シリコンフォトニクスやフォトニック集積回路（PIC）デバイスの欠陥を高精度に検出する自動光学検査（AOI）システム。機械学習アルゴリズムを活用し、ウェーハおよびチップレベルでのフォトニックデバイス検査を自動化します。

シリコンフォトニクス・光デバイス向けの高精度光計測装置シリーズ。光ベクトル解析による損失・分散・偏波測定から、μm精度の光リンク診断・断点検出まで、研究開発から製造検査までを高速・高精度にサポートします。

シリコンフォトニクスおよびフォトニック集積回路（PIC）デバイスの評価に対応する光電統合ウェーハテストシステム。光学測定と電気測定を統合し、フォトニックチップのウェーハレベル評価を高精度かつ自動化します。

シリコンフォトニクスおよびフォトニック集積回路（PIC）の設計段階から、ウェーハレベル試験を組み込めるテスト設計モジュールです。レイアウト設計ソフトに統合され、TRC（Test Rule Check）機能により光ポート・電気ポート配置を自動検証し、フォトニックデバイス開発の効率化とテストコスト削減に貢献します。

フォトニックデバイスやフォトニック集積回路（PIC）の評価に対応する自動チップテストシステム。自動光学アライメントとプローブカード位置合わせにより、フォトニックチップの高精度かつ高効率な自動検査を実現します。

フォトニックデバイスの光結合工程を自動化する2種類のパッケージングシステム。光ファイバー結合(FA)とレンズ結合の両方式に対応し、研究開発から量産まで高精度なアライメントを実現します。