TRICLOPS|400–4500 nm 超広帯域フーリエ変換型分光器
NIREOSの分光器「TRICLOPS」は、400~4500 nmの超広帯域に対応するコンパクトなフーリエ変換型分光器です。時間領域フーリエ変換方式を採用し、VIS-NIR-SWIR-MIRの幅広い波長域で、光源の発光スペクトルや材料の吸収・透過・反射スペクトルを測定できます。光源評価や材料分析をはじめ、半導体、光学材料、フィルム、食品、繊維など幅広い分野でご利用いただけます。

TRICLOPSは、400~4500 nmという広い波長範囲を1台で測定できるコンパクトなFT(フーリエ変換)分光器です。時間領域フーリエ変換(Time-Domain Fourier Transform)技術ちコモンパス干渉計(Geminiのページをご参照)を採用し、光源の発光スペクトル測定や材料の透過・反射・吸収スペクトルの測定にも対応します。
- 400–4500 nmの超広帯域スペクトル測定
- VIS / NIR / SWIR / MIRを1台でカバー
- 10 cm−1のスペクトル分解能
- 最大2スペクトル/秒の取得速度
- ファイバー入力/コリメート光入力に対応
- Si、InGaAs、TE冷却PbSeの3種類の検出器を搭載
- コンパクト・軽量な筐体
- USB-C接続、Windows GUIによる簡単操作
TRICLOPSは、広い波長範囲を一度に測定したい用途に適したフーリエ変換型分光器です。一般的な小型分光器では、可視~近赤外、近赤外~短波長赤外など、測定波長域ごとに分光器を選択する必要があります。一方、TRICLOPSは400~4500 nmをカバーすることで、可視光から中赤外までのスペクトル情報を1台で取得できます。特に複数の波長域をまたいで材料や光源を評価したい場合に適しています。特に以下の用途に最適です:
- 光源・ランプ・発光体のスペクトル測定
- 材料の透過・反射・吸収測定
- プラスチック・フィルム・ポリマーの評価
- 光学コーティングの評価
- 半導体・光学材料の研究開発
- 食品・農産物などの非破壊分析
- 研究開発から品質管理までの分光計測
FT(フーリエ変換)方式による分光測定
TRICLOPSは、回折格子で光を波長ごとに分離する一般的な分散型分光器とは異なり、干渉計で取得したインターフェログラムをフーリエ変換することでスペクトルを取得します。NIREOS独自の時間領域フーリエ変換技術と、GEMINIコモンパス干渉計を採用しており、広い波長範囲にわたるスペクトルを高い波長精度・再現性で測定できます。
発光・透過・反射・吸収を1台で
- TRICLOPSは、光源の発光スペクトル測定だけでなく、各種材料の分光測定にも使用できます。
- 発光スペクトル:LED、ランプ、レーザーなどの光源からの光を入力し、スペクトルを測定。
- 透過スペクトル:フィルム、樹脂、光学材料などの透過特性を400~4500 nmで評価。
- 反射スペクトル:材料表面や光学コーティングの反射特性を測定。
- 吸収スペクトル:材料固有の吸収特性を広い波長範囲で評価。
TRICLOPS分光器 分光分解能
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| TRICLOPS分光器は、光源の発光スペクトル測定、材料の光学特性評価、光学コーティングの評価など、さまざまな分光測定に対応します。コンパクト・軽量な筐体とUSB-C接続による優れた可搬性を備え、研究室での測定から産業分野における材料評価・品質管理まで、幅広い用途で活用できます。 |
透過測定例
フーリエ変換技術により、広い波長範囲にわたって高い波長精度と優れた再現性を実現します。
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広帯域だからこそ分かる材料の違い
材料の光学特性は、可視光だけでなく近赤外・短波長赤外・中赤外にも現れます。TRICLOPSでは400~4500 nmを1台で測定できるため、可視域だけでは得られない赤外域の情報まで含めて材料を評価できます。
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| 項目 | 仕様 |
|---|---|
| 波長範囲 | 400–4500 nm |
| スペクトル分解能 | 10 cm−1 |
| スペクトル取得速度 | 0.5–2 Hz |
| 光入力 | ファイバー結合/コリメート |
| ファイバー入力 | コア径 ≤1 mm、NA ≤0.33(f/1.5) |
| コリメート入力 | φ10 mm アパーチャ |
| 検出器 | Si / InGaAs / TE冷却 PbSe |
| インターフェース | USB-C 2.0 |
| 寸法 | 180 × 160 × 85 mm |
| 重量 | 2 kg |
| OS | Windows 10/11 |
※仕様はメーカーにより変更される場合があります。



