戻り光による光学系損傷防止
・強固なアーマー外皮
・多種なファイバーに対応(HI-1060、20/250、980PMおよびカスタム対応)
・0.4~5.0mmまでの出射ビーム径
・0.08~0.14NAまで対応
・対応出力(伝送光):30~400 W
・対応出力(戻り光):5~50 W

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偏波の計測装置(偏波消光比・偏波依存損失・挿入損失・偏波クロストーク)

General Photonics

偏波関連の計測装置 / 分析装置をラインナップ。

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テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER”

HÜBNER

テラヘルツ分光を用いた日々のルーチン測定向けの簡単・使い易い非接触・非破壊分析装置。周波数範囲 0.1~4.0 THz、最大ダイナミックレンジ 70 dB。

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PDL/IL マルチメータ “PDL-201”

General Photonics

偏光依存損失 (PDL), 挿入損失 (IL), デバイスの光パワーをわずか30ミリ秒で同時測定。低/高の両PDL値を測定可能。

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MicroSense 4800 シリーズ 静電容量変位センサ

MicroSense

優れた直線性と温度特性
静的な変位測定のスタンダードモデル

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OEMレーザーマーカー

Photon Energy

レーザーマーキングシステムへの搭載用レーザーマーカー。独立型&コンプリートシステムで他のアセンブリラインや特殊マシンへの組み込みにも最適。

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フォトンカウンティング検出器(光子計数検出器)

PicoQuant

光子計数検出器としてPMT(光電子増倍管)、HPD(ハイブリット光電子増倍管)、SPAD(単一光子アバランシェダイオード)にてフォトンカウンティングが可能です。紫外から近赤外の範囲をカバー。

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産業用 サーモグラフィカメラ“ThermoView TV40”

Fluke Process Instruments

ファクトリ・オートメーション用途向け高性能サーマル・イメージング・システム。保護等級IP67 (NEMA 4)の堅牢なハウジング

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