単一光子検出共焦点蛍光顕微鏡 Luminosa
単一光子検出共焦点蛍光顕微鏡。最高のデータ品質と使い易さを兼ね備えた蛍光顕微鏡です。自動化により測定時間を短縮を実現。実験室に簡単にインストールいただけます。
ブルーレーザー 金属加工向け BLシリーズ / ファイバ伝送型 BL-Fシリーズ
ブルーレーザーは金属への高い吸収率から金属加工にとって理想的なレーザーです。波長~444nm。BLシリーズ(125W, 250W)とBL-Fシリーズ(125W, 250W, 500W, 1000W)をご用意しています。汎用的なガルバノスキャナとの一体化が可能。はんだ付け、ワイヤなど、薄い銅またはアルミニウム板の接合・溶接に最適です。赤外線レーザーやグリーンレーザーよりも優れた効率で金属加工を行うこと可能です。
レジスコープ “ResiscopeII”
AFM 超高感度電流増幅器
廉価版テラヘルツ量子カスケードレーザー(THz-QCL)TeraCascade100
テラヘルツ実験スタートに最適。高出力モデルTC2000の廉価版。最先端の量子カスケードレーザー(QCL)ベース。2~5THz。パルス(QCW)。シングル/マルチモード。出力0.1mW以上 at 3.2THz。窒素冷却
PicoQuant ピコ秒パルス LD/LED 製品一覧
PicoQuant社のピコ秒パルス半導体レーザー/LEDは、コンパクトで信頼性の高いターンキー・ソリューションです。ピコ秒パルス、変調、または高速スイッチ(nsec~µsec)モードで動作します。代表体なレーザーシステムは、共通のドライバユニットと交換可能なヘッドで構成されます。特殊な用途向けのスタンドアローンユニットもラインナップしています。
半導体レーザー(LD)用コントローラ
ILX Lightwave (Newport Brand) は革新的で精度の高い装置、テストシステム、アクセサリを、充実のラインナップで提供しています。
レーザー走査型顕微鏡(LSM)用 コンパクト FLIM・FCS アップグレードキット
各社の多光子レーザー走査型顕微鏡に取り付けて、TCSPC(時間相関単一光子測定法)を用いた高感度・低ノイズのイメージングを可能にするTCSPCイメージング拡張キット。コンパクトFLIM・FCSアップグレードキット
基板用 高速レーザー欠陥スキャナー ATシリーズ
Lumina Instruments社のATシリーズは、ガラス基板、半導体基板、ディスプレイ基板などの基板の欠陥を可視化する欠陥検査イメージング装置です。高速での測定とnm単位の高いPSLパーティクル感度を実現。
ビームプロファイラ ( カメラ式 & スリット式 )
UV~ミリ波。CW、パルスの両レーザー光に対応。高精度で信頼性の高いレーザビーム計測機器
レーザースペックルリデューサー&ビームホモジナイザー LSR-4C
レーザースペックル低減とビームの均一化が可能.。可動式のディフューザー(拡散版)によるレーザースペックルリダクター。過酷な環境でも使用可能な堅牢設計。高q-factorで低消費電力。振幅範囲 800μm。
拡張短波赤外 ハイパースペクトルカメラ HERA Extended SWIR
900 – 2300 nm(拡張短波赤外 )に対応、ハイパースペクトルカメラHERA Extended SWIRは優れた空間スペクトル分解能と、低い照度の下でも高感度を実現するフーリエ変換 (FT) 検出技術を採用。分解能(320×256)4段式TEクーラー・14ビットセンサーを搭載により高精細を実現。1㎝クリアアパーチャ(開口)で優れた光透過率を備えたコンパクトかつ頑強なカメラです。
電気光学変調器
波長244~4500nmで光強度&位相を変調。高安定性・低電圧・高速
簡易・小型 原子間力顕微鏡 AFM “CrabiAFM”
CrabiAFMは、コンパクトで低価格な簡易原子間力顕微鏡(AFM)です。リサーチ用途、ナノ教育、またはすでにAFM経験をお持ちの方のサブ機として最適です。
消光比メータ “ERM-202”
PER (偏光消光比) 範囲 50dB。ブロードバンド光源のPERを直接計測可能。1ch. or 2 ch.
卓上型ディスペンシング・ロボットシステム Twin-air® EDシリーズ
卓上型ディスペンシング・ロボットシステム。XYステージ付きシステム。1nL(ナノリットル)以下の滴下、細線描画を実現。オートアライメント・ノズルギャップ自動補正機能を標準搭載 Twin-air®
ハイエンド リーズナブル価格 AFM Nano-Observer ナノオブザーバー
高いスキャナー性能を持つハイエンドAFMです。老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質ながらリーズナブルな価格に抑え、非常にコストパフォーマンスの高いAFMになっています。通常のAFMとしての機能のほか、電気特性測定(KFM、C-AFM)などに強みがあります。
直立型時間分解蛍光顕微鏡 MicroTime 100
直立型の時間分解蛍光顕微鏡 様々な形状とサイズにアクセスが可能。数cmまでのワイドレンジスキャン。マルチ検出器オプションで最大4チャンネル。XY走査ピエゾステージでの2Dライフタイムイメージングが可能。ウェーハ、半導体、太陽電池などの固体サンプルの時間分解フォトルミネッセンス研究に最適
ナノポジショニング・リニアステージ(ピエゾ駆動直進ステージ)
ナノメートル分解能の圧電素子モータベース・直進ステージ。単軸/多軸、一体型/モジュール式、オープンループ/クローズドループを用途に応じて選択可能
レーザー回折式 粒度分布測定装置 HELOS
乾式測定における試料分散性能と測定再現性に優れており、凝集しやすい試料でも安定して測定できます。世界各国に多数の納入実績があり、製薬、化学、磁性体、食品などの様々な業界で採用されています。(測定範囲: 0.1~3500 µm)
超短光パルス抽出用レーザースイッチングシステム
ピコ秒及びフェムト秒の高速パルスの間引き用に開発
スペックルパターンのスクランブラ “MMS-201”
スペックルパターンのランダム化技術により、マルチモードファイバの出力を均一化
パワーセンサ、エネルギーセンサ
測定パワーμW~数十kW、エネルギーpJ~数十J、対応波長UV~IR、CW&パルス等様々な光源に対応
AO Qスイッチ(音響光学Qスイッチ)
音響光学デバイスによる短パルスレーザー発振用Qスイッチデバイス。様々な結晶素材で多様なアプリケーションに対応
長寿命プローブ
長寿命プローブ:- AFMプローブ HARDシリーズ,- AFMプローブ 導電性ダイヤモンドコーティング DMD-XSC11