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測定用標準基板・テストサンプル・校正構造体
MikroMasch
測定用標準基板・テストサンプル・校正構造体:- AFM 校正用構造体 測定用標準基板 HOPG,- AFM 校正用構造体 TGXYZ,- AFM 校正用構造体 TGX,- AFM 校正用構造体 TGF11シリーズ
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AFMプローブ 磁気力顕微鏡 Co-Cr コーテイング コバルトクロム
MikroMasch
HQ:NSCプローブモデルには、磁気力顕微鏡(MFM)用のコーティングを施した製品もご用意しております。コーティングはチップサイドに膜厚60 nmのコバルト層があり、さらに酸化防止のクロムフィルム膜厚20 nmがカバーしています。トポグラフィーと磁気特性の安定した測定のためにカンチレバーのパラメーターは最適化されています。
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FM Nanoview Op AFM 光学顕微鏡付きAFMプラットフォーム
FSM Precision
光学顕微鏡を備えたAFMのプラットフォーム。高速走査かつ高分解能、原子力間顕微鏡によるイメージングを実現。空中や液体中での測定に対応。
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レジスコープ “ResiscopeII”
CSInstruments
AFM 超高感度電流増幅器
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