その他の製品 一覧

PMD/PDL/SOPエミュレーション装置

General Photonics

偏光モード分散(PMD)、偏光依存損失(PDL)、SOP(偏光状態)の計測・評価に

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スペックルパターンのスクランブラ “MMS-201”

General Photonics

スペックルパターンのランダム化技術により、マルチモードファイバの出力を均一化

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高出力高精度 ピコ秒ダイオードレーザードライバー Taiko PDL M1

PicoQuant

パワフルで精密なピコ秒ダイオードレーザードライバー、5年間保証の安心品質。繰り返し周波数 1 Hz ~ 100 MHz。バーストパターン、パルス&CWモードを設定可能

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PIV カメラ

Oxford Lasers

感度と解像度、撮影速度に特徴のあるラインナップをご用意。計測対象に合わせて多彩なPIVカメラから選択可能

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パワーセンサ、エネルギーセンサ

Ophir

測定パワーμW~数十kW、エネルギーpJ~数十J、対応波長UV~IR、CW&パルス等様々な光源に対応

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超音波顕微鏡/超音波映像装置 “V シリーズ”

Kraemer Sonic Industries (KSI)

超音波で物体内部を高精細/高感度に検査・観察

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画像解析式 粒度/速度分布 測定ソフトウエアー“VisiSizer SOLO”

Oxford Lasers

実際の粒子映像を使用して、粒子サイズや速度とその分布を正確に自動測定

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MicroSense 静電容量変位センサ一覧

MicroSense

MicroSense LLCの静電容量センサを紹介。全カタログをまとめてダウンロードできます。

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AFM(原子間力顕微鏡)取り扱い製品一覧

[オススメ]

日本レーザーでは用途に応じて様々なAFM(原子間力顕微鏡)を取り揃えております。

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ピエゾ駆動光学マウント

piezosystem jena

種々のコンポーネントやアプリケーションに柔軟に対応できる製品を多数ラインナップ

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高出力レーザー用非接触ビームプロファイラ“BeamWatch”

Ophir

BeamWatch™ ビームウォッチ 非接触・集光スポット径・ビーム位置計測ビームモニタリングシステム。測定パワー範囲 400W – 100kW。波長 980-1080 nm

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フォトンカウンティング 光子計数とタイミング (蛍光測定・量子相関)

PicoQuant

PicoQuantのフォトンカウンティング(光子計数)向けの幅広い製品には、時間相関シングルフォトンカウンティング(TCSPC)とイベントタイミング用の高性能モジュール、シングルフォトンセンシティブ検出器、および(時間分解)蛍光測定と量子相関の評価用の専用分析ソフトウェアが含まれます。

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ビームプロファイラ装置一覧

Duma Optronics

CW&パルス対応の高分解能CCDタイプと低コスト&広帯域のナイフエッジ式

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超小型 高分解能 フォーカスモジュール “M3-FS, M3-F ”

New Scale Technologies

超小型で高分解能(0.5μm)のレンズ位置制御と双方向再現性を実現したフォーカスモジュールです。クローズドループ制御で外部コントローラボードが不要。機器への組込みが容易なモジュールです。

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AFMプローブ 高分解能 Hi’Res-C

MikroMasch

Hi’Res-Cプローブはシリコンプローブよりも汚染が少なく、より多い枚数の高解像度スキャンの実行が可能です。Hi’Res-Cは微小領域 (< 250 nm) の走査や、平坦なサンプル (Ra < 20 nm) の測定で顕著に能力を発揮します。*本プローブは先端の曲率半径が小さいため、先端とサンプルの相互作用力は小さくなります。

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ファイバーストレッチャー “FST-001”

General Photonics

最大3mmまでの光ディレイ範囲に対応するピエゾ駆動のファイバストレッチャです。アナログ信号もしくは12-bit のTTL信号で制御可能です。

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独自の単一分子感度 時間分解型共焦点蛍光顕微鏡 MicroTime 200

PicoQuant

独自の単一感度を持つ時間分蛍光顕微鏡。最大で6つの個別チャンネル検出が可能。蛍光寿命イメージング(FLIM)、FLIM/FRET、深部組織FLIM、PIE、FCS/FCCS、FLCS/FLCCS、二重焦点FCS、スキャニングFCS、異方性、バースト解析等が可能。2DおよびDイメージング用のピエゾスキャンに対応。

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attocube ナノ位置決めステージ概要

高精度ピエゾ駆動モータおよび位置決め製品。超高真空・非磁性対応。ナノオーダーの高精度アライメント用途など産業分野での高精度マシニングから、要件の厳しい最先端の研究アプリケーションにも好適。

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高精度・多層膜・非接触 厚み計 157/137シリーズ

Bristol Instruments

※デモ機あり、サンプル測定可能 高精度 (±0.1 μm)、12μm から 80mmの広い範囲が測定可能な膜厚計(厚み計)です。独自の非接触光学技術を採用。硬質材料と軟質材料の両方を、損傷や変形なく厚さ測定をすることができます。最大31層の厚みを同時に測定することが可能です。

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短波長赤外カメラ SIRIS

Lytid

高性能短波長赤外カメラ。超低ノイズ&高いダイナミックレンジ。幅広い用途で使用可能なInGaAsセンサベースSWIR。200 fps。液体窒素不要。

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真空対応 高精度位置センサ

MicroSense

高真空・超高真空対応プローブ。低アウトガス・高安定性・非磁性対応可能。

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クロスコリレータ SEQUOIA

Amplitude Technologies

市販品で最高のダイナミックレンジを持つ3次フェムト秒クロスコリレーター。高ピークパワー・フェムト秒レーザーシステムのレーザーパルス形状の厳密な制御に理想的。

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1342nm LD励起固体レーザー “IXDICEシリーズ”

Xiton Photonics
[新商品]

独自の1342nmの繰返し率固体ダイオード励起Qスイッチレーザー。365日24時間稼働の産業用途に適した製品です。米国CDRH規制への準拠

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ファイバカップル・テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER F”

HÜBNER

非破壊・非接触検査ができるプラグ&プレイのテラヘルツ・スペクトロメータ。周波数範囲 0.1~2.5 THz、最大ダイナミックレンジ 54 dB

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