その他の製品 一覧

高出力レーザー用非接触ビームプロファイラ“BeamWatch”

Ophir

BeamWatch™ ビームウォッチ 非接触・集光スポット径・ビーム位置計測ビームモニタリングシステム。測定パワー範囲 400W – 100kW。波長 980-1080 nm

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3D測定顕微鏡 高速・多機能モデル ”S neox”

SENSOFAR Metrology

新しい S neox は、性能、機能、効率、デザインの全ての面で既存の光学3Dプロファイリング顕微鏡を凌駕する、クラス最高の面形状計測システムです。

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FT-IRスキャナ“8035シリーズ”

Oriel (Newport Brand)

モジュラーユニットを選択・構成することによりアプリケーションに合わせて柔軟に構成可能

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PIV アクセサリ

Oxford Lasers

VisiVector PIVシステムには、PIV計測を行うための様々なアクセサリーがあります

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MicroSense Mini 静電容量変位センサ

MicroSense

コンパクトなモジュールで優れた性能を実現
装置内への組込み専用モデル

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レーザパワーメータ, エネルギーメータ(ディスプレイ)

Ophir

オフィール社の豊富なセンサに対応するディスプレイまたはコンピュータインターフェース。業界最高の校正精度、高性能、優れた操作性。使い勝手抜群のユーザーフレンドリーなレーザパワー/エネルギ測定用ソフトウェア。サンプルコマンド公開により、COMオブジェクトやLabVIEWなどユーザーが自由かつ容易にプログラミング可能。

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コンパクト・低価格原子間力顕微鏡 AFM “CrabiAFMシリーズ”

OME Technology

CrabiAFMは業界最低価格原子間力顕微鏡(AFM)です。リサーチ用途、ナノ教育、またはすでにAFM経験をお持ちの方のサブ機として最適です。

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超伝導ナノワイヤ単一光子検出器(SNSPD) Single Quantum Eos

Single Quantum

Single Quantum社 独自のナノワイヤー構造と液体ヘリウム不要の革新的クローズドサイクル冷却システム採用。近赤外領域で比類のない高い効率 >85%と低いタイミングジッタ <15ps (高い時間分解能)。1-24チャンネル。

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ラージエリア 3D形状測定センサー S wide

SENSOFAR Metrology
[新商品]

デジタルマイクロスコープと高分解能形状測定装置両方の長所を提供。ボタンを1回押すだけで測定を開始できる非常に使い易いデザイン。

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MicroSense 4800 シリーズ 静電容量変位センサ

MicroSense

優れた直線性と温度特性
静的な変位測定のスタンダードモデル

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多点温度/歪み測定 FBG式光ファイバセンサ Fisens

Photon Control

温度や歪みを測定する多点分散型のセンシングが可能です。高温、高電圧、電磁場のある厳しい環境でも使用できます。任意の位置にFBGを連装できる柔軟なカスタマイズ可能。最高の性能と超低コストを両立した革新的なソリューションを提供します。

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ビーム位置測定装置一覧

Duma Optronics

シンプル・高速・低コスト。お手持ちのPCでレーザービームをリアルタイム制御

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光ディスク原盤露光装置“MRYシリーズ”

日本レーザー

375nmや405nmの半導体レーザーを搭載した新方式の光ディスクの露光装置

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INCA 多重分光近接ビーコン

DRS Daylight Solutions

VIS、NIR、SWIR、MWIR、LWIRバンド対応、長距離で検出可能な高輝度マルチスペクトル光信号を提供します。

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テラヘルツ検出器(高速・高感度パイロセンサ)TeraPyro

Lytid

コンパクトで使いやすい高速・高感度テラヘルツセンサー。スペクトル範囲 0.1 – 30 THz。高速応答 ~2.5kHz。高感度(~2 kV/W)、低ノイズ。

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レーザーアブレーション装置

Elemental Scientific Lasers (ESL)

高速&高精度分析。目的に最適なレーザーアブレーションを最高の性能で提供。

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NanoTest Xtreme 高温対応ナノインデンター

Micro Materials

-100~1000℃の温度範囲で薄膜の機械特性(硬度、ヤング率等)を測定できる唯一の装置

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偏光スタビライザ “POS-202 & POS-203”

General Photonics

入力された偏光のSOPの高速変動を安定化して出力。2ポートまたは3ポート。

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電動垂直ステージ(自動垂直ステージ)

Newport

高耐荷重・ロングトラベルタイプから高精度タイプまで幅広い精密垂直ステージをラインナップ

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ピエゾコントローラ/アンプ

piezosystem jena

ピエゾ製品の分解能と精度を極限まで高める、高性能コントローラ及びアンプ。用途に応じて最適な製品を選択可能

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EasyTau2 蛍光減衰データ分析ソフトウェア

PicoQuant

PicoQuant社製 TCSPC製品による蛍光減衰及び異方性測定のためのパワフルな包括的分析ソフトウェア

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AOディフレクタ(音響光学ディフレクタ)

Isomet

レーザービームスキャン(ランダム位置、ラインスキャン、連続スポットディフレクション)に最適なRF周波数制御ディフレクタ。高効率。スキャンレート 最高 250 kHz

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5軸ステージ付き3D測定顕微鏡 S neox Five Axis

SENSOFAR Metrology

S neox Five Axis 光学式3次元測定装置は、高精度回転ステージモジュールと、S neox 3D測定顕微鏡の高度な検査および解析機能を組み合わせています。これにより、指定された位置・角度で自動的に3D表面形状測定を行い、完全な3D形状計測が可能になります。

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非球面放物面鏡

Space Optics Research Labs

テレスコープ・ビームエキスパンダー・コリメータなどに最適な高い面精度

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