その他の製品 一覧

ファイバーストレッチャー “FST-001”

General Photonics

最大3mmまでの光ディレイ範囲に対応するピエゾ駆動のファイバストレッチャです。アナログ信号もしくは12-bit のTTL信号で制御可能です。

Detail

5軸ステージ付き3D測定顕微鏡 S neox Five Axis

SENSOFAR Metrology

S neox Five Axis 光学式3次元測定装置は、高精度回転ステージモジュールと、S neox 3D測定顕微鏡の高度な検査および解析機能を組み合わせています。これにより、指定された位置・角度で自動的に3D表面形状測定を行い、完全な3D形状計測が可能になります。

Detail

ヘキサポッド 6軸平行キネマティックポジショニングシステム

Newport

6軸(X、Y、Z、ピッチ、ロール、ヨー)動作。複雑なモーションコントロールに高い耐荷重と高精度を提供する6軸自由度ステージ。

Detail

半導体レーザー(LD)用コントローラ

ILX Lightwave (Newport Brand)

ILX Lightwave (Newport Brand) は革新的で精度の高い装置、テストシステム、アクセサリを、充実のラインナップで提供しています。

Detail

キセノン/ハロゲン・イルミネータ“APEX 2”

Oriel (Newport Brand)

簡単操作、アライメント不要、小型、ターンキー操作の完全一体型システム

Detail

レーザー・スペクトラム・アナライザ(LSA) “771シリーズ”

Bristol Instruments

高繰り返しパルスとCWの両レーザー対応。波長精度 最高±0.0001nm。1台で波長測定&スペクトル分析が可能。可視光(VIS)から中赤外(MIR)領域まで (375nm to 12μm) の波長域をカバー。マイケルソン干渉計ベース。

Detail

レーザー超音波非破壊検査装置

Intelligent Optical Systems

レーザー超音波による非接触非破壊検査/非接触厚さ測定

Detail

NanoTest Xtreme 高温対応ナノインデンター

Micro Materials

-100~1000℃の温度範囲で薄膜の機械特性(硬度、ヤング率等)を測定できる唯一の装置

Detail

GaAs式 光ファイバ温度計 Micronor

Micronor,Photon Control

micronor は、厳しい環境下での温度測定を可能にするGaAs式光ファイバ温度センサを提供します。TSシリーズの光ファイバ温度プローブは、広い温度範囲、本質的安全性、および非侵襲的な使用に加えて、高周波(RF)やマイクロ波のある環境でも正確に温度を測定できます。光ファイバー温度プローブは、-200℃~+300℃の幅広い温度範囲で動作し、厳しい腐食環境にも耐えることができます。

Detail

UV/熱/複合ナノインプリント装置 RubiQ™

SCIVAX

ナノインプリントにおける樹脂硬化方式/プレス⽅式/加圧方式の組み合わせを選択可能。かつレトロフィットを可能にしたR&D専用装置。ナノインプリント・プロセス応用を伴う研究開発を加速します。

Detail

レーザー回折式 粒度分布測定装置 HELOS

Sympatec

乾式測定における試料分散性能と測定再現性に優れており、凝集しやすい試料でも安定して測定できます。世界各国に多数の納入実績があり、製薬、化学、磁性体、食品などの様々な業界で採用されています。(測定範囲: 0.1~3500 µm)

Detail

AO周波数シフタ(音響光学周波数シフタ)

Isomet

光ヘテロダイン計測等に便利な小型の周波数シフタ。複数のデバイスのカスケード接続も可能

Detail

偏波感受型バランスフォトディテクタ “PBPD-001”

General Photonics

PBPD-001 は偏波に対する感受性を持った差分フォトディテクタです。低ノイズかつ高いコモンモードノイズ除去比、高コンバージョンゲイン、ワイドバンド、コンパクトな使いやすいモデルです。

Detail

3D形状・表面粗測定 ソフトウェアパッケージ

SENSOFAR Metrology

3D形状や表面粗さを測定、解析するための直感的で使いやすいソフトウェアパッケージを装置とセットで提供しています。

Detail

PDL/IL マルチメータ “PDL-201”

General Photonics

偏光依存損失 (PDL), 挿入損失 (IL), デバイスの光パワーをわずか30ミリ秒で同時測定。低/高の両PDL値を測定可能。

Detail

PIV カメラ

Oxford Lasers

感度と解像度、撮影速度に特徴のあるラインナップをご用意。計測対象に合わせて多彩なPIVカメラから選択可能

Detail

廉価版テラヘルツ量子カスケードレーザー(THz-QCL)TeraCascade100  

Lytid

テラヘルツ実験スタートに最適。高出力モデルTC1000の廉価版。出力0.1mW以上 at 3.2THz。窒素冷却

Detail

光ディスク原盤露光装置“MRYシリーズ”

日本レーザー

375nmや405nmの半導体レーザーを搭載した新方式の光ディスクの露光装置

Detail

偏波の計測装置(偏波消光比・偏波依存損失・挿入損失・偏波クロストーク)

General Photonics

偏波関連の計測装置 / 分析装置をラインナップ。

Detail

MicroSense 6800 シリーズ 静電容量変位センサ

MicroSense

シリーズ最高分解能・高速応答モデル
高速変位を高精度で測定

Detail

テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER”

HÜBNER

テラヘルツ分光を用いた日々のルーチン測定向けの簡単・使い易い非接触・非破壊分析装置。周波数範囲 0.1~4.0 THz、最大ダイナミックレンジ 70 dB。

Detail

差分フォトディテクタ “BPD-003”

General Photonics

OCTやセンシングのSN比を改善するためには、高性能なバランスフォトレシーバが必要です。
BPD-003は最大300MHzまでの帯域に対応します。OEM用に特別設計された低価格、小型、高性能な製品です。

Detail

ラージエリア 3D形状測定センサー S wide

SENSOFAR Metrology
[新商品]

デジタルマイクロスコープと高分解能形状測定装置両方の長所を提供。ボタンを1回押すだけで測定を開始できる非常に使い易いデザイン。

Detail

厚膜ポジティブ/ネガティブ・トーン・フォトレジスト

micro resist technology
[新商品]

400nm近傍の波長に感度を有する厚膜フォトレジスト。マスクレス・リソグラフィのアプリケーションを拡げます

Detail
TOPに戻る