その他の製品 一覧

3D測定顕微鏡シリーズ一覧

SENSOFAR Metrology

非接触・非破壊で表面の微細な3D形状、および粗さを測定・解析することができる形状計測装置です。

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長寿命プローブ

MikroMasch

長寿命プローブ
 
– AFMプローブ HARDシリーズ
– AFMプローブ 導電性ダイヤモンドコーティング DMD-XSC11

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AFMプローブ HQシリーズ

MikroMasch

位相イメージングは、異種材料や特性の不均一性を持つサンプルにおいて、ナノスケールの違いをイメージングするために用いられるAFM技術の一つです。位相コントラストは、チップとサンプル間の相互作用に基づきますが、これらの相互作用は、スキャンパラメーターや、イメージングの測定モード(原子間力の引力領域か斥力領域で捜査しているかなど)に依存します。O’DeaとBurratoは、位相イメージングを使用して、Nafion膜のプロトン伝導ドメインをマッピングしました。彼らは、先端とサンプルの間の特定の相互作用力がプロトン伝導ドメインの分解能に大きく影響することを発見しました。斥力レジームでのイメージングにより、ドメインの面積が大きめに表示され、ドメインの数が少なめに表示されました。引力領域でのイメージングにより、水やフルオロカーボンのドメインが最も正確に測定できました。AFMのフィードバックループが最適化されていない場合、またはカンチレバーが共振周波数を超えて駆動していた時、位相イメージングは組成の違いではなく、形状の変化に対応するイメージになりました。

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電動直進ステージ(自動直進ステージ)

Newport

直接駆動超精密ステージからピエゾモータ直進ステージまで、200モデル以上を展開

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汎用テラヘルツ・イメージングシステム TeraEyes-HV

Lytid
[新商品]

汎用性の高いリアルタイム・テラヘルツ・イメージング・システムで、高解像度アプリケーションに好適。25 FPS。2~5 THz範囲で最大6つのQCLチップを搭載可能。高解像度 最小 250 µm。複数の照明オプション。1クリックで簡単光学構成(反射/透過)。

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コンパクト偏波ディテクタ “PDD-003”

General Photonics

2つの直行した偏光成分の光パワーを同時に計測します。
小さなボディーに偏光スプリッタとフォトディテクタを内蔵しています。

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ファイバ・マルチチャンネル分光器

Yixi Intelligent Technology (旧Brolight Technology)

超小型ファイバー分光器。手のひらサイズで低価格・高コストパフォーマンス。高性能、高感度の新シリーズ発売(YIM-67シリーズ / YIM-68シリーズ / YIM-69シリーズ)

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フォトンカウンティング 光子計数とタイミング (蛍光測定・量子相関)

PicoQuant

PicoQuantのフォトンカウンティング(光子計数)向けの幅広い製品には、時間相関シングルフォトンカウンティング(TCSPC)とイベントタイミング用の高性能モジュール、シングルフォトンセンシティブ検出器、および(時間分解)蛍光測定と量子相関の評価用の専用分析ソフトウェアが含まれます。

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フォトニック集積回路向け マルチチャンネルソース測定システム

Nicslab Pty Ltd

光学集積回路向けマルチチャンネル・ソース測定機器。XPOW は複数の電圧/電流の印加と電圧/電流の測定が可能です。高い汎用性でシンプルな電子回路から複雑なフォトニック集積回路まで、低消費電力の用途にて最適です。また、 XPOWのアップグレード版で、より高速なXDAC はユニポーラ、バイポーラ、ディファレンシャルなど、柔軟なチャンネル出力が可能です。

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動的画像式 粒度・形状分布測定装置 QICPIC

Sympatec

パルスレーザーによる高速撮像によって多数の粒子を測定するため、個々の粒子を測定しながらも、統計的に信頼性の高い解析が可能です。全ての粒子画像が生データとして保存されるため、形状も定量的に解析できます。乾式・湿式を問わず多様な試料に対応します。(測定範囲 0.55~34000µm)

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独自の単一分子感度 時間分解型共焦点蛍光顕微鏡 MicroTime 200

PicoQuant

独自の単一感度を持つ時間分蛍光顕微鏡。最大で6つの個別チャンネル検出が可能。蛍光寿命イメージング(FLIM)、FLIM/FRET、深部組織FLIM、PIE、FCS/FCCS、FLCS/FLCCS、二重焦点FCS、スキャニングFCS、異方性、バースト解析等が可能。2DおよびDイメージング用のピエゾスキャンに対応。

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attocube レーザー干渉式センサ 

attocube systems

ピコオーダ、超高速(10MHz)、長作動距離(最大5m)、多様な材質や極端環境(超高真空、高磁場)に対応する変位測定干渉計【レーザー干渉式変位センサ】

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ファイバカップル・テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER F”

HÜBNER

非破壊・非接触検査ができるプラグ&プレイのテラヘルツ・スペクトロメータ。周波数範囲 0.1~2.5 THz、最大ダイナミックレンジ 54 dB

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最大150μJ出力 高機能フェムト秒/ピコ秒レーザー Satsuma

Amplitude Systemes

革新的なファイバアンプ技術によるコンパクト、ハイパワー、高エネルギー、高繰り返しのフェムト秒/ピコ秒ファイバレーザー。パルス幅は最短 350 fs – 10 ps、繰返し周波数 single shot to 40MHz、最大平均出力 50W、最大パルスエネルギー 150 µJ

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テラヘルツ分光解析装置“T-COGNITION”

HÜBNER

テラヘルツ分光により、封書や小包の中に隠された有害物質を正確に、わずか数秒以内で同定

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フェムト秒ファイバ伝送モジュール Fiber

Amplitude Systemes

中空コアファイバ技術で、分散と非線形の影響を抑えた超短パルスレーザー。ファイバ長 1, 2, 5 m(応相談)、波長 1030nm。

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簡易・小型 原子間力顕微鏡 AFM “CrabiAFM”

OME Technology

CrabiAFMは、コンパクトで低価格な簡易原子間力顕微鏡(AFM)です。リサーチ用途、ナノ教育、またはすでにAFM経験をお持ちの方のサブ機として最適です。

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ハイエンド サーモグラフィ“ImageIR”

InfraTec

最高の感度・精度・空間分解能・速度
測定パフォーマンスに優れた非常に小型で柔軟性の高い製品です。

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テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER”

HÜBNER

テラヘルツ分光を用いた日々のルーチン測定向けの簡単・使い易い非接触・非破壊分析装置。周波数範囲 0.1~4.0 THz、最大ダイナミックレンジ 70 dB。

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ビーム位置測定装置一覧

Duma Optronics

シンプル・高速・低コスト。お手持ちのPCでレーザービームをリアルタイム制御

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非接触型厚さ測定装置 “VarioMetric”

Varioscale

レーザー干渉を利用した厚さ測定装置。厚膜(1~500μm)測定用。小型・高速・高精度

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ピエゾコントローラ/アンプ

piezosystem jena

ピエゾ製品の分解能と精度を極限まで高める、高性能コントローラ及びアンプ。用途に応じて最適な製品を選択可能

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ビームプロファイラ装置一覧

Duma Optronics

CW&パルス対応の高分解能CCDタイプと低コスト&広帯域のナイフエッジ式

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FOG用ファイバーコイル “FC シリーズ”

General Photonics

ファイバーコイルは長さ50m〜5km、直径15mm〜120mmに対応します。
コイルは独自の含浸接着剤で構成され、信頼性を高められています。

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