AFM 原子間力顕微鏡 Nano-Observer 2 ナノオブザーバー 2

CSInstruments

新商品

最先端のAFM(原子間力顕微鏡)Nano-Observer 2は、柔軟性、卓越した性能、使いやすい操作性を兼ね備えつつ、老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を実現。ナノスケールのイメージングと特性評価のための幅広い機能を備えています。電気特性測定(KFM、C-AFM)、脆いサンプルも測定可能なソフトICモードも実現。

AFM 原子力間顕微鏡 ナノオブザーバー2の特長

オートスキャンソフトウェア: より簡単で高速な自動スキャン

  • オートアプローチ
    自動化された高速で穏やかなアプローチ
  • オートゲイン
    リアルタイムのアクティブAFMフィードバックゲイン
  • セットポイント条件
    プリセットのセットポイント
    (ソフト、ミディアム、ハードインタラクション用)
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先進技術の搭載

  • ロックイン機能を内蔵した24ビットコントローラー
  • 位相検出とピエゾ応答モードの測定精度の向上
  • HD-KFM、レジスコープ、ソフト間欠接触モードによる高解像度イメージング
CSI_NAno-Observer2_58ed36_bee191 レジスコープHD-KFM_CSI_Nano-Pbserver2_58ed36_30ea57CSI_Nano-Observer2_Soft IC Mode (1)

ユーザーフレンドリーな設計

  • プリポジションチップシステムを備えたコンパクトなAFMヘッド
  • 手動レーザーアライメントを排除
  • 効率的なプレアプローチプロセスのための先端/サンプルエリアのトップビューとサイドビュー

高性能スキャニング

  • 低ノイズ、高解像度スキャン機能
  • スキャンヘッドを交換することなく、大面積から小面積のスキャンが可能
  • すべてのスキャンサイズで一貫した解像度

ヒドロキシチオセラン酸 (C36) スキャンサイズ 500×500 nm

アプリケーション事例

  • 材料科学
  • 半導体研究
  • 高分子研究
  • 生体試料
  • 二次元材料特性評価
  • 太陽光発電
  • 電気化学
  • 腐食研究
  • ナノメカニカル分析

スキャナ仕様

  • XYスキャン範囲 100 μm × 100 μm (±10%)
  • Zレンジ 15 μm (±10%)
  • XY分解能 < 0.1 nm
  • Z分解能 < 0.05 nm

光学検出システム

  • レーザータイプ 低コヒーレンスレーザーダイオード
  • 検出器 4象限フォトダイオード
  • レーザースポット径 < 30 μm

力測定

  • 最小検出力 < 10 pN
  • 力の分解能 < 1 pN

イメージングモード

  • 接触モード
  • タッピングモード(振幅変調)
  • 非接触モード
  • HD-KFM III (高精細ケルビン力顕微鏡)
  • レジスコープIII (抵抗マッピング)
  • ソフト間欠接触(ソフトIC)モード
  • ソフトMEKA(機械的特性マッピング)
  • ソフトレジスコープ
  • PFM (ピエゾ応答力顕微鏡)
  • SThM(走査型熱顕微鏡)

電気測定

  • レジスコープの測定範囲 10²~10¹²オーム
  • 電圧範囲:±10 V(調整可能)

コントローラーとデータ収集

  • コントローラ分解能:24ビット
  • 内蔵ロックインアンプ 最大6 MHz
  • 最大データポイント 8192 × 8192
  • スキャン速度:最大10ライン/秒(256×256ピクセル時)

サンプルステージ

  • サンプルサイズ 最大直径50 mm
  • サンプル重量 最大100 g
  • モーター駆動サンプルアプローチ 5 mmレンジ、分解能1 μm

環境制御

  • 温度範囲:-40℃~300℃(オプションの加熱/冷却ステージ使用時)
  • 湿度制御: オプション、範囲はモジュールにより異なる
  • 液体セル:流体環境でのイメージングに使用可能
  • ガス制御: オプション、雰囲気制御実験用

電気化学AFM (EC-AFM)

  • 電気化学セル:3電極構成
  • 電位範囲: ±10 V(代表値、変動する可能性あり)
  • 電流範囲: pA~mA

ソフトウェア

  • オペレーティングシステムの互換性 ウィンドウズ10/11
  • オートスキャン機能 スリークリック操作による自動イメージング
  • リアルタイムデータ処理と表示
  • 高度なモード制御:HD-KFM、レジスコープ、ソフトICなど
  • データ解析ツール: フォースカーブ解析、粗さ計算など
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