その他の製品 一覧

非接触型厚さ測定装置 “VarioMetric”

Varioscale

レーザー干渉を利用した厚さ測定装置。厚膜(1~500μm)測定用。小型・高速・高精度

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ビームプロファイラ

Ophir

UV~ミリ波。CW、パルスの両レーザー光に対応。高精度で信頼性の高いレーザビーム計測機器

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レーザー・スペクトラム・アナライザ(LSA) “771シリーズ”

Bristol Instruments

高繰り返しパルスとCWの両レーザー対応。波長精度 最高±0.0001nm。1台で波長測定&スペクトル分析が可能。可視光(VIS)から中赤外(MIR)領域まで (375nm to 12μm) の波長域をカバー。マイケルソン干渉計ベース。

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電動回転ステージ(自動回転ステージ)

Newport

直接駆動の直読式高速回転型から、多用途・低価格タイプまで、100モデル以上を展開

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Motion製品

Newport

ニューポート社は、位置決め装置(モーションコントロール)の精密機械設計と製造に50年にわたって携わり、その豊かな経験と専門性を背景に、非常に多彩なラインナップを展開しています。

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FT-IRスキャナ“8035シリーズ”

Oriel (Newport Brand)

モジュラーユニットを選択・構成することによりアプリケーションに合わせて柔軟に構成可能

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ハイブリッド・フォトマルチプライヤー検出器“PMA Hybridシリーズ”

PicoQuant

高効率・高速・高分解能。さまざまなPicoQuant製品と柔軟にシステム統合。ダークカウントの少ないペルチェクーラー付きの高速ハイブリッド・フォトマルチプライヤチューブ採用。

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半導体レーザー(LD)用コントローラ

ILX Lightwave (Newport Brand)

ILX Lightwave (Newport Brand) は革新的で精度の高い装置、テストシステム、アクセサリを、充実のラインナップで提供しています。

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ミニマルCD-SEM

TCK

ミニマル規格に準拠。コンパクトで可搬型ながら高解像度パターン観察を実現した、測長機能付SEM
(※「ミニマル」は独立行政法人産業技術総合研究所の登録商標です。)

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ポータブル型 粒度分布測定装置 “VisiSize P15 Portable V” (新画像解析式)

Oxford Lasers

キャリーケースで運搬のでき、取り扱いの簡単な小型軽量タイプ。粒径5μm~3,900μm。速度同時測定モデル

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偏波スクランブラ “PCD-104”

General Photonics

全てファイバーで構成することで、挿入損失と後方反射を抑えた、偏波スクランブラーです。偏波依存利得(PDG)、偏波感受性の低減やPDL測定等向けに、偏光状態をランダム化することが可能です。

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偏波コントローラ / 偏波スクランブラ / 偏波トラッカ

General Photonics

各種システム・装置の偏波特性を多様化し、性能の最適化をサポートする多彩な偏波関連モジュール

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静電吐出方式高精細ディスペンサ Q-Jet

浜松ナノテクノロジー

エアー式ディスペンサでは実現不可能な細線描画、ピエゾ式インクジェットでは不可能な高粘度吐出を可能にする従来の常識を覆した高機能パターニング技術。

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高解像度ダイアモンド・AFMプローブ(ダイヤモンドカンチレバー)

CSInstruments

最高の耐摩耗性と電気的性能を提供する高導電性ダイヤモンドプローブ(ダイヤモンドAFMカンチレバー)

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ファイバ光スイッチ/マルチプレクサ

piezosystem jena

ピエゾ駆動システムによる、高速・高効率・広帯域な光スイッチ。標準1~9チャンネル。ファイバコア径 50~500μm

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3D測定顕微鏡 高速・多機能モデル ”S neox”

SENSOFAR Metrology

新しい S neox は、性能、機能、効率、デザインの全ての面で既存の光学3Dプロファイリング顕微鏡を凌駕する、クラス最高の面形状計測システムです。

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AO周波数シフタ(音響光学周波数シフタ)

Isomet

光ヘテロダイン計測等に便利な小型の周波数シフタ。複数のデバイスのカスケード接続も可能

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スタック・アクチュエータ

piezosystem jena

多層セラミック技術をもとにしたスタック型ピエゾアクチュエータ。数kNもの高い耐負荷重と、1nm未満の高い分解能を同時に実現。

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超ハイダイナミックレンジ・クロスコリレータ SEQUOIA HD

Amplitude Technologies

1013もの高いダイナミックレンジを達成3次フェムト秒クロスコリレータ。 特に高磁場物理学で一般に使用される高強度レーザーのパルス特性評価に極めて有用。

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極高真空窓VX型

藤アイデック

アウトガス極少で超高真空領域までの立ち上げが短時間で可。熱歪みのない窓材で、透過光(レーザー)の偏光・歪み・散乱を抑制した高精度測定を実現。加速器関連など高精度透過を必要とする全ての実験・開発用の真空窓に。

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マイクロドリリングシステム“ProbeDrill 355”

Oxford Lasers

高速・微細な多穴加工(円および四角形状)

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半導体製造装置向け FBG センサー

Photon Control

㈱日本レーザーは、Photon Control社の日本総代理店として、半導体業界におけるファイバーブラッググレーティング(FBG)センサソリューションの独占販売を行います。

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ピエゾコントローラ/アンプ

piezosystem jena

ピエゾ製品の分解能と精度を極限まで高める、高性能コントローラ及びアンプ。用途に応じて最適な製品を選択可能

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NanoTest Xtreme 高温対応ナノインデンター

Micro Materials

-100~1000℃の温度範囲で薄膜の機械特性(硬度、ヤング率等)を測定できる唯一の装置

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