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AFM 原子間力顕微鏡 Nano-Observer 2 ナノオブザーバー 2


最先端のAFM(原子間力顕微鏡)Nano-Observer 2は、柔軟性、卓越した性能、使いやすい操作性を兼ね備えつつ、老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を実現。ナノスケールのイメージングと特性評価のための幅広い機能を備えています。電気特性測定(KFM、C-AFM)、脆いサンプルも測定可能なソフトICモードも実現。
AFM 原子力間顕微鏡 ナノオブザーバー2の特長
オートスキャンソフトウェア: より簡単で高速な自動スキャン
先進技術の搭載
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ユーザーフレンドリーな設計
- プリポジションチップシステムを備えたコンパクトなAFMヘッド
- 手動レーザーアライメントを排除
- 効率的なプレアプローチプロセスのための先端/サンプルエリアのトップビューとサイドビュー
高性能スキャニング
- 低ノイズ、高解像度スキャン機能
- スキャンヘッドを交換することなく、大面積から小面積のスキャンが可能
- すべてのスキャンサイズで一貫した解像度
ヒドロキシチオセラン酸 (C36) スキャンサイズ 500×500 nm
アプリケーション事例
- 材料科学
- 半導体研究
- 高分子研究
- 生体試料
- 二次元材料特性評価
- 太陽光発電
- 電気化学
- 腐食研究
- ナノメカニカル分析
スキャナ仕様
- XYスキャン範囲 100 μm × 100 μm (±10%)
- Zレンジ 15 μm (±10%)
- XY分解能 < 0.1 nm
- Z分解能 < 0.05 nm
光学検出システム
- レーザータイプ 低コヒーレンスレーザーダイオード
- 検出器 4象限フォトダイオード
- レーザースポット径 < 30 μm
力測定
- 最小検出力 < 10 pN
- 力の分解能 < 1 pN
イメージングモード
- 接触モード
- タッピングモード(振幅変調)
- 非接触モード
- HD-KFM III (高精細ケルビン力顕微鏡)
- レジスコープIII (抵抗マッピング)
- ソフト間欠接触(ソフトIC)モード
- ソフトMEKA(機械的特性マッピング)
- ソフトレジスコープ
- PFM (ピエゾ応答力顕微鏡)
- SThM(走査型熱顕微鏡)
電気測定
- レジスコープの測定範囲 10²~10¹²オーム
- 電圧範囲:±10 V(調整可能)
コントローラーとデータ収集
- コントローラ分解能:24ビット
- 内蔵ロックインアンプ 最大6 MHz
- 最大データポイント 8192 × 8192
- スキャン速度:最大10ライン/秒(256×256ピクセル時)
サンプルステージ
- サンプルサイズ 最大直径50 mm
- サンプル重量 最大100 g
- モーター駆動サンプルアプローチ 5 mmレンジ、分解能1 μm
環境制御
- 温度範囲:-40℃~300℃(オプションの加熱/冷却ステージ使用時)
- 湿度制御: オプション、範囲はモジュールにより異なる
- 液体セル:流体環境でのイメージングに使用可能
- ガス制御: オプション、雰囲気制御実験用
電気化学AFM (EC-AFM)
- 電気化学セル:3電極構成
- 電位範囲: ±10 V(代表値、変動する可能性あり)
- 電流範囲: pA~mA
ソフトウェア
- オペレーティングシステムの互換性 ウィンドウズ10/11
- オートスキャン機能 スリークリック操作による自動イメージング
- リアルタイムデータ処理と表示
- 高度なモード制御:HD-KFM、レジスコープ、ソフトICなど
- データ解析ツール: フォースカーブ解析、粗さ計算など
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