その他の製品 一覧

スポットプロファイラー“JSP20”

日本レーザー

レーザーの集光スポットを瞬時に測定。パルス光の連続的なモニターも可能

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長寿命プローブ

MikroMasch

長寿命プローブ
 
– AFMプローブ HARDシリーズ
– AFMプローブ 導電性ダイヤモンドコーティング DMD-XSC11

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レーザースタビライザー”LASS-II”

Conoptics

最新の電気光学フィードバックループにより、レーザーの特性と機能を簡単に制御

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量子カスケードレーザー(QCL)用コントローラ“LDC-3736”

ILX Lightwave (Newport Brand)

レーザー駆動機能と温度コントロール機能を一つにした低ノイズ・高安定性QCLコントローラ

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半導体レーザー用電源

PicoLAS

コンパクトで安価な組込み用の半導体レーザー電源

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消光比メータ “ERM-202”

General Photonics

PER (偏光消光比) 範囲 50dB。ブロードバンド光源のPERを直接計測可能。1ch. or 2 ch.

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スペックルパターンのスクランブラ “MMS-201”

General Photonics

スペックルパターンのランダム化技術により、マルチモードファイバの出力を均一化

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溶液用 QCL-IR 赤外分析装置 Culpeo

DRS Daylight Solutions

従来のFT-IRに代わる、次世代の赤外分析技術、QCL-IRを採用した小型の溶液用赤外分析装置です。QCL-IRは最大10HzでIRスペクトルを取得することができ、従来技術に比べはるかに高速で安定しています。その測定速度を活かし、リアルタイムでの濃度モニタリングが可能です。また、輝度が高く、少量の溶液サンプルでも分析可能です。Culpeo® QCL-IR液体分析器 バイオプロセス分析・液体クロマトグラフィー・ワクチン関連の分析に最適です。

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PiFM ナノスケール赤外分光イメージング装置 [光誘起力顕微鏡]

Molecular Vista

世界最高の空間分解能 AFM-IR 装置 [空間分解能<10nm]

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AFMプローブ 高分解能 Hi’Res-C

MikroMasch

Hi’Res-Cプローブはシリコンプローブよりも汚染が少なく、より多い枚数の高解像度スキャンの実行が可能です。
 
Hi’Res-Cは微小領域 (< 250 nm) の走査や、平坦なサンプル (Ra < 20 nm) の測定で顕著に能力を発揮します。
 
*本プローブは先端の曲率半径が小さいため、先端とサンプルの相互作用力は小さくなります。

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MicroSense Mini 静電容量変位センサ

MicroSense

コンパクトなモジュールで優れた性能を実現
装置内への組込み専用モデル

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光アイソレーター“700シリーズ”

Conoptics

光ファイバーや光学素子からの戻り光を除去し、レーザー本体を保護。350~1135nm

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ファイバ光スイッチ/マルチプレクサ

piezosystem jena

ピエゾ駆動システムによる、高速・高効率・広帯域な光スイッチ。標準1~9チャンネル。ファイバコア径 50~500μm

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可視光-中赤外 CW用 レーザー・スペクトラム・アナライザ(LSA) “771シリーズ”

Bristol Instruments

CWレーザー測定対応。波長精度 最高±0.0001nm。1台で波長測定&スペクトル分析が可能。可視光(VIS)から中赤外(MIR)領域まで (375nm to 12μm) の波長域をカバー。マイケルソン干渉計ベース。パルスレーザー(>50kHz)の測定が可能。

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超音波顕微鏡/超音波映像装置 “V シリーズ”

Kraemer Sonic Industries (KSI)

超音波で物体内部を高精細/高感度に検査・観察

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単一光子固体光源 Single Quantum Hermes

Single Quantum

高輝度、固体の単一光子光源。最高 8つの光源チップを搭載可能。同社の超電導ナノワイヤ単一光子検出器互換。

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ナノポジショニング・リニアステージ(ピエゾ駆動直進ステージ)

Newport

ナノメートル分解能の圧電素子モータベース・直進ステージ。単軸/多軸、一体型/モジュール式、オープンループ/クローズドループを用途に応じて選択可能

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Nano-Observer ナノオブザーバーAFM

CSInstruments

高いスキャナー性能を持つハイエンドAFMです。老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を持ちながら価格は1000万円を切り、非常にコストパフォーマンスの高いAFMとして注目されています。通常のAFMとしての機能のほか、電気特性測定(KFM、C-AFM)などに強みがあります。

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光アイソレーター/ファラデーローテーター

Electro-Optics Technology

多彩な光アイソレーター/ファラデーローテーターをラインナップ

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PIV アクセサリ

Oxford Lasers

VisiVector PIVシステムには、PIV計測を行うための様々なアクセサリーがあります

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3D形状・表面粗測定 ソフトウェアパッケージ

SENSOFAR Metrology

3D形状や表面粗さを測定、解析するための直感的で使いやすいソフトウェアパッケージを装置とセットで提供しています。

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レーザークリーニング装置

[オススメ]

100W程度の中出力タイプから最大1600Wの高出力まで、複数のモデルをラインナップ。目的に応じて最適なソリューションをご提案します。

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プロセスフォトメータ(濁度・SS濃度計)”NBP007″

KEMTRAK

高濃度対応 インラインSS(浮遊物質測定)・濁度 計測
後方光散乱方式採用
過酷な環境下でもメンテフリーで使用可能な堅牢デザイン

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非接触型厚さ測定装置 “VarioMetric”

Varioscale

レーザー干渉を利用した厚さ測定装置。厚膜(1~500μm)測定用。小型・高速・高精度

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