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12インチ 300 mm サンプル対応 AFM-IR装置 PiFM / PiF-IR Vista300
サンプルは12インチ 300 mm × 300 mm まで対応のAFM。ナノ加工における研究開発および故障解析に最適な最先端の ナノ化学測定装置。業界トップクラスの自動化を実現したAFMです。
仕様
ステージと走査 | サンプルステージ移動領域:300mm x 300mm square |
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走査サイズ:90 μm x 90 μm | |
デュアル Z フィードバック: 600 nm 高速スキャナー付 12 μm z-スキャナーが高帯域かつ広いz軸範囲の両方で走査 | |
機能性 | イメージングモード:Non-contact AFM, PiFM, KPFM, cAFM, nano DMA, FvD (力 vs 距離) マッピング. |
分光モード:PiFm-IR, FvD | |
PiFレーザーオプション:QCL (770 – 1840, 1995 – 2395 cm−1), OPO/DFG (590 – 2050, 2250 – 4400, 5000 – 7000 cm−1). | |
デプスプローブ(IR):表面モードでは20 nm、バルクモードでは100 nm 超 | |
物理的要件 | システム寸法:1.1 m × 1.1 m × 4.9 m (3’ 7.3” × 3’ 7.3”× 5”) |
筐体:400mm×200mmのアクセスドアにより、熱ドリフトを最小限に抑えます。筐体はケーブルを外すことなく取り外し が可能です。 |
AFM-IR PiFM の仕組みと原理
PiFM ナノスケール赤外分光イメージング装置 [光誘起力顕微鏡]仕組みと応用例
PiFM・PiF-IR機器
AFM-IR 装置 Vista 75, IR-PiFM / PiF-IR
AFM-IR装置 Vista One, IR-PiFM / PiF-IR
8インチ(200 mm)ウエハ対応 AFM-IR装置 Vista 200 PiFM / PiF-IR
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Galaxy Dual AFMコントローラー (CSInstruments社)
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